广东有色金属理论与应用

解决存储器局部失效的方法 1026     

 0

一种解决存储器局部失效的方法,是通过逻辑IC或ASIC芯片本身的逻辑电路对存储器以缓冲区为单位进行自检,如果该缓冲区的所有存储单元的自检结果是全部正常,则在自检结束后将其首地址写入空闲缓冲区队列中,供以后使用该缓冲区;如果检测到某个缓冲区有失效的存储单元,则其首地址将不被写入空闲缓冲区队列中,使该缓冲区在逻辑IC或ASIC芯片的正常工作中将永远不会被访问;在自检的同时,还对失效缓冲区进行计数,并在自检结束后,读取该计数值及根据失效缓冲区的多少作相应处理:当失效缓冲区没有或很少,对系统功能或性能影响很小时,该单板可照常工作;当失效缓冲区的数目较大时,才向系统发出告警信号请求维修或更换单板。

电视机场失效保护解除电路及方法 1108     

 0

本发明公开了一种电视机场失效保护解除电路及方法,要解决的技术问题是方便及时判断电视机的故障部位。本发明的电路,中央处理器连接有场脉冲形成电路,其输入/输出口连接有场失效保护解除电路。本发明的方法包括以下步骤:电视机开机时中央处理器检测设置的解除场失效保护电路;开机后中央处理器进行场失效检测;当检测到场扫描失效时,电视机进入保护状态;当检测到保护电路已设置解除场失效保护设定,则电视机开启。本发明与现有技术相比,中央处理器快速判断是否为场扫描失效保护,从而快速解除场失效保护,让电视机开启,便于维修,克服了以往电路失效后保护电路起了作用而不能开机,难维修的问题。

安全带卡扣失效装置 1229     

 0

本发明公开了一种安全带卡扣失效装置，包括旋转单元和检测单元，所述检测单元设置在所述旋转单元上；所述旋转单元包括旋转平台，所述旋转平台用于带动所述检测单元转动；所述检测单元包括检测部和报警器，所述检测部伸出所述旋转平台，所述检测部用于在旋转平台的带动下检测是否使用了安全带，所述报警器用于发出报警声。本发明的安全带卡扣失效装置可以有效检测司机或乘客是否使用了安全带卡扣，并及时加以报警提醒，尽可能避免使用安全带卡扣带来的安全隐患，实现车辆安全出行。本发明的安全带卡扣失效装置具有结构简单、实用性强等特点，具有很强的推广价值。

光伏组件失效风险判别方法 979     

 0

本发明涉及一种光伏组件失效风险判别方法，主要包括以下步骤：确定光伏组件的故障模式；专家小组分别对故障模式相关评价指标因素评价等级，根据评价结果构建故障模式的模糊评判矩阵；根据层次分析法构建相关评价指标因素的权重集；根据模糊评判矩阵和权重集计算各故障模式的综合风险评价因子；根据综合风险评价因子确定故障模式的失效风险。本发明实现了指标评价的客观化、意义化；利用模糊综合评判，引入层次分析法进行权重赋值，实现风险评价指标的量化连续性、权重化，并应用于光伏组件失效风险分析，有效改进FMECA方法量化排序不合理、重复现象，使得分析与实际更加贴合，提高光伏组件失效风险分析结果可信性。

基于失效物理的元器件故障树构建方法和系统 1044     

 0

本发明公开了一种基于失效物理的元器件故障树构建方法，包括步骤：根据元器件失效物理共性特点，按失效物理6个层次构建故障信息库，形成6个失效物理层信息的故障信息库；根据故障信息库，按失效物理6个层次及失效物理逻辑关系构建故障树，形成6个失效物理层n级事件的元器件故障树；采用机理子树转移和故障模块子树导入方式对所述元器件故障树进行简化。本发明还公开了一种基于失效物理的元器件故障树构建系统，上述方法和系统建立的故障树可深入到元器件失效物理层面进行分析，以节点事件形式准确描述各失效模式的失效路径、失效机理、机理因子和影响因素，满足元器件故障树分析和机理原因分析的需求。本方法和系统适用于各类元器件故障树的构建。

波分业务处理单元在业务失效时的处理方法 1053     

 0

本发明公开了一种接入数据业务的波分业务处理单元在业务失效时的处理方法,以使与该波分业务处理单元相连的客户设备能及时获知该单元的业务失效情况,该方法包括:对客户端输入的数据业务进行检测,当检测到其失效时,插入第一维护信号替代客户端输入的数据业务,并将该业务失效情况上报网管;对传输信号及该传输信号解封装恢复出数据业务的过程进行检测,当检测到业务失效时在客户输出端输出第二维护信号,替代客户端输出的数据业务,并将该业务失效情况上报网管。第二维护信号为关闭激光器的命令、PCS层错误码或伪随机序列码。本发明方法操作简便,方便用户对波分业务处理单元进行管理,且对于不同类的波分业务处理单元具有通用性。

