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本发明提供一种纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法与系统，获取纯锡镀层元器件中锡须生长长度对数均值、对数标准差、锡须生长面密度均值以及面密度标准差数据，拟合出多项式拟合公式，计算锡须面密度均值、标准差、锡须生长长度对数均值以及对数标准差，分别进行第一次和第二次蒙特卡罗运算分析，得到锡须长度数据，根据锡须长度数据和预设失效判据，计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数，计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率。整个过程中，从失效物理的角度，分别考虑锡须生长的面密度和长度值，并基于蒙特卡罗算法，分别进行迭代运算，兼顾锡须生长的失效物理因素，能对各类纯锡镀层元器件中锡须生长失效进行快速、准确预测。
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本发明涉及铁路器件检修技术领域，且公开了一种铁路提速道岔岔枕失效螺栓重锚的检修方法，包括以下步骤：S1：加热，用加热抢对准检修设备的棱锥、开槽条和固定柱，对其进行加热，加热到220‑250摄氏度；S2：开槽，把加热后的检修设备插入螺栓套管中，匀速按压按压盘，此时导向盘起到导向作用；S3：降温，用水对螺栓套管和检修设备进行降温；S4：取出检修，把检修设备再次插入螺栓套管中，然后将转动杆插入插接孔中，把螺栓套管取出，进行检修。本发明整个操作过程比较简单，而且通过棱锥的设置能够起到很好的开槽效果，不用重复开槽，按压盘的设置也方便按压和取出，省时省力。
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一种快速预测高温金属部件受热面失效趋势的手持式探头：探头形如手枪状，枪身内前部从上往下设有等离子体光谱收光透镜(3)和脉冲激光聚焦透镜(2)，两者焦点重合于一点，脉冲激光聚焦透镜后设有激光头(1)，激光头的开关(6)设在手柄(5)上，等离子体光谱收光透镜后的焦点处设有带光纤(4)的光纤头，光纤头的收光方向与激光头的出光方向之间成一定角度，光纤和电源线(8)套有保护套管(9)后外接处理分析模块和电源。本探头利用激光诱导击穿光谱技术预测分析受热面材料的失效趋势，避免了传统割管检测造成的损伤，实现了对受热面材料的无损、快速预测，该探头结构简单，操作灵活，携带方便。
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本发明提供了一种用于发光器件加工过程中的防失效定位检验方法及系统，主要用于在发光器件制程中对倒装发光芯片位置在可能发生变化的工序后进行检测，其中包括：在倒装发光芯片转移至基板上后对倒装发光芯片进行检测、在倒装发光芯片进行回流焊后对倒装发光芯片进行检测；为了满足精确监控的条件，还在发光器件的制程中增设部分特殊工艺以及对结构进行调整，具有位置检测精度高等优点。
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本发明公开了一种红外温度计，包括热电偶冷端、热电偶热端、红外窗口、参照发射体以及检测电路；参照发射体与热电偶冷端接触，参照发射体可移动至红外窗口的接收面前方；热电偶热端置于红外窗口的出射面前方；检测电路根据热电偶冷端的温度以及预先存储的参照发射体的能量数据库判断热电偶热端接收到的红外辐射能量是否合理，当热电偶热端接收到的红外辐射能量合理时，判定红外温度计失效。相应地，本发明还公开了一种红外温度计的失效检验方法。本发明可以判断红外温度计是否失效，避免测量不准确，且这种方式无需等待，也不需要增加功耗。
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本实用新型公开了一种电梯光幕失效自检装置，所述装置包括电梯控制系统、光幕发射端、光幕接收端、轿厢通讯板和光幕检测开关元件，所述电梯控制系统与轿厢通讯板连接，所述轿厢通讯板与光幕接收端连接，所述光幕检测开关元件分别与轿厢通讯板和光幕发射端连接；所述电梯控制系统，用于检测当前电梯的状态，以及判断是否有光幕阻挡信号；所述光幕发射端发射光束至光幕接收端，用于检测电梯轿门之间是否有阻挡物；所述轿厢通讯板，用于根据电梯控制系统的命令断开或复位光幕检测开关元件，以及传输光幕状态信号；所述光幕检测开关元件，用于检测光幕是否失效。本实用新型通过预检测的方式，能及时得知光幕的工作情况。
