本申请涉及一种污染源颗粒物在线分析仪,其包括PM颗粒物传感器、处理器模块、液晶屏模块、存储模块,存储处理器模块处理后的数据;清理模块、气泵以及IO控制模块,所述IO控制模块的输入端连接于处理器模块,所述IO控制模块的输出端连接于气泵,所述气泵的出风口正对PM颗粒物传感器模块中的检测端头,保障在恶劣的高浓度环境下,启动自吹扫控制装置,防止分析仪器宕机,避免了监测分析数据失效。
本实用新型涉及水质检测技术领域,尤其涉及一种总有机碳分析仪裂解用加热装置,通过于刚玉管的外壁上设置至少两个沿刚玉管的轴向方向呈螺旋状的条状凹槽,并于每个条状凹槽中均设置有电热丝,且设置该条状凹槽为螺纹凹槽,从而提升了电热丝与刚玉管的导热性,进而能大幅缩短刚玉管的加热时间、提升裂解加热效率并且提升电热丝的稳固性;并通过将电热丝起始端的弯折段设置于刚玉管的侧壁内,且该弯折段未与所述螺旋段连接的一端穿出所述刚玉管的侧壁,从而使得电热丝与刚玉管的固定更加稳固;且通过设置在刚玉管上的各电热丝分别由不同的电源驱动,当其中一个电热丝损坏或者失效时,其他电热丝依旧可以工作,从而能够保证测试流程的顺利完成。
本发明公开了一种晶圆质量分析方法,通过判断整盒晶圆的良率是否低于设定值并且在测试项目下的结果是否在设定范围内;判断整盒晶圆在测试项目下的失效晶粒分布情况判断是否属于已知的失效分布类型;判断整盒晶圆在测试项目下的失效晶粒分布是否出现判定的整盒晶圆留置类型;判断单片晶圆在测试项目下的失效晶粒分布是否出现判定的单片晶圆留置类型来判定晶圆的失效分布类型,并根据晶圆的失效分布类型对于晶圆进行质量分析。本发明的晶圆质量分析方法比较客观并且分析时间较短。
本发明揭示了一种晶圆区域性问题的分析系统及方法。本发明提供的晶圆区域性问题的分析系统包括失效抓取模块,抓取每个测试点的失效情况;失效模型模块,具有设定的失效模型;失效模型匹配模块,根据所抓取的每个测试点的失效情况,与所述失效模型进行匹配,当获得匹配时,输出对应的多个测试点的位置和失效代码;待处理模块,根据所述多个测试点的位置,获得在所述多个测试点周围区域测试通过的点的位置,列为有风险的测试点。本发明使得测试通过的点更稳定,避免功能性分析滞后,提高了良率。
本发明提供了一种液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法,该方法包括以下步骤:A、分析液晶面板显示异常的表现方式,寻找加电方式的依据;B、研究液晶面板显示驱动芯片的各引脚的功能,确定需要进行电性判断的引脚;C、根据芯片的引脚布局图和PCB板的引线布局图,确定在开盖前的电性测量位置,测量开盖前的电性;D、开盖后,使用探针直接探测芯片的引脚,进行加电测量,得出开盖后的电性特征;E、开盖前后的异常电性对比,判断失效点在封装级还是在晶圆级。本发明通过该种适合于液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法,能够有效、合理地对开盖前后的电性特征进行比对,便于后续做出失效点是在封装级还是在晶圆级的判断。
一种车灯透镜太阳光聚焦分析装置,涉及汽车灯具投射单元的潜在失效模式的分析验证装置及其使用方法,尤其涉及太阳光经车灯透镜聚焦形成的焦斑导致透镜周边零件烧蚀的分析验证,包括底座,透镜固定器和试件固定器,底座上设有水平旋转台和倾角调节机构;倾角调节机构由固定支撑臂和垂直摆臂连接构成;透镜固定器固定在垂直摆臂上;试件固定器安装在透镜固定器的下方的试件升降台上,将试件夹持固定在透镜固定器下方的太阳光聚焦观测区内。本装置利用水平旋转台和倾角调节机构带动试件与车灯透镜实现360°全方位旋转,能够在一天中任意有阳光的时间获得期望的透镜与太阳光的相对角度,聚焦观测分析过程不受实际太阳高度的影响。
