合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> SRAM单元及其检测方法、SRAM单元的检测系统和SRAM器件

SRAM单元及其检测方法、SRAM单元的检测系统和SRAM器件

863   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:59
一种SRAM单元及其检测方法、SRAM单元的检测系统和SRAM器件,SRAM单元包括:存储单元,包括第一反相器和第二反相器;传送单元,包括第一传送门晶体管和第二传送门晶体管,第一传送门晶体管和第二传送门晶体管的漏极分别与第一节点和第三节点电连接;字线,与第一传送门晶体管栅极和第二传送门晶体管栅极电连接;位线,包括第一位线和第二位线,第一位线和第二位线分别与第一传送门晶体管和第二传送门晶体管的源极电连接;与位线电连接的驱动单元,用于同时向第二节点和第四节点加载低电平;与位线电连接的读取单元,用于读取第一上拉晶体管和第二上拉晶体管的输出电流之和。通过所述SRAM单元可以侦测失效SRAM单元。
声明:
“SRAM单元及其检测方法、SRAM单元的检测系统和SRAM器件” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记