合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 晶圆缺陷分析方法

晶圆缺陷分析方法

959   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:39
本发明涉及一种晶圆缺陷分析方法,包括:完成特定工艺步骤后,检测所述晶圆,将其上的晶粒分为缺陷晶粒和非缺陷晶粒,并按每个所述缺陷晶粒内的缺陷数对所述缺陷晶粒进行分类,得到第一检测结果;所有工艺全部完成后,对上述晶圆进行性能测试,将其上的晶粒分为工作晶粒和非工作晶粒,得到第二检测结果;根据所述第一检测结果和所述第二检测结果,对所述晶圆的晶粒进行再次分类;计算每种缺陷引起的缺陷诱致失效率和良率损失。本发明的晶圆缺陷分析方法准确可行,解决了现有技术缺陷分析不准确的缺陷。
声明:
“晶圆缺陷分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记