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本发明公开了一种电梯光幕失效自检方法及装置，所述方法包括：通过电梯控制系统检测当前电梯的状态，当检测到电梯在停靠状态、电梯门在关门状态、电梯无召唤信号时，判断在关门状态下是否有光幕阻挡信号，当确认无光幕阻挡信号后，发送命令至轿厢通讯板断开光幕检测开关元件，光幕检测开关元件断开光幕发射端的电源；此时，光幕接收端输出光幕状态信号至轿厢通讯板，轿厢通讯板将接收到的光幕状态信号发送至电梯控制系统，当电梯控制系统接收到的光幕状态信号为光幕阻挡信号时，判断本次光幕测试正常，然后发送命令至轿厢通讯板复位光幕检测开关元件，使电梯控制系统接收到光幕正常的信号。本发明通过预检测的方式，能及时得知光幕的工作情况。
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本发明公开了一种基于视频序列影像特征分析的云台移动与复位检测算法，主要采用模板匹配准则，即如果云台发生移动或变焦，则在一段时间内模板匹配必然会失效，同理，如果云台复位，则在一段时间内模板会重新匹配成功；包括两大步骤：1)在背景图像中搜索定位合适的模板，选择匹配准则并计算偏移度；2)判断云台移动与复位。本发明算法可以较准确的检验出云台移动的情况，从而提高在云台移动摄像机条件下系统的识别率和稳定性。
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本申请公开了一种车辆功率模块的失效预测方法，用于车辆，失效预测方法包括：计算统计范围内车辆发生功率模块失效的第一概率；计算在车辆发生功率模块失效的条件下，失效发生在当前统计里程子区间的第二概率；计算车辆超过当前统计里程子区间的第三概率；根据第一概率、第二概率和第三概率，计算在当前统计里程子区间的条件下，车辆发生功率模块失效的第四概率；根据第四概率对当前统计里程子区间内的非失效车辆进行功率模块失效预测。本申请实施方式中，能够预测未来量产的车辆可能发生的失效情况，及时做出售后响应，同时对车辆生产线进行检查，完善生产线可能存在的缺陷，减少失效情况的发生概率。本申请还公开了一种失效预测装置和电子设备。
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本发明提供了一种用于LED失效检测的研磨件，包括主体；主体具有在竖直方向上相正对设置的研磨面和观察面；在研磨面上设置有若干个凸起，凸起为棱锥结构或三棱柱结构；在凸起为棱锥结构时，每一个凸起的底面位于上方，每一个凸起的尖端朝向下方且每一个凸起的尖端上设置有研磨粒，每一个凸起的侧面为倾斜面；在凸起为三棱柱结构时，每一个凸起的其中一个侧面位于上方，每一个凸起的其余侧面为倾斜面，每一个凸起的其中一条棱朝向下方且每一条位于最下方的棱上设置有研磨粒；每一个倾斜面至观察面之间至少存在一条沿竖向布置的透光通道，透光通道中充满折射介质。该研磨件可供外部的设备在研磨件使用时对研磨面下的LED芯片表面进行实时观察，具有良好的实用性。
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本申请实施例公开了一种失效节点检测方法、装置和相关设备，其中方法包括：获取节点评估因素，所述节点评估因素包括合作因素、可信因素、责任因素以及能力因素；根据所述节点评估因素生成节点模糊值；根据所述节点模糊值生成节点信任数值；判断目标节点的节点信任数值是否小于预设阈值，所述目标节点与所述节点评估因素具有关联关系；若是，则所述目标节点为失效节点；若否，则所述目标节点不为失效节点。
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本实用新型属于焊点检测技术领域，尤其是一种车载导航控制主板的焊点失效检测装置，针对现有的检测方式比较浪费人力，效率低的问题，现提出如下方案，其包括底板，所述底板的顶部固定安装有两个侧板，两个侧板上转动安装有两个转动辊，两个转动辊的外侧传动安装有同一个传送带，所述传送带的外侧固定安装有多个安装块的一侧，多个安装块的另一侧均固定安装有放置盒，两个侧板中的一个侧板上开设有滑孔，滑孔内滑动安装有推动板，推动板的底部开设有复位槽，所述复位槽内滑动安装有复位块，复位块的底部固定安装有推动块，本实用新型便于对控制主板进行焊点检测，省时省力，提高检测效率，结构简单，使用方便。