建筑体系张弦结构中预应力索失效下的防连续倒塌设计方法 892     

 0

本发明公开了建筑体系张弦结构中预应力索失效下的防连续倒塌设计方法，包括步骤(1)建立分析模型，获得张弦结构的初始状态及响应；步骤(2)选择具体一个预应力索做失效处理，然后对整体结构进行响应分析；步骤(3)对预应力索构件逐一做失效处理并逐一对失效后的结构进行响应分析：重复步骤(2)，以得到每个预应力索处于失效状态后的张弦结构的破坏状态及响应；步骤(4)进行张弦结构防连续倒塌设计。该方法能够有效防止在任意预应力索发生失效时张弦结构可能出现连续倒塌的情况发生，以保证张弦结构整体结构的稳定性。

镜像失效判断电路及应用其的电器设备 1206     

 0

本实用新型公开了一种镜像失效判断电路及应用其的电器设备，其中，镜像失效判断电路包括用于检测第一芯片失效情况的第一失效检测模块和用于检测第二芯片失效情况的第二失效检测模块，所述第一失效检测模块电连接第二失效检测模块进而相互感知芯片失效情况。本实用新型的一种镜像失效判断电路，通过第一失效检测模块检测第一芯片失效情况，通过第二失效检测模块检测第二芯片失效情况，同时第一失效检测模块电连接第二失效检测模块，从而使第一失效检测模块和第二失效检测模块彼此之间可以相互感知失效情况，即采用镜像电路，提高失效芯片信号之间的关联性，摒弃门电路芯片，降低生产成本。

金属失效模型构建方法、装置、终端设备及存储介质 1169     

 0

本申请提供了一种金属失效模型构建方法、装置、终端设备及存储介质，该方法包括：根据试样金属的拉伸测试结果构建本构模型；根据本构模型和试样金属的应力状态测试结果确定等效断裂塑性应变‑应力三轴度曲线，对试样金属进行应力状态仿真得到损伤累积指数、应力减弱系数、等效临界塑性应变‑应力三轴度曲线、断裂应变修正因子‑单元尺寸曲线和断裂应变修正因子；根据等效断裂塑性应变‑应力三轴度曲线、损伤累积指数、应力减弱系数、等效临界塑性应变‑应力三轴度曲线、断裂应变修正因子‑单元尺寸曲线和断裂应变修正因子构建金属失效模型。本申请构建的金属失效模型能对不同应力状态、不同损伤累积和不同应力减弱下的金属进行失效分析。

读失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质 908     

 0

本发明公开了一种读失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质，接收外部的测试机发送的替换指令和校验数据；将目标存储芯片内的数据与校验数据相比较，判断失效的cell；对比较得到的失效的cell进行分析和判别；执行替换指令，依次对失效的cell进行替换。将替换指令执行的操作交由存储芯片主控来完成，测试机在这个过程中只需要负责发送校验数据和替换指令，以及判断执行结果和固化替换信息，因此测试机在测试过程中的计算量大大减小，相应减小了测试时间，对于需要同步测试多个存储芯片的测试机来说，测试方的设备要求降低。

封装器件的失效定位方法 820     

 0

本发明提供一种封装器件的失效定位方法。封装器件的失效定位方法包括：获取未失效封装器件的参考信号；所述参考信号包括所述未失效封装器件的时域信号；获取失效封装器件的测量信号；所述测量信号包括所述失效封装器件的时域信号；对比所述参考信号和所述测量信号，获得所述失效封装器件的失效位置。本发明所述的封装器件的失效定位方法，分别获得未失效封装器件的参考信号和失效封装器件的测量信号，并通过对比未失效封装器件的参考信号和失效封装器件的测量信号，可以快速获得失效封装器件的精确失效位置，极大地节省了研发人员测试失效位置的时间，帮助提升企业研发竞争力，为后续开展先进封装器件失效分析定位工作提供参考。

