上海有色金属理论与应用

燃料电池的检测系统 744     

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本发明公开了一种燃料电池的检测系统，所述检测系统包括：绝缘检测装置，所述绝缘检测装置用于检测所述燃料电池的绝缘状态；整堆气密性检测装置，所述整堆气密性检测装置用于检测所述燃料电池的气密性；及，电压异常检测与失效诊断装置，所述电压异常检测与失效诊断装置用于检测和分析所述燃料电池的短路和所述燃料电池各节电池电压异常。进而，本发明提供的燃料电池的检测系统，在出厂活化测试前、性能测试前以及维修诊断中，能够高效、无损、低风险地完成燃料电池绝缘、气密性以及电压异常问题等检测，为问题诊断和维修保养提供可靠、充足、有效的数据支持。

晶圆检测缺陷的分类方法 788     

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本发明公开了一种晶圆检测缺陷的分类方法，包括如下步骤：步骤一、晶圆上用于形成多个芯片，根据版图定义出各芯片的各功能模块的地址空间；步骤二、进行缺陷检测并记录各缺陷的地址；步骤三、将各缺陷的地址和步骤一中的各功能模块的地址空间进行比对，用所对应的功能模块的代码来表示缺陷从而实现缺陷分类。本发明能将缺陷和晶圆的芯片的失效分析过程中的失效测试现象实现明确对应，方便芯片的失效分析。

检测半导体器件的静电放电性能的方法 1117     

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一种检测半导体器件的静电放电性能的方法。所述检测半导体器件的静电放电性能的方法包括:收集在静电放电测试中半导体器件所有测试管脚的失效电压;对所获得的失效电压数据进行概率分布统计;基于所获得的失效电压数据的概率分布,获得外推最低电压;若外推最低电压与所获得的失效电压数据中的最低值的差值小于临界范围,则以所述最低值与静电放电参考值比较,获得检测结果;若外推最低电压与所获得的失效电压数据中的最低值的差值大于或等于临界范围,则重新进行静电放电测试,或者,进行原因分析以及工艺和/或静电保护设计改进。所述检测半导体器件的静电放电性能的方法,其准确性较高,也节省了检测成本。

检测晶格位错的方法 999     

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本发明公开了一种检测晶格位错的方法，包含如下步骤：选取失效器件进行电学测试，多次扫描测量其电压-电流曲线，观察多次扫描得到的电压-电流曲线有无逐渐变大或变小的情况；对失效器件进行烘烤，重新多次测量其电压-电流曲线，观察有无逐渐变大或变小的情况；对于确定电压-电流曲线发生变化的器件，进行微光显微镜定位，进一步缩小位错的范围；将器件进行研磨，用聚焦离子束进行切割，物理解析制样形成透射电子显微镜样品；采用常规透射电子显微镜观察方式进行位错观察，获得位错像。上述方法通过电学分析到物理分析的流程，分析位错并找出位错的位置，提高集成电路器件失效分析的效率，降低成本。

罐储灭火剂泄露检测方法及其罐储灭火剂泄露检测装置 1021     

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本发明公开一种罐储灭火剂原液泄露检测装置及其制造方法，在纯钛丝表面复合改性石墨烯制成电极，并通过微控制器单元将电极信号转化为灭火剂原液液位高度的方法。在控制温度变量的条件下，液面变化不超过3毫米时，上述电极对的电导与电极伸入灭火剂液面的长度成线性关系，因为电极对是固定安装在罐体中，因此本装置可感知罐体中液面高度的轻微变化，从而判断灭火剂原液是否存在泄露，为灭火剂失效提供预警。

检测缺陷残留的测试结构 1028     

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本发明公开了一种检测缺陷残留的测试结构，通过第一测试区与第二测试区构成相互垂直的双向梳状的测试结构，并于两测试焊盘施加偏压用于对晶体管器件不同方向上的工艺造成的缺陷进行侦测，若侦测到某一晶体管有较低的击穿电压或较大的漏电，说明该测试区中晶体管存在缺陷残留，同时通过失效分析法找到缺陷残留位置并做相应的改善工艺，另外对于无缺陷残留的晶体管，对其测试时效性击穿特性一定程度上也可以评估绝缘层的寿命。