一种车灯透镜太阳光聚焦分析装置及其使用方法,涉及汽车灯具投射单元的潜在失效模式的分析验证装置及其使用方法,尤其涉及太阳光经车灯透镜聚焦形成的焦斑导致透镜周边零件烧蚀的分析验证,包括底座,透镜固定器和试件固定器,底座上设有水平旋转台和倾角调节机构;倾角调节机构由固定支撑臂和垂直摆臂连接构成;透镜固定器固定在垂直摆臂上;试件固定器安装在透镜固定器的下方的试件升降台上,将试件夹持固定在透镜固定器下方的太阳光聚焦观测区内。本装置利用水平旋转台和倾角调节机构带动试件与车灯透镜实现360°全方位旋转,能够在一天中任意有阳光的时间获得期望的透镜与太阳光的相对角度,聚焦观测分析过程不受实际太阳高度的影响。
本发明公开了一种基于代理模型的转静子系统碰摩可靠性分析方法,包括步骤1:建立转静子碰摩的有限元仿真模型;步骤2:找出设计阶段、加工及装配、工作运转环节中存在的不确定参数,通过灵敏度分析确定影响转静子碰摩的主要不确定性来源及各参数的概率分布类型,输入参数;步骤3:利用自适应实验设计算法,在基于极限状态曲面附近添加精心选择的样本,构建代理模型来替代有限元仿真模型;步骤4:利用训练后的代理模型,在给定的初始转速下预测MCS样本点的功能响应,根据功能响应结果计算失效概率;步骤5:在所考虑的转速范围内,迭代增加转速,重复步骤4,依次计算每个转速下的失效概率,最终得到失效概率曲线。
本实用新型提供了一种彩色显像管残余气体分析设备,它包括抽气装置、质谱分析装置和取样装置。抽气装置包括顺序相连的机械泵、吸附阱和分子泵,分子泵的进口端分别通过管路与质谱分析装置和取样装置连通。质谱分析装置包括四极质谱计、超高真空电离规、溅散离子泵和质谱分析室,四极质谱计、超高真空电离规和溅散离子泵分别通过管路与质谱分析室连通,质谱分析室还通过管路分别与抽气装置的分子泵和取样装置连通。取样装置为取样管道。利用本分析设备能分析出彩色显像管内的残余气体成分及其分压力,还能在较短时间内测量出彩色显像管的扫屏放气性能,用其判定彩色显像管的内在真空质量,进而判定或比较制屏工艺与材料包括排气工艺与设备的优劣,预估因真空因素导致失效的整管寿命水平,具有实际应用价值。
本发明公开了一种低压开关配件振动冲击实效仿真分析方法,所述方法包括如下步骤:a)建立低压开关配件的有限元模型;b)分析低压开关配件在振动冲击下的内部应力大小及分布;c)根据分析结果,对低压开关配件的结构进行优化。本发明首次提供了一种低压开关配件振动冲击实效仿真分析方法,通过本发明方法能够得到低压开关上盖在受到连续的冲击力载荷下,其内部的应力及分布情况,从而为低压开关配件在振动冲击情况下避免实效进行结构优化与设计提供了依据;本发明应用性强,可用于低压开关元器件的振动冲击失效分析中,对低压开关的性能监测具有重要价值。
本发明公开了一种低压电器配件振动冲击实效仿真分析方法,所述方法包括如下步骤:a)建立低压电器配件的有限元模型;b)分析低压电器配件在振动冲击下的内部应力大小及分布;c)根据分析结果,对低压电器配件的结构进行优化。本发明首次提供了一种低压电器配件振动冲击实效仿真分析方法,通过本发明方法能够得到低压电器支撑架在受到一定加速度值的外力冲击下,其内部的应力及分布情况,从而为低压电器配件在振动冲击情况下避免实效进行结构优化与设计提供了依据;本发明应用性强,可用于低压电器元器件的振动冲击失效分析中,对低压电器的性能监测具有重要价值。
本发明提供的用于判定GOX击穿失效的样品制备方法,其在对隔绝氧化层进行机械研磨后使用BOE溶液腐蚀去除多晶硅层上剩余隔绝氧化层,降低了研磨处理伤害样品的风险,提高了样品处理的成功率;使得多晶硅层厚度均匀,便于后续步骤的控制;可以实现剩余隔离氧化层的完全去除,使得多晶硅层表面无氧化物残留,保证了样品的洁净度,使得SEM观察无干扰。同时采用新型高腐蚀选择比的碱性溶液腐蚀去除多晶硅层,由于腐蚀选择比高,腐蚀时间延长,使得腐蚀过程易于控制,最终可以呈现一个均匀、完整、洁净的GOX用于SEM进行全方位观察,大幅提高了击穿点观测的成功率和精确度。