核电站蒸汽发生器传热管降质失效的概率评估方法 997     

 0

本申请提出了一种核电站蒸汽发生器传热管降质失效的概率评估方法，包括以下步骤：根据传热管降质失效的历史数据计算得到传热管降质失效的先验分布；获取引起传热管降质的影响因素，给每种影响因素划分影响级别，并获取每种影响级别的权重比例；根据传热管降质失效的历史数据计算得到在传热管降质事件的不同具体类型下，不同影响级别的不同影响因素的发生概率；采用贝叶斯公式计算影响因素的后验概率，并采用全概率公式计算影响因素的修正概率；在分析核电站传热管的运行时间对周期性检修期传热管失效概率的影响。本申请的核电站蒸汽发生器传热管降质失效的概率评估方法，实用新颖，合理有效。

写失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质 806     

 0

本发明公开了一种写失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质，接收外部的测试机发送的替换指令和校验数据；将目标存储芯片内的数据与校验数据相比较，判断失效的cell；对比较得到的失效的cell进行分析和判别；执行替换指令，依次对失效的cell进行替换。将替换指令执行的操作交由存储芯片主控来完成，测试机在这个过程中只需要负责发送校验数据和替换指令，以及判断执行结果和固化替换信息，因此测试机在测试过程中的计算量大大减小，相应减小了测试时间，对于需要同步测试多个存储芯片的测试机来说，测试方的设备要求降低。

静电放电失效验证方法 1095     

 0

本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。

净化装置和净化能力失效判定方法 1032     

 0

本发明提供了一种净化装置和用于净化装置的净化能力失效判定方法，其中净化装置包括：壳体，壳体具有内部中空的腔体；壳体的一端设置有进气口，另一端设置有出气口；过滤件，设置在腔体内，位于进气口和出气口之间；至少一个粉尘传感器，设置在进气口处和/或出气口处，用于检测空气中的粉尘浓度；风机，设置在腔体中，位于腔体一端，靠近出气口一侧，用于驱动空气流动。本发明提供的净化装置，通过粉尘传感器直接对过滤件的净化能力进行分析，进而使得净化装置判定净化能力的准确率高，并且结构简单，提升了用户的使用满意度。

芯片失效点定位方法、装置及系统 1209     

 0

本申请涉及一种芯片失效点定位方法、装置及系统，芯片失效点定位方法包括获取芯片通电后发射的光信号；对光信号进行分离，输出多个特定波段的光辐射图像；将多个特定波段的光辐射图像与预置良品芯片结构形貌图比较以确定芯片失效点的波长信息。本申请可以实现对半导体芯片失效点波长的探测分析，在分析过程不会对芯片引入新的失效，提高了对半导体芯片失效分析的效率及准确性，可广泛适用于芯片设计、生产的测试环节，售后问题反馈等环节。

失效点的定位方法、装置、计算机设备、介质和程序产品 946     

 0

本申请涉及一种失效点的定位方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取通过红外热成像装置对被施加测试信号的待测试芯片进行扫描，获得的所述待测试芯片表面的热成像图片，并对所述热成像图片进行分析，获得所述待测试芯片表面各点的相位角；获取通过图像扫描装置对所述被施加测试信号的待测试芯片进行扫描，获得的所述待测试芯片表面的三维图像，并对所述三维图像进行分析，获得所述待测试芯片表面各点的三维坐标；根据所述待测试芯片表面各点的相位角和三维坐标计算所述待测试芯片中失效点的三维坐标。采用本方法能够提高芯片内部失效点定位精度。

有效降低短弧氙灯漏气失效概率的方法 1046     

 0

一种有效降低短弧氙灯漏气失效概率的方法，在短弧氙灯组装前先将由钨杆和过渡封接组件构成的组装部件进行测试检验：(1)选择若干个灯的组装部件，分别将其钨杆固定，然后对其过渡封接组件和钨杆的连接处、过渡封接组件中的不同种玻璃的各连接处施加大小不同的弯矩进行抗弯测试，对多次试验结果进行统计分析得出合适的弯矩值，要求该弯矩既不会将组装部件压裂，又不会将强度过低的部件用于灯的生产，使组装制成的灯发生漏气；(2)以步骤(1)中获得的合适的弯矩值为标准值，以该值的弯矩施加于要组装成灯的各个组装部件中过渡封接组件和钨杆的连接处、过渡封接组件中的不同种玻璃的各连接处进行抗弯测试，将不能承受该弯矩的组装部件筛选掉，仅使用能承受该弯矩的组装部件进行组装。

鉴定二次电池失效原因的方法 1178     

 0

本发明公开了一种鉴定二次电池失效原因的方法,包括对失效电池的电极材料取样,用X射线衍射仪进行分析,得到电极材料样品的X射线衍射图谱,然后对衍射图谱进行晶相检索分析得到样品晶相组成,将样品晶相组成与鉴定标准对比,找到鉴定标准中与样品晶相组成对应的标准晶相,该标准晶相所对应的电池失效原因即为所述失效电池的失效原因。通过本发明公开的方法能对失效二次电池进行准确鉴定,即使由于产生爆炸的失效电池也能准确鉴定。

