本发明提供一种纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法与系统,获取纯锡镀层元器件中锡须生长长度对数均值、对数标准差、锡须生长面密度均值以及面密度标准差数据,拟合出多项式拟合公式,计算锡须面密度均值、标准差、锡须生长长度对数均值以及对数标准差,分别进行第一次和第二次蒙特卡罗运算分析,得到锡须长度数据,根据锡须长度数据和预设失效判据,计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数,计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率。整个过程中,从失效物理的角度,分别考虑锡须生长的面密度和长度值,并基于蒙特卡罗算法,分别进行迭代运算,兼顾锡须生长的失效物理因素,能对各类纯锡镀层元器件中锡须生长失效进行快速、准确预测。
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