本发明公开了一种轨道短时失效情况下对地定向姿态的计算方法,包括:判断轨道数据有效状态;当轨道数据有效时,利用当前时刻的轨道信息计算当前时刻的J2000系到轨道系的姿态转化矩阵信息;当轨道数据无效时,利用上一周期的J2000系到轨道系的姿态转化矩阵信息和轨道角速度信息拟合计算当前时刻的J2000系到轨道系的姿态转化矩阵信息;以及基于当前时刻的J2000系到卫星本体系的姿态转化矩阵信息和陀螺测量角速度信息计算卫星本体系相对轨道系的姿态角和姿态角速度。
本发明揭示了一种基于疲劳失效的阀体保护方法,包括如下步骤:S100、数据采集:对阀体进行硬件测试,采集固定时间内阀体运用不同数目阀块允许工作时间及每个阀块的执行周期等数据;S200、算法植入:根据采集的数据进行损耗寿命算法的撰写植入以及判别算法的撰写植入;S300、算法运算:统计任意时间段内不同数目阀块工作出现的次数,通过损耗寿命算法计算输出,并通过判别算法判断是否需要对阀体开展保护措施。本发明设计合理,引入了阀体实时工作中损耗寿命或者疲劳值F这一概念,对不同数目的开阀进行了区分,对阀体工作状态有了更好的评估,可以更加精确的对阀体进行保护,有效提升了阀体的使用寿命。
本申请公开了一种内部微短路失效安全锂离子电池。所述电池的电极组的隔膜和电极之间设有电子导电耐热涂层,装配后涂层接触锂离子电池的一极并在正常充放电循环中保持电化学惰性。所述涂层电导率可调。当微短路发生时,初始接触点是所述导电耐热涂层,电池不会快速进入热失控,从而赢得更多的处理时间;同时电能以可控的方式缓慢释放的效果等同于自放电率的增加,从而电池管理系统可以监测报警并主动采取安全措施。
本发明公开了一种设备功能故障分析模型的构建及分析方法、装置及设备,该模型构建方法包括:获取设备的基础数据,对基础数据进行分析得到设备的各层级的功能关系,基于设备的各层级的功能关系确定各层级的设备的功能和对应的失效模式,以及各层级的失效模式与相邻层级的影响关系,基于各层级的设备功能和对应的失效模式,以及各层级的失效模式与相邻层级的影响关系构建设备功能故障分析模型。通过对基础数据进行分析准确的得到设备之间作用关系,为各层级的设备确定失效模式可以更加快速准确的判断当前失效模式对整体设备的影响,通过建立设备功能故障模型,提升了设备管理的水平,对设备的安全运行提供安全保障。
本发明公开了一种电压调整器动态EMMI分析系统及分析方法,包括:EMMI平台、PCB基板、外部电源、信号发生器、V‑I源。PCB基板置于EMMI平台上,PCB基板上通过插针安装有夹具一和夹具二,PCB基板包括信号端、电源端、公共地、负载端4个端口,4个端口分别与信号发生器、外部电源、系统地、V‑I源相连,夹具一和夹具二分别用以安装失效电压调器和正常电压调整器。通过包含外部电源、信号发生器、V‑I源在内的动态EMMI分析系统,能够使电压调整器内部器件进入工作状态,从而有效激发能够被微光显微镜获所取的缺陷。将失效电压调整器和正常电压调整器进行相同方式的加电,并且通过开关进行统一切换,能够快速实现动态EMMI图像的对比。
本发明涉及一种晶圆缺陷分析方法,包括:完成特定工艺步骤后,检测所述晶圆,将其上的晶粒分为缺陷晶粒和非缺陷晶粒,并按每个所述缺陷晶粒内的缺陷数对所述缺陷晶粒进行分类,得到第一检测结果;所有工艺全部完成后,对上述晶圆进行性能测试,将其上的晶粒分为工作晶粒和非工作晶粒,得到第二检测结果;根据所述第一检测结果和所述第二检测结果,对所述晶圆的晶粒进行再次分类;计算每种缺陷引起的缺陷诱致失效率和良率损失。本发明的晶圆缺陷分析方法准确可行,解决了现有技术缺陷分析不准确的缺陷。