SRAM单元及其检测方法、SRAM单元的检测系统和SRAM器件 941     

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一种SRAM单元及其检测方法、SRAM单元的检测系统和SRAM器件，SRAM单元包括：存储单元，包括第一反相器和第二反相器；传送单元，包括第一传送门晶体管和第二传送门晶体管，第一传送门晶体管和第二传送门晶体管的漏极分别与第一节点和第三节点电连接；字线，与第一传送门晶体管栅极和第二传送门晶体管栅极电连接；位线，包括第一位线和第二位线，第一位线和第二位线分别与第一传送门晶体管和第二传送门晶体管的源极电连接；与位线电连接的驱动单元，用于同时向第二节点和第四节点加载低电平；与位线电连接的读取单元，用于读取第一上拉晶体管和第二上拉晶体管的输出电流之和。通过所述SRAM单元可以侦测失效SRAM单元。

用于剪切变形检测装置及其检测方法 898     

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本发明公开了一种用于剪切变形检测装置及其检测方法，该装置包括：第一固定件，所述第一固定件具有相对的第一端和第二端，所述第一固定件的第一端形成有承插槽；第二固定件，所述第二固定件具有相对的第三端和第四端，所述第三端插设于所述承插槽中，且所述第三端与所述承插槽的相对两侧的内壁之间留设有间隙；以及触发电路，包括射频标签和易断导线，所述易断导线的两端电性连接于所述射频标签形成短路电路以令所述射频标签不能被读取处于暂时失效状态，所述易断导线的中部固设于所述第三端，所述易断导线的两端一一对应地固设于所述承插槽的相对两侧的内壁。本发明解决了震后抗侧力构件损伤的传统检测方法费时费力且效率低的问题。

具有过零检测功能的驱动电路及过零检测方法 1186     

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本发明提供一种具有过零检测功能的驱动电路及过零检测方法，包括：功率开关管、上拉驱动管、第一下拉驱动管、第二下拉驱动管及限流模块；功率开关管的漏极连接开关电源中的电感的输出端，功率开关管的源极经由电流采样电阻接地；功率开关管的栅极经由上拉驱动管连接至电源电压，上拉驱动管的控制端连接第一驱动信号；功率开关管的栅极分别经由第一下拉驱动管及第二下拉驱动管与限流模块串联后的串联电路接地，第一下拉驱动管的控制端连接第二驱动信号；第二下拉驱动管的控制端连接第三驱动信号；限流模块用于控制第二下拉电流小于第一下拉电流，并控制跌落信号具有预设的跌落幅度。本发明可避免常规驱动电路过零检测的失效或误检测的可能性。

RO纯水机原水箱液位的检测装置及其检测方法 903     

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本发明涉及一种RO纯水机原水箱液位的检测装置，包括通过管道(A)依次连接的原水箱(1)、滤芯组件(2)、增压泵(4)、反渗透RO膜(5)和净水箱(6)、信号放大器(7)和控制板(8)。所述净水箱安装有液位计(9)，所述信号放大器的输入端与增压泵连接，信号放大器的输出端与控制板连接，所述增压泵通过电流信号线与控制板相连，所述液位计与控制板通过液位计信号线(11)相连。本发明还提供了上述检测装置的检测方法，通过检测增压泵的电流的大小来判定原水箱的液位，不再需要在原水箱内安装液位计，优化了原水箱的结构，规避了传统液位计失效导致安全事故的风险，节约了整机成本。

高压互锁装置断路检测系统及断路检测方法 732     

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本发明公开了一种高压互锁装置断路检测系统，包括：每个公端接插件均并联有一个第一类电阻，当公端接插件和母端接插件插接时第一类电阻彼此之间形成串联构成第一类电阻串，第一类电阻为固定阻值电阻；每个母端接插件并联有一个第二类电阻，当公端接插件和母端接插件插接时第二类电阻彼此之间形成串联构成第二类电阻串，第二类电阻阻值各不相同；第一类电阻串的第一端或其第二端串联所述采样精密电阻；本发明还公开了利用上述高压互锁装置断路检测系统进行断路检测的方法。本发明利用电阻矩阵实现检测，具有较高的抗电磁干扰能力，能够准确的判断接插失效的接插件编号(位置)，本发明相对现有技术制造成本更低。

电梯封星控制检测方法、系统、检测设备及存储介质 847     

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本申请实施例涉及电梯运维技术领域，公开了一种电梯封星控制检测方法、系统、检测设备及存储介质，该方法包括：在待检测电梯内无人的情况下，控制待检测电梯运行至预设楼层；断开待检测电梯的运行接触器和制动器接触器并闭合封星接触器，使待检测电梯溜车；获取待检测电梯的溜车速度，判断溜车速度是否大于预设的安全速度，并闭合所述待检测电梯的制动器接触器；若溜车速度小于或等于安全速度，则确定待检测电梯的封星控制有效；若溜车速度大于安全速度，则确定待检测电梯的封星控制失效，停用待检测电梯，从而自动检测封星接触器使得电动机形成的星形回路是否发生断线，及时排除安全隐患，保证乘梯人员的安全。