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本实用新型公开了一种紫外发光二极管光源失效检测装置，包括底座、光过滤片和摄像头；所述底座设置在发光二极管的下方，所述光过滤片和所述摄像头固定设置在所述底座上，所述摄像头的中心轴与所述光过滤片垂直，且所述摄像头设置在所述光过滤片的下游；该紫外发光二极管光源失效检测装置采用视觉失效判定方法，通过摄像头拍摄高清图片，直接判定光源模块发光二极管阵列中发光二极管工作状况，准确可靠。
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本发明提供涉及检测技术领域，具体提供一种并网逆变器的继电器失效检测装置及方法，包括继电器模块1、驱动模块2，继电器模块1一端与逆变器5输出端相连，另一端与电网6相连，驱动模块2与继电器模块1相连接，还包括控制模块3以及第一信号采集模块41、第二信号采集模块42，第一信号采集模块41一端与逆变器输出端相连接，另一端与控制模块3相连接，第二信号采集模块42一端与电网6相连接，另一端与控制模块3相连接，驱动模块2另一端与控制模块3相连接。本发明能够检测继电器模块1中任何一个或以上继电器断开或闭合失效故障，并通过显示模块反馈给用户，提高了对逆变器5输出级继电器冗余设计的可靠性。
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本实用新型提供涉及检测技术领域，具体提供一种并网逆变器的继电器失效检测装置，包括继电器模块1、驱动模块2，继电器模块1一端与逆变器5输出端相连，另一端与电网6相连，驱动模块2与继电器模块1相连接，还包括控制模块3以及第一信号采集模块41、第二信号采集模块42，第一信号采集模块41一端与逆变器输出端相连接，另一端与控制模块3相连接，第二信号采集模块42一端与电网6相连接，另一端与控制模块3相连接，驱动模块2另一端与控制模块3相连接。本实用新型能够检测继电器模块1中任何一个或以上继电器断开或闭合失效故障，并通过显示模块反馈给用户，提高了对逆变器5输出级继电器冗余设计的可靠性。
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印刷电路板分层失效检测方法包括对分层失效的印刷电路板进行垂直切片，以判断分层位置是在玻璃纤维层与树脂层之间，芯板与树脂层之间，还是棕化层和树脂层之间，若是玻璃纤维层与树脂层之间，根据印刷电路板烘板处理前后的吸水率判定分层失效的原因；若是芯板与树脂层之间，根据芯板和树脂层的元素成分和微观结构图像判定分层失效的原因；若是棕化层和树脂层之间，根据棕化层和树脂层的元素成分和微观结构图像判定分层失效的原因。本发明可针对印刷电路板的不同分层处检测出分层原因，以方便后续贴装过程的改善。
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本实用新型公开了一种基于SMT定位装置的电子产品PCBA失效检测装置，属于PCBA板检测技术领域，包括定位框架、上挡板和下挡板，所述定位框架的表面开设有定位口，所述螺杆的一端通过螺纹孔螺接穿过定位框架且与限位块粘接固定，所述上挡板与下挡板分别通过第一定位柱、第二定位柱与设置在定位框架上的定位孔插接固定，且所述第一定位柱与第二定位柱的端部在定位孔内接触，所述检测装置基体内设有搭接架，所述定位框架、上挡板与下挡板为一体式放置在搭接架的表面。本实用新型增设SMT定位框架来对PCBA板进行辅助定位，在确保其位置及角度的情况下进行上下两侧扫描检测，无需进行额外的调节，有效提高对PCBA板的失效检测的效率及效果。
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本发明提供一种存储器单元失效检测方法与系统，将存储器单元中每一位设为初始数码，并读出存储器单元中每一位的内容，将存储器单元中每一位的内容从初始数码修改为变反数码，当其他存储器单元中每一位的内容未发生改变时，读出存储器单元中每一位的内容，检测存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改准确时，再次将存储器单元中每一位的内容修改，再次检测存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改准确时，表明存储器单元正常。整个过程，能够检测可能发生的存储器单元转换故障以及对周边存储器单元数据操作引发的单个存储器单元的耦合故障，能够准确检测存储器单元是否失效。
