本发明公开了一种写失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质,接收外部的测试机发送的替换指令和校验数据;将目标存储
芯片内的数据与校验数据相比较,判断失效的cell;对比较得到的失效的cell进行分析和判别;执行替换指令,依次对失效的cell进行替换。将替换指令执行的操作交由存储芯片主控来完成,测试机在这个过程中只需要负责发送校验数据和替换指令,以及判断执行结果和固化替换信息,因此测试机在测试过程中的计算量大大减小,相应减小了测试时间,对于需要同步测试多个存储芯片的测试机来说,测试方的设备要求降低。
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