具有过零检测功能的驱动电路及过零检测方法 868     

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本发明提供一种具有过零检测功能的驱动电路及过零检测方法，包括：控制输出电压及耦合跌落信号的功率开关管；提供上拉电流的上拉驱动管；提供第一、第二下拉电流的第一、第二下拉电流的第二下拉驱动管，第一下拉电流大于第二下拉电流。电感开始放电时，第一下拉电流和第二下拉电流共同对功率开关管的栅端下拉，功率开关管处于截止状态；经过设定时间后，第一下拉电流被关断，其中，设定时间小于电感放电的时间；电感放电结束时，功率开关管的寄生电容耦合跌落信号，当检测到跌落信号后，上拉电流对功率开关管的栅端上拉，功率开关管处于导通状态。本发明通过优化驱动时序避免了常规驱动电路过零检测的失效或误检测的可能性，提升了系统可靠性。

SCR系统诊断装置的检测工装以及检测方法 817     

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一种SCR系统诊断装置的检测工装，包括作为负载模块的电压可调输出模块、电阻可调模块、短路模块和功率模块、第一CAN通讯模块、第一接口以及MCU控制器，所述电压可调输出模块、电阻可调模块、短路模块、功率模块、第一CAN通讯模块以及第一接口均与所述MCU控制器连接，且所述电压可调输出模块、电阻可调模块、短路模块、功率模块以及第一CAN通讯模块均与所述第一接口连接，所述第一接口具有对应各负载模块的多个引脚，形成对应各负载模块的检测通道。本发明可高效自动化检测，节省检测时间以及人力投入，可批量检测，并且检测精度高，覆盖各种工况，避免了人为原因导致的误判，排除了早期失效元器件对设备的影响。

微细铣刀在机多视角视觉检测仪及其检测方法 873     

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本发明涉及一种微细铣刀在机多视角视觉检测仪及其检测方法。该微细铣刀在机多视角视觉检测仪通过正气压和气动柱塞双重防护设计，保证光学元件在有切削液、油雾和切屑的恶劣加工环境中不受污染、可靠运行。并基于远心光学平行投影成像原理，采用半透半反射镜，使用单相机可同时实现径向和轴向两个观测视角，并利用背光、前光和上光三种类型的光源，自动完成微细铣刀的长度和直径测量、折断检测、径向与端部的表面磨损观测多种功能，从而及时检测微细刀具的失效，避免进一步破坏加工表面、降低加工精度。

检测电迁移峰值电流的测试结构和方法 1025     

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本发明公开了一种检测电迁移峰值电流的测试结构，包括左右完全对称的本身都为上下对称结构的左右半测试结构；左右半测试结构都包括串联在一起的n级连接结构，各级连接结构由对应级的金属线并联而成；各级金属线的宽度按比例缩小以及数量按比例增加，各级连接结构中的所有金属线的宽度和相等；左右半测试结构的第n级连接结构串联在一起，第1级连接结构作为应力电流或电压的输入端。本发明还公开了一种检测电迁移峰值电流的测试方法。本发明能大大减少所需测试键的数量，节约面积成本；能避免由于测试键位置不同引起的工艺差异造成对峰值电流性能的影响；能结合失效分析快速找出失效位置，进而能优化后段金属互联的工艺窗口。

用于紧固件的松动检测装置及其检测方法 736     

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本发明提供了一种用于紧固件的松动检测装置，包括：第一部件，设有第一耦合电路；第二部件，设有与第一耦合电路互补的第二耦合电路；RFID芯片；当紧固件处于紧固状态时，第一耦合电路与第二耦合电路相连通，RFID芯片有效；当紧固件处于松动状态时，第一耦合电路与第二耦合电路不连通，RFID芯片失效。本发明还提出了一种该松动检测装置的检测方法。该松动检测装置采用无源设计的RFID芯片，便于安装更换、成本低，能够防水抗振，且可重复使用，并能够在线、快速、准确地对紧固件松动进行检测诊断，检测效率高。