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本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种大气中子诱发的FPGA器件失效率检测方法和系统，通过对FPGA阵列进行大气中子单粒子效应检测，获取FPGA阵列的大气中子单粒子效应检测的测量数据；获取所述FPGA阵列中FPGA器件的数量；根据所述测量数据以及所述FPGA器件的数量获取FPGA器件失效率。在此方案中，所述测量数据为对FPGA进行大气中子单粒子效应检测后获得的数据，所述测量数据能够提高大气中子单粒子效应下的获取的FPGA器件失效率的准确度，从而实现FPGA器件大气中子单粒子效应敏感性的准确定量评价，解决我国目前FPGA器件大气中子单粒子效应评价方法缺失的难题。
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本发明公开了滚床减速检测传感器失效预判方法、系统及存储介质，当输送电机运行时间小于预设的阈值PLC接收到下一工位的减速检测传感器信号时，PLC发送低速速度设定值给本工位和下一工位的变频器，两个变频器控制两个电机减速到低速速度设定值；当输送电机运行时间大于或者等于预设的阈值PLC仍未接收到下一工位的减速检测传感器信号时，则PLC发送立即停止指令给本工位和下一工位的变频器，变频器控制输送电机快速减速直至速度接近0r/min后抱闸工作，同时PLC触发报警信号并在HMI上显示报警信息；本发明能够预判滚床减速检测传感器是否失效，有助于降低设备损耗，可广泛应用于汽车自动化装备技术领域。
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本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种大气中子诱发的SRAM器件失效率检测方法和系统，通过对SRAM阵列进行大气中子单粒子效应检测，获取SRAM阵列的大气中子单粒子效应检测的测量数据；获取所述SRAM阵列的总容量；根据所述测量数据以及所述SRAM阵列的总容量获取SRAM器件失效率。在此方案中，所述测量数据为对SRAM进行大气中子单粒子效应检测后获得的数据，所述测量数据能够提高大气中子单粒子效应下的获取的SRAM器件失效率的准确度，从而实现SRAM器件大气中子单粒子效应敏感性的准确定量评价，解决我国目前SRAM器件大气中子单粒子效应评价方法缺失的难题。
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本申请涉及一种集成电路失效检测方法及装置。方法包括：获取待检测集成电路的第一图像，其中，待检测集成电路包括至少一条待检测的金属线，第一图像中包括待检测的金属线的图像；使用检测探针接触金属线，获取接触到检测探针后的待检测集成电路的第二图像，其中，第二图像中包括第一图像中的金属线的图像；根据第一图像、第二图像，确定待检测集成电路的失效情况。从而仅通过图像的变化即可检测集成电路的内部失效情况，检测方法方便简单，并且无需将集成电路研磨到待检测的那一层，即可通过其上层的互连情况，对其内部的失效情况进行初步的检测，效率更高。
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本申请实施例提供了一种无线链路失效检测方法、装置、设备及存储介质，涉及移动通信技术领域，该方法包括：当集中单元检测到触发无线链路检测的触发事件时，集中单元向分布单元发送RRC消息；分布单元响应于RRC消息，向终端发送查询消息，并监听终端反馈的对应于查询消息的应答消息；基于监听结果，分布单元向集中单元发送对应于RRC消息的RRC反馈消息；集中单元根据对RRC反馈消息的解析结果，确定无线链路是否失效。本申请提供了更可靠的检测方案，能够有效地识别出基站与终端连接的无线链路是否失效，及时释放无线资源，避免造成无线资源的浪费。
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一种红外焦平面阵列芯片贮存失效率、可靠度的检测方法，其贮存失效率方法包括：测量红外焦平面阵列芯片的样品的像元个数；将样品进行分组；测量贮存前每组样品的初始有效像元率，将每组样品在一组高温贮存应力下进行贮存，测量贮存后每组样品的最终有效像元率；根据样品的最终有效像元率和初始有效像元率的差值确定该组样品在对应高温贮存应力下的像元失效率；根据各像元失效率计算样品贮存退化的激活能值，并根据激活能值计算常温贮存应力下的加速系数；根据加速系数和像元个数计算样品的像元在常温条件、预设置信水平下的贮存失效率上限值，将贮存失效率上限值确定为红外焦平面阵列芯片的贮存失效率。本方案降低了检测成本。