获取LED光源器件变色失效源头的方法及装置 816     

 0

本发明公开了一种获取LED光源器件变色失效源头的方法及装置，其方法包括：获取LED光源器件上LED光源变色区域中变色斑点中的斑点元素及变色失效结果成分；对LED光源器件上的灯具零部件采用X射线能谱仪对零部件中的元素进行分析，基于斑点元素确定可导致LED光源变色的灯具零部件；对确定可导致LED光源变色的灯具零部件与含银验证材料一体置于密封腔体内进行零部件失效反应；判断每一零部件所对应的失效反应中的结果是否与LED光源的色变区域的变色失效结果相一致，确定所述灯具零部件为导致LED光源变色失效的源头。通过实施本发明，能够快速检测LED灯光源发生变色失效的源头，得到可能造成光源失效的源头。

降低锂电池控制板可靠性失效的SMT贴片方法 731     

 0

本发明提供了一种降低锂电池控制板可靠性失效的SMT贴片方法，包括步骤：A1.印刷锡膏：把锡膏通过钢网丝印到PCB板上的预设印刷位置；A2.锡膏印刷质量检测：利用图像分析的方法检测锡膏的印刷质量；A3.器件贴装：用贴片机把元器件贴装在PCB板上的预设贴装位置；A4.回流焊接：用回流焊炉进行回流焊接,回流炉的排风管道风速度不小于10m/s；A5.焊接后检测：对组装好的控制板进行光学影像对比检测；A6.烘烤去离子：在烤箱中按照预设条件对控制板进行烘烤，以减少引脚间的有机类弱酸根离子；该方法可有效降低控制板上器件引脚间的有机类弱酸根离子含量，从而有利于降低锂电池控制板在“双85”可靠性试验中失效的风险。

应用于工业信息安全主板的USB失效恢复方法及系统 865     

 0

本申请公开了一种应用于工业信息安全主板的USB失效恢复方法及系统，属于USB设备技术领域，恢复方法包括以下步骤：上位机周期性读取USB设备的设备信息；判断是否能正常读取USB设备的设备信息；若否，则上位机向MCU发送重启指令；MCU接收重启指令，并对重启指令进行分析；根据分析结果，MCU控制相应的USB设备以断电及断开通信信号的方式进行重启。本申请可自动检测失效的USB设备，并自动对失效的USB设备进行重启，更具安全性。

多串锂电池组保护失效的控制系统及方法 1000     

 0

本发明公开了一种多串锂电池组保护失效的控制系统及方法，包括充电端口连接充电器，多串锂电池组与充电控制电路连接，检测电路和充电控制电路分别通过充电端口连接到外接的充电器，充电失效开关电路连接在充电端口与充电控制电路之间；获取电压检测电路检测到的电流电压值，分析在各种情况下充电控制电路是否失效，且当判断出充电控制电路失效时，输出失效信号到充电失效开关电路，充电失效开关电路断开，进而将所述充电端口与充电控制电路断开；同时，所述主控电路通过通信电路发送指令到外界设备，实现对充电控制电路的分析及保护，并能让用户及时的了解到情况，及时断电，避免发生危险。

应用审计失效识别方法、装置、系统以及可读存储介质 891     

 0

本发明公开了一种应用审计失效识别方法，应用于云端，通过获取各个应用的更新日志数据以及审计日志量数据；通过大数据统计分析平台加载历史统计分析数据；分别针对每种应用进行归类计算，根据审计日志量数据以及历史统计分析数据，计算每种应用的日志变化趋势；根据日志变化趋势以及更新日志数据，判断应用审计是否失效。本申请是基于大数据统计分析的识别方案，通过采集各种应用的审计日志量，并结合历史数据分析日志的变化趋势，自动判断审计是否失效，整个过程由设备自动完成，无人力成本，且检测实时性非常好，提高了检测效率的同时，保证了检测的效果。此外，本申请还提供了具有上述技术优点的应用审计失效识别装置、系统以及可读存储介质。

