现有的半导体工艺中,由于马达设置在密封腔内,因而针对某些马达被锁定误判为性能失效的情况,通常需打开密封腔以进行检测,上述打开密封腔需中断制程,耗时且麻烦。针对上述问题,本发明提出一种马达的检测装置及检测马达性能的方法,在现有的马达驱动电路基础上,再设置一套与马达相连的检测电路,以备马达在某一位置临时被锁定而非马达自身性能失效后,不打开密封腔,采用额外设置的检测电路对马达进行驱动。
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