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本实用新型涉及一种信号防雷器,具体涉及一种带失效检测功能的信号防雷器。本实用新型的带失效检测功能的信号防雷器,包括了信号源线、屏蔽层线和地线,其输入端向输出端依次包括放电管电路和二级管电路,所述放电管电路与地线之间连接一个电磁感应环。本实用新型的带失效检测功能的信号防雷器。本实用新型的带失效检测功能的信号防雷器检测信号的灵敏度高,能实现对防雷器电路的实时监控,在防雷器失效后,仍可以检测到失效信息,实施对与雷器连接的其他设备的保护。
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本申请涉及一种贴片电容失效检测方法及磨抛方法。其中，贴片电容失效检测方法，包括获取待测电容的外表面图像，并判断外表面图像中是否存在异常区域；若判断的结果为否，则确定待测电容的叠层侧，并基于叠层侧获取待测电容的显微图像；其中，显微图像为叠层侧经磨抛处理后得到；根据显微图像以及预设失效图像，确定待测电容的当前状态。通过对叠层侧进行磨抛，得到贴片电容内部结构的显微图像，并根据贴片电容内部结构的比对、贴片电容不同类型失效的内部结构的区别以及常见的贴片电容失效形式进行分析，能够快速有效的找到贴片电容的失效原因，避免给生产造成更大的损失，从而能够尽快地找到设计、加工、运输过程中的问题点。
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本发明公开了一种检测LED光源变色失效的方法及装置，其方法包括：获取LED光源的变色区域；检测所述变色区域是否存在变色斑点；若所述变色区域存在变色斑点，则提取变色区域的变色色斑；采用X射线能谱仪对变色色斑的斑点元素进行分析；基于X射线能谱仪输出斑点元素中的结果成分。通过实施本发明，能够快速检测LED灯光源是否发生了变色失效，首先通过检测变色区域是否存在变色色斑，在通过对变色色斑的元素进行分析，得出分析结果，达到快速解析LED光源变色失效原因和结果的目的。
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本发明公开了一种对LED芯片表征进行失效检测的方法，包括如下步骤：透过环氧树脂透镜观察检测未开封LED芯片上的失效情况；在分析出LED芯片表面有LED芯片裂纹、烧毁腐蚀情况时，基于扫描电子显微镜SEM扫描LED芯片裂纹、烧毁腐蚀情况，并基于失效部位输出形状、尺寸、大小、结构、颜色信息；基于二次离子质谱分析SIMS对LED芯片表面失效部分成分的污染成分进行分析，获取芯片制造和装备过程中附着的污染物和离子残留物所具有的成分；对LED芯片进行断面分析。通过本发明实施例，针对开封前、开封后以及断面整体性分析，可以针对LED芯片失效得出一个全面分析的结果数据。
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本发明涉及一种芯片失效分析过程中的剥层方法，包括如下步骤：(1)提供芯片，所述芯片具有多层结构，且包括至少一层目标分析层，所述目标分析层包括待分析区域；(2)利用离子束自所述芯片的表面开始进行剥层处理，去除所述目标分析层之上的一层或多层，露出所述待分析区域，即可，其中，所述离子束包括至少一束宽束离子束，束斑直径不小于1mm。该剥层方法，采用至少一束宽束离子束形成的离子束，可获得较为均一的剥层加工面，避免了单束的高能聚焦离子束直接打在芯片表面，造成目标分析区域的损伤，有效提高了剥层的精度，同时还扩大了加工范围，剥层效率高。
本发明公开了一种基于ANSYS的MMC子模块压接式IGBT短期失效分析方法，包括以下步骤：步骤一、利用ANSYS的Simplorer得到MMC子模块压接式IGBT在工况下的损耗；步骤二、利用ANSYS的SpaceClaim，进行IGBT模型的建立；步骤三、通过ANSYS的Icepak以及Simplorer对步骤二得到的IGBT模型进行Foster网络的提取；步骤四、将步骤一计算得到的损耗，导入到步骤三提取的Foster网络中，得到IGBT内部各位置的实时温度变化情况。本发明能够抓住短时间尺度下MMC子模块压接式IGBT失效的主要因素，逐步得到工况下IGBT内部温度的精确分布情况。
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