晶圆测试数据的分析方法、平台、电子设备及存储介质 1030     

 0

本申请提供了一种晶圆测试数据的分析方法、平台、电子设备及存储介质，分析方法包括：获取多个批次的晶圆测试数据；根据目录分类信息区分晶圆测试数据，记录区分后的晶圆测试数据存储路径，并进行目录分类归档；根据目标目录分类信息，从目录中索引相应晶圆测试数据的数据路径，提取晶圆测试数据，并按照目标参数将晶圆测试数据合并成目标数据集；对目标数据集，进行视图构建及视图分析，和/或进行数据统计分析；本申请实现了晶圆测试数据的快速提取、分类、整合、分析，可提供有效的信息进行失效分析，改善设计和制造良率；利用目录索引晶圆测试数据文件路径的方式作为数据整合的基础，可有效提高数据整合、分析效率，并减少计算、运行负荷。

保测合智四合一装置的硬件可靠性分析方法及系统 1120     

 0

本发明属于电气工程自动化技术领域，公开一种保测合智四合一装置的硬件可靠性分析方法。该方法包括：构建保测合智四合一装置的信息链条和故障树；计算保测合智四合一装置各模块电子元器件的失效率；根据构成保测合智四合一装置各模块的电子元器件失效率和数量，计算保测合智四合一装置各模块的失效率；根据构成保测合智四合一装置各模块的失效率和数量，计算保测合智四合一装置硬件系统的失效率；基于保测合智四合一装置硬件系统的失效率计算保测合智四合一装置硬件系统的可用度，分析保测合智四合一装置的可靠性。本发明可以为含保测合智四合一装置的二次系统可靠性评估提供参考。本发明还提供一种保测合智四合一装置的硬件可靠性分析系统。

基于细观动态复杂应力监测的混凝土疲劳损伤分析方法 815     

 0

本发明公布了一种基于细观动态复杂应力监测的混凝土疲劳损伤分析方法，包括步骤：先制作一批试件，试件内布设9个空间应力传感器；通过单轴疲劳加载试验，确定SDF值最大时的传感器阵列；通过试验与模拟的方法，将优化的传感器阵列布设在试件或模型内，确定各受力模式下构件由加载到疲劳失效时的SDF—N曲线；在待测构件浇筑前将优化过的传感器阵列布设在构件中，通过传感器可检测出构件的受力模式，通过将监测的SDF值与试验或模拟的结果对比得出构件的疲劳损伤状态。本发明克服了以往混凝土应力或应变监测只能单向监测的问题，在较小的体积上实现空间六向动态应力监测，获取真实的细观应力状态，更准确地分析结构的疲劳损伤状态。

滤网失效判断方法、滤网失效判断系统及机组设备 1177     

 0

本发明公开一种滤网失效判断方法、滤网失效判断系统及机组设备，其中，该方法包括：检测电机的输入参数值、工况条件；根据所述工况条件确定与所述工况条件相对应的预设参数阈值；将所述输入参数值与预设参数阈值进行对比，根据对比结果确定滤网是否失效。也就是说，本发明仅需检测电机的输入参数值，并将该输入参数值与预设参数阈值进行对比，即可判断滤网是否失效，本发明不受使用环境和条件的影响，处理方法简单，并且判定滤网失效的稳定性和准确率较高，从而有效解决了现有空气净化器判定滤网的操作繁杂的问题。

异步转移模式的失效管理系统及失效管理方法 807     

 0

本发明提出了的一种异步转移模式的失效管理系统及失效管理方法,在应用异步转移模式传输的数据传输网络中设置有用于监视VPC或VCC连接的保护组,所述保护组中包括工作连接和保护连接,工作连接不断检测缺陷指示,当检测到缺陷指示后由前向从工作连接的宿端点送出告警信号,其中将所述工作连接和保护连接的网元节点的属性设置为段属性,两个段属性节点之间的OAM流即为段属性的OAM流,即与保护组相对应的保护域和段属性的OAM流范围重复。本发明可保证保护域内的工作业务正常传送,AIS信元正确传送,并且保护域没有执行多余的保护倒换动作。

面向SoC的片上TDDB退化监测及失效预警电路 928     

 0

本发明涉及一种面向SoC的片上TDDB退化监测及失效预警电路，控制电路模块将Q1、Q0信号转化为开关状态控制信号输出至TDDB性能退化数字转化模块；TDDB性能退化数字转化模块内的第一MOS管电路的MOS管处于电源电压的应力状态下，第二MOS管电路的MOS管处于非应力状态下；第一MOS管电路和第二MOS管电路在开关状态控制信号的控制下，分别输出第一频率值和第二频率值至输出选择模块；输出选择模块将TDDB性能退化数字转化模块输出的第一频率值输出至计数器B中进行记录，或者将第二频率值输出至计数器A中进行记录；计数器模块通过比较第一频率值与第二频率值确定TDDB性能的退化量。本发明的结构简单，输出可监测TDDB性能退化过程，能够对TDDB性能进行准确预警。