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检测晶格位错的方法

922   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:59
本发明公开了一种检测晶格位错的方法,包含如下步骤:选取失效器件进行电学测试,多次扫描测量其电压-电流曲线,观察多次扫描得到的电压-电流曲线有无逐渐变大或变小的情况;对失效器件进行烘烤,重新多次测量其电压-电流曲线,观察有无逐渐变大或变小的情况;对于确定电压-电流曲线发生变化的器件,进行微光显微镜定位,进一步缩小位错的范围;将器件进行研磨,用聚焦离子束进行切割,物理解析制样形成透射电子显微镜样品;采用常规透射电子显微镜观察方式进行位错观察,获得位错像。上述方法通过电学分析到物理分析的流程,分析位错并找出位错的位置,提高集成电路器件失效分析的效率,降低成本。
声明:
“检测晶格位错的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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