本发明属于制盐装置检测技术领域,具体为一种真空制盐复合板蒸发罐异常泄漏的综合分析方法。具体步骤为:一、现场调查蒸发罐的设计结构、工艺参数、运行工况;二、对失效的真空制盐蒸发罐进行外观检查;三、对失效蒸发罐进行切割取样和介质采样;四、采用一种或多种理化检验方法对复合板蒸发罐试样进行试验分析;五、采用一种或多种检测手段对蒸发罐所处工艺介质进行成分分析;六、综合以上的分析步骤,从现象到本质,确定蒸发罐失效的主要原因。本发明通过对真空制盐系统失效蒸发罐进行系统有效的分析后,可以快速、准确地判断出蒸发罐失效的根本原因,进而采取针对性的预防措施。本方法对石化、化工、冶金等其他领域蒸发罐的安全使用也有实用价值和指导意义。
一种用于海洋工程的光纤采集分析双备份装置的控制系统,包括检测模块、数据源、数据判别模块、数据分析模块、外接设备。检测模块用于检测目标物的物理量,并将检测信号传输给数据源。数据源负责将检测模块提供的检测信号转化为系统可用的数据,并将可用数据分组提供给其他模块。数据判别模块用于是否接收到所述数据源的数据。数据判别模块用于将收到的数据传递给数据分析模块。数据分析模块用于分析由数据判别模块传递来的数据,并将分析后的结果发送到外接设备。外接设备用于接受、显示、储存分析结果等。该发明使用范围广泛,可在两个光纤传感分析仪同时运行的情况下使用,在两个光纤传感分析仪中有一台失效的情况下仍可使用。
本发明公开了一种应用沟道漏电衡量器件失效的方法,该方法包括步骤:测试不同偏置电压下的平均沟道漏电特性劣化率ASR,并多组采样;对于相同偏置电压下的ASR,比较分布求平均值;用幂指数模型拟合推导出工作电压下的晶体管沟道漏电劣化寿命。本发明应用沟道漏电衡量器件失效的方法,能对沟道漏电随着热载流子效应劣化作有效评价,进一步完善了低功耗器件的可靠性评价。
本发明提供了一种升降机接触器失效保护系统及方法,所述方法包括:带接触器的升降机主电路驱动控制升降机;与接触器的输出端连接的缺相保护器监测接触器的电压,电压故障时向PLC发送电信号;与升降机主电路和缺相保护器连接的PLC根据从升降机主电路和缺相保护器接收的电信号判断接触器是否故障,并在监测到接触器故障时控制升降机主电路失电并开启电机刹车。本发明能够在升降机主电路的接触器失效时起到硬件保护作用,由PLC控制升降机主电路,摆脱了其他元器件的干扰,使监测可靠性大大提高,对于任何有接触器的电路都可起到良好的保护,适用范围大、成本低、使用环境要求低。
本发明涉及一种车辆转向失效运行系统及其控制方法,其中,该车辆转向失效运行系统包括:转向系统,其通过连接组件来附接到多个轮上;制动系统,其通过制动管路来附接到多个轮上;车身姿势传感器,其构造为感测车身姿势;方向盘传感器,其构造为感测车辆方向盘的动作;以及通讯线路,其与所述转向系统、所述制动系统、所述车身姿势传感器和所述方向盘传感器电性连接。本发明的车辆转向失效运行系统及其控制方法,能够在车辆转向系统失效的情况下提供必要的转向能力,从而使驾驶员能够操作车辆靠边停车,提高了车辆的安全性和用户体验。
本发明提供一种用于定位失效位置的半导体工艺验证数字电路,其特征在于,包括:和输入测试信号发生器相连接的缓冲器单元;和缓冲器单元的输出端连接的测试单元;和测试单元的输出端连接的选择器单元;以及片选信号发生器,用于发出高、低电平,和选择器单元连接,其中,测试单元用于和待验证的数字电路连接。电路结构简单可靠,可通过测试机台调整建立时间和保持时间。严格控制数据通路(Data Path),数据流不会过度发散。严格控制金属连线的最大扇出(Max Fan‑Out)为2。一个扇出为4的连线可以分解为三个扇出为2的连线和两个Buffer,能够有效定位失效位置。当测试电路逻辑异常时,通过Verilog仿真结果确定失效位置或缩小失效位置的查找范围。