管道内检测零部件耐磨性能试验平台及检测方法 963     

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本发明涉及一种管道内检测零部件耐磨性能试验平台，检测方法，属于油气管道测试技术领域，包括承载平台、旋转机构、零位传感器、激光位移传感器、油气管道、被测零部件、动力机构、计算机、采样控制器和激光控制器；通过将不同的零部件暴露于激光传感器的检测区域内，将检测到的待测零部件的磨损量传输给采样控制器和计算机，实时记录零部件的磨损量和旋转次数，计算机以数据报表和曲线输出的形式显示给用户。所发明的自动化测试系统，提高了工作效率，明显提升了耐磨试验效果，同时简化了用户的工作量，减少管道内检测的失效概率，降低了用户的使用难度。

滑动门装置的防夹检测方法及检测装置 938     

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本发明公开了一种滑动门装置的防夹检测方法，包括：步骤一、图像采样；步骤二、图像数据转换为亮度数据；步骤三、亮度数据分区并计数；步骤四、更新基准数据并判断障碍物。本发明运用于观光电梯等亮度较高的环境下，能够更可靠地检测障碍物；当照明灯条或摄像机部分失效时，能够使失效部分不影响其他部分正常运行；并且能应对水平面上照明灯条的左右窄幅振动。本发明还公开了一种滑动门装置的防夹检测装置。

马达的检测装置及检测马达性能的方法 1004     

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现有的半导体工艺中，由于马达设置在密封腔内，因而针对某些马达被锁定误判为性能失效的情况，通常需打开密封腔以进行检测，上述打开密封腔需中断制程，耗时且麻烦。针对上述问题，本发明提出一种马达的检测装置及检测马达性能的方法，在现有的马达驱动电路基础上，再设置一套与马达相连的检测电路，以备马达在某一位置临时被锁定而非马达自身性能失效后，不打开密封腔，采用额外设置的检测电路对马达进行驱动。

信号检测电路、DC/DC转换器、检测方法及存储介质 699     

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本发明提供了一种信号检测电路、DC/DC转换器、检测方法及存储介质，信号检测电路包括检流电阻、第一信号采集处理子电路、第二信号采集处理子电路和诊断校验单元。第一信号采集处理子电路用于获取检流电阻的第一电流信号；第二信号采集处理子电路用于获取所述检流电阻的第二电流信号；诊断校验单元用于根据所述第一电流信号和所述第二电流信号，诊断检流电阻、第一信号采集处理子电路和第二信号采集处理子电路的失效模式；其中，失效模式包括ASIL D所需要覆盖的信号故障类型。本发明提供的信号检测电路的结构简单，易于实施；本发明提供的信号检测电路、DC/DC转换器、检测方法及存储介质，能够以较低的成本，提高安全机制的诊断覆盖率。

具有微影光阻检测图案的光刻及其检测方法 1153     

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本发明提供一种具有微影光阻检测图案的光刻及其检测方法,其利用形成于光刻上的四个检测图案来对第一层光阻的曝光情况进行光刻置放判断,其克服了传统程中需要完成第一层与第二层微影光阻图案化后才能对第一光刻置放进行校对的缺陷,进而避免制程成本上的浪费,且根据检测图案的图形的扭曲位置可提供工程师获得更多制程失效的相关信息。

验证检测设备检测结果是否正确的方法 744     

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本发明公开了一种验证检测设备检测结果是否正确的方法,涉及半导体的检测工艺。该方法包括:提供具有工作区域和虚设区域的芯片,由数条位线和字线组成,虚设区域不参与工作区域的电路工作,虚设区域的位线或字线连接有熔丝,且与工作区域的预设位线或字线电路连接;打断熔丝,工作区域的预设位线或字线失效,连接熔丝的虚设区域的位线或字线代替工作区域的预设位线或预设字线,得到失效的实际物理地址;使用检测设备检测芯片,输出检测物理地址;比较实际物理地址和检测物理地址是否一致可检测出该检测设备是否正常。相较现有技术,熔丝比较大,方便使用聚焦离子束或激光进行打断。在虚设区域加熔丝电路设计,不需要增加芯片的整体面积。

用于生物安全检测、控制、报警的装置及方法 1051     

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本发明公开了一种用于生物安全检测、控制、报警的装置及方法,该装置除具有一形成空气通道的壳体、至少一过滤器、一进气口及一出气口,其还包括:至少一风速传感器、至少一压差传感器、至少一风速变送器、至少一压差变送器、一数据处理器、一显示器、一报警器、一风机,上述过滤器为高效过滤器,风速传感器为热球式风速传感器,压差传感器为硅电阻微压差传感器,风速变送器为热球式热平衡型微风风速变送器,压差变送器为硅电阻力平衡式微压差变送器,数据处理器为CPU或MPU数据处理器。该方法可用于上述装置上。本发明可准确检测过滤器(HEPA或ULPA)的失效、破损并准确报警,并在低风速、弱负压时进行自动的补偿和控制。

