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纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法与系统

784   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:33
本发明提供一种纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法与系统,获取纯锡镀层元器件中锡须生长长度对数均值、对数标准差、锡须生长面密度均值以及面密度标准差数据,拟合出多项式拟合公式,计算锡须面密度均值、标准差、锡须生长长度对数均值以及对数标准差,分别进行第一次和第二次蒙特卡罗运算分析,得到锡须长度数据,根据锡须长度数据和预设失效判据,计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数,计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率。整个过程中,从失效物理的角度,分别考虑锡须生长的面密度和长度值,并基于蒙特卡罗算法,分别进行迭代运算,兼顾锡须生长的失效物理因素,能对各类纯锡镀层元器件中锡须生长失效进行快速、准确预测。
声明:
“纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法与系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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