合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 用于发光器件加工过程中的防失效定位检验方法及系统

用于发光器件加工过程中的防失效定位检验方法及系统

692   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:33
本发明提供了一种用于发光器件加工过程中的防失效定位检验方法及系统,主要用于在发光器件制程中对倒装发光芯片位置在可能发生变化的工序后进行检测,其中包括:在倒装发光芯片转移至基板上后对倒装发光芯片进行检测、在倒装发光芯片进行回流焊后对倒装发光芯片进行检测;为了满足精确监控的条件,还在发光器件的制程中增设部分特殊工艺以及对结构进行调整,具有位置检测精度高等优点。
声明:
“用于发光器件加工过程中的防失效定位检验方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记