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大气中子诱发的FPGA器件失效率检测方法和系统

906   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:32
本发明涉及电子器件辐射效应领域,特别是涉及一种大气中子诱发的FPGA器件失效率检测方法和系统,通过对FPGA阵列进行大气中子单粒子效应检测,获取FPGA阵列的大气中子单粒子效应检测的测量数据;获取所述FPGA阵列中FPGA器件的数量;根据所述测量数据以及所述FPGA器件的数量获取FPGA器件失效率。在此方案中,所述测量数据为对FPGA进行大气中子单粒子效应检测后获得的数据,所述测量数据能够提高大气中子单粒子效应下的获取的FPGA器件失效率的准确度,从而实现FPGA器件大气中子单粒子效应敏感性的准确定量评价,解决我国目前FPGA器件大气中子单粒子效应评价方法缺失的难题。
声明:
“大气中子诱发的FPGA器件失效率检测方法和系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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