幕墙结构密封性检测系统及检测方法 769     

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本发明涉及一种幕墙结构密封性检测系统及检测方法，包括：安装于所述密闭空腔内的单片机；安装于所述密闭空腔内且与所述单片机连接的气压传感器，用于检测所述密闭空腔内的实际压力值P实；与每个所述单片机连接且位于所述密闭空腔外的判断单元，用于分析每个所述密闭空腔的实际压力值P实数据并判断每个所述密闭空腔的密闭性是否失效；与所述判断单元连接且位于所述密闭空腔外的显示单元，用于显示每个所述密闭空腔密闭性的判断结果。本发明针对每个幕墙板的连接处进行实时地检测，能够更快速准确的定位出幕墙结构上密闭性失效的位置，避免了淋水试验容易对建筑造成损坏的问题。

凝血分析仪及其样本码扫描系统 825     

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本实用新型公开了一种凝血分析仪及其样本码扫描系统，样本码扫描系统包括：样本盘；支撑座和设置于所述支撑座的驱动组件，所述驱动组件包括电机、同步带轮、轴承套以及同步带，所述同步带轮与所述电机的输出端周向固定，所述同步带轮与所述轴承套通过所述同步带转动，所述轴承套与所述样本盘周向固定；所述支撑座固定连接有芯轴，所述芯轴与所述轴承套通过轴承连接；固定在所述支撑座上的罩壳，所述罩壳罩设在所述样本盘外侧，且所述罩壳设置有扫描透明窗；扫描器，所述扫描器设置于所述罩壳外侧且与所述扫描透明窗相对。该样本码扫描系统的结构设计可以有效地减少输出轴失效的情况，并且便于维修。

基于子信号趋势分析的六自由平台电动缸健康评估方法 765     

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本发明公开了一种基于子信号趋势分析的六自由度平台电动缸健康评估方法，收集电动缸在状态良好、初步损伤、故障发展、即将失效四种状态下的电压、电流、温度、振动的数据作为数据集；将数据集输入到调整后的SSTA算法中进行特征提取；将提取到的特征输入到SVM中进行训练获取训练好的神经网络；在开关机时电动缸运行垂直升降动作并采集电动缸数据，并将采集到的电动缸数据使用训练好的神经网络进行健康状态评估。本发明对SSTA算法进行了调整，使原本只能用于旋转机械振动信号下的算法也能够适用于飞行模拟器环境下的非振动数据。

基于贝叶斯模型的SRAM电路良率分析方法 1079     

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本发明属集成电路技术领域，涉及集成电路可制造性设计中静态随机存储电路良率分析方法，本方法中，首先使用互信息和序列二次规划，对高维SRAM电路的扰动空间进行降维，实现高维SRAM电路最佳平移矢量的快速计算；然后建立低维和高维SRAM电路性能分布的贝叶斯模型；最后，使用低维SRAM电路的先验知识，可极大地加速高维SRAM电路性能分布的拟合，大幅减小高维SRAM电路仿真次数，获得符合精度要求的SRAM失效率。实验结果表明，本发明提出的方法明显优于目前国际上已知的最好方法，可实现6‑7倍加速比。

针对大规模SRAM阵列电路后仿真的高效良率分析方法 1116     

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本发明属于集成电路技术领域，涉及一种针对大规模SRAM阵列电路后仿真的高效良率分析方法。本发明利用小规模SRAM阵列电路和大规模SRAM阵列电路的相关性，将小规模SRAM电路作为低置信度源，大规模SRAM电路作为高置信度源，对小规模和大规模SRAM电路的性能关于工艺参数构造多置信度高斯过程模型；采用自适应迭代的策略，以小规模SRAM电路的最优偏移向量作为起始点，迭代地搜索和更新大规模SRAM电路的最优偏移向量，并迭代地构造及更新多置信度高斯过程模型，提出通过求解一个多模态优化问题，得到小规模SRAM电路最优偏移向量附近的失效边界，将其加入大规模SRAM电路的初始建模中，进一步提高算法的收敛速度。该方法能大幅减少大规模SRAM阵列后仿真良率分析所需仿真次数。

结构化的PFMEA分析系统及其方法 743     

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本发明提供了一种结构化的PFMEA分析系统及其方法，用于将分工序或工步的功能要求和失效模式与项目及产品的功能要求和失效后果进行有效的梳理和结合，最终自动生成高质量的PFMEA报告。