本发明公开了一种钻柱疲劳失效风险的评价方法,包括如下步骤:a.获取或测量目标井的井身结构,钻具组合结构和实际井眼轨迹参数;b.建立钻柱动力学有限元模型;c求解全井钻柱各节点截面屈曲应力、动态弯曲应力和动态轴向力以及修正动态弯曲应力;d求解全井钻柱各节点截面疲频系数;e.根据求得的疲频系数给出其与井深关系图,从而对钻柱是否具有较高的产生疲劳失效的风险进行评价,并确定出钻柱疲劳失效风险较高的位置。本发明既适用于钻井设计过程中钻柱疲劳失效风险大小的预测,进行钻柱结构参数和钻井参数的优化,也适用于实际钻井过程中钻柱疲劳失效风险大小的评估,研究钻柱疲劳失效的机理。
本发明公开了一种功率器件失效点定位方法,包含:步骤一,利用药液去除样品正面的金属铝层;步骤二,对除需要测试的芯片以外的区域进行全面的保护;步骤三,使用镀金机镀金,使样品表面形成一层较均匀的金属层;步骤四,在镀金区域选一平整的位置,使用FIB机台形成一个铂触点;步骤五,对失效芯片背面加压,正面垫的触点接地,进行测试以及失效点的定位。
本发明涉及半导体晶圆测试领域,提供了一种芯片失效的筛选方法,包括:在预设温度状态下进行芯片的回流焊实验,以使得所述芯片中金属层的第一压力上升为第二压力,得到所述第二压力状态下的芯片;当从所述预设温度状态进入常温状态时,在常温状态下对所述第二压力状态下的芯片进行功能测试和/或电特性测试,以筛选功能异常和/或电特性异常的芯片;其中,所述预设温度为大于常温的温度。本发明通过加剧早期失效芯片损伤状态后,在常温状态下测量芯片的功能、电特性,筛除功能异常或电特性异常的芯片,经过此方法严格卡控的良品芯片可大大降低芯片封装后出货的失效率,保证产品品质。
本发明公开了一种ATE快速获取存储器失效地址的方法,扫瞄整个失效位抓取RAM时,不再从起始地址开始读,而是先从矢量RAM中读取第一个失效周期,获取该失效周期指向的地址引脚状态,构造以字符表示的地址引脚状态与以数值表示的引脚状态的对应关系,然后将第一个失效周期对应的地址引脚状态转换成16进制行地址和列地址,将该行地址和列地址作为扫瞄整个失效位抓取RAM的起始地址。本发明能够合理使用ATE所存在的硬件资源,优化获取失效地址的方法,减少测试时间。
本发明涉及低压电器领域,具体涉及一种触点失效预警方,其通过测量开关电器的接触电阻,依据接触电阻得到接触电阻平均值,对多个接触电阻平均值进行拟合,并依据拟合得到的接触电阻拟合线,得到接触电阻预警线,判断后续获得接触电阻平均值中的一个或连续多个是否超过预警线,对开关电器的触点失效进行预警,不需要改动开关电器的原有结构,通用性好,而且测量方法简单,属于直接测量法,测量精度高,预警结果准确。
变频电梯机械制动器失效时的电气保护方法和装置,其特征是:利用电梯控制器实时地对电梯轿厢的位移及速度进行监测,发现在电梯控制器未发方向和速度指令时电梯轿厢有超过允许位移的发生,并且有一定的移动速度,即可判定电梯机械制动器失效,电梯溜车。此时可立即控制向变频器发送零速运行信号,利用变频器控制曳引电动机产生的零速转矩使电梯轿厢制停,保证出入电梯轿厢人员的安全。同时发报警提示信号,通知电梯轿厢内的人员迅速离开,然后控制关门。在确认机械制动器发生不可逆失效时,则控制电梯轿厢顺溜车方向以慢车速度运行,直至电梯运行到极限位置停车。这样即可避免电梯高速溜车造成剪切伤人和高速冲撞的重大事故发生。
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