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本发明提供一种提高芯片平整度的去层方法，提供用于失效分析的芯片并确定失效分析的目标区域及失效分析的层；手动研磨目标区域，并研磨至目标区域出现梯度为止；在目标区域的所述梯度位置处填充Pt介质以平整研磨表面；对填充Pt介质后的目标区域继续手动研磨，若研磨至去除了失效分析的层以上的全部金属层时还未出现梯度，则研磨停止在失效分析的层上表面的介质层上；若研磨再次出现梯度则再次填充Pt介质直至将失效分析的层研磨出为止。本发明通过在研磨时出现梯度处填充一层介质，防止研磨梯度进一步增加，同时避免化学试剂腐蚀下层金属，大大提高样品的去层平整度，从而提高失效分析的效率和成功率。
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本实用新型公开了一种用于立体光学显微镜的样品台，其由下至上依次包括底座、滑座和载样台；所述底座与滑座之间设置纵向滑动机构，其包括相互配合滑动的纵向导轨和纵向滑块；所述滑座与载样台之间设置横向滑动机构，其包括相互配合滑动的横向导轨和纵向滑块，纵向滑动机构和横向滑动机构相互垂直设置。本实用新型通过将样品台分成三个部分，在三个部分之间通过设置滑动机构，从而实现上部载样台的左右和前后移动，当观测样品时，只需调整样品台的载样台的位置即可达到简接调节所要观测的样品位置的目的，从而避免了手动移动样品而造成的样品表面受损或受污染的情况，同时也为观测样品带来了便捷，进而提高了失效分析的效率。
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本实用新型提供了一种电子元器件用振动夹具，该夹具包括印刷线路板，所述印刷线路板上排列有多个焊锡盘组，每个所述焊锡盘组包括两个焊锡盘，所述焊锡盘上有多个通孔，所述每个焊锡盘都连接到所述印刷线路板的一个测试接口上。本实用新型优点是：本实用新型结构简单实用，单次试验的小型元器件数量大，且测试完成了可以很方便地进行效果测试，以及时分析元器件的失效情况，判断出振动试验效果。
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本发明提供了一种基于纳米颗粒的荧光二维码防伪标识方法，其包括如下步骤：建立防伪数据库；拍摄待测样品照片；提取所述待测样品照片中的识别编码，并将待测样品照片中的识别编码与防伪数据库中的信息进行比对，得到防伪识别结果；其中，所述范围数据库的建立方法包括如下步骤：制备荧光材料、制作防伪基底、制作防伪图样、拍摄防伪图片、提取特征信息、编码入库。本发明具有如下的有益效果：由于荧光材料在基底上分布完全随机，所以做出的防伪图样无法复制。可实现建模与防伪的全自动化。只需输入所拍样品照片，即可进行实时分析得到防伪结果。上转换荧光材料稳定性高，且高温下不褪色，所以制作出的防伪样张保存时间久，不易失效。
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本发明提供了一种基于不同退化趋势的设备剩余使用寿命估计方法，包括以下步骤：步骤S1：采集信号后进行滤波处理，随后进行信号包络调节，得到归一化的健康度；步骤S2：针对设备常见的退化形式建立设备退化模型；步骤S3：设定失效阈值，预测剩余使用寿命。本发明提供的基于不同退化趋势的设备剩余使用寿命估计方法实现系统和设备的实时在线监测、智能预警、智能诊断和寿命预测，提升设备可靠性分析和管理能力，从而辅助企业管理人员下达维修决策等。
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本实用新型涉及失效分析及理化检验中切割取样设备,尤其涉及金相砂纸研磨盘。一种金相砂纸研磨盘固定存放架,它包括:至少两个并列设置的存放单元,所述每个存放单元包括两个侧板和后部的连接板,相邻的两个存放单元共用一个侧板,而其下部设有2-3个垫块,所述各个垫块平行设置连接在存放单元下边以将固定存放架垫高。本实用新型的固定存放架能将研磨砂盘分隔存放,滤干研磨盘的水分,保证研磨盘不生锈。
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本发明公开了一种时间旅行和时态聚合查询处理方法，该方法采用基于时间旅行和时态聚合查询的分布式处理框架系统，该方法包括以下两个阶段：(i)全局修剪阶段和(ii)局部查找阶段；所述全局修剪阶段利用全局索引和查询输入来修剪不相关的分区；所述局部查找阶段主要根据本地索引和部分查询输入，在每个候选分区中检索符合条件的记录；在局部查找阶段使用不同的索引以支持时间旅行和时态聚合查询；所述时间旅行查询包括时间旅行精确匹配查询和时间旅行范围查询。本发明采用分布式内存分析框架，该框架易于理解和实施，但不会损失效率，该方法同时实现了时间旅行查询和时态聚合查询，能满足高吞吐量和低延迟的需求，能提高查询效率和查询速度。
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本发明公开了一种应用于电梯的复合式平层传感器，采用复合式多传感器，利用多传感器从不同方面测量同一组参数并进行比对和校正，解决了传统单传感器失效或故障导致的测量问题；相比传统的平层监测方案，可以实时监测电梯加速度、速度和位移等信息，不但可以在故障发生时及时的响应，还可以进行相关故障的分析与预测；可以完全放置于梯箱内，无需外装平层传感器和门磁传感器，安装方便，同时不对现有设施进行任何加装，改造和改装，安全可靠；相比其他采用多磁/多光电的监测方案，成本低，尺寸小，同时大大降低了设备安装成本；本发明还提供了一种应用于电梯的复合式平层传感器的使用方法，操作方便快捷。
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本发明提供一种用于透射电子显微镜俯视观察的芯片样品制备方法，包括：提供待测样品，在待测样品的顶面沉积第一保护层，使第一保护层覆盖以与待分析目标相垂直对应的待测样品的顶面部分为中心扩展的矩形区域；在第一保护层的四个顶角以及四条边缘的中心位置沉积呈正方形的第二保护层；沉积第三保护层，以完全覆盖第二保护层和第一保护层；去除位于第一保护层所覆盖的部分之外的待测样品，使待测样品的两个相平行的侧面的下部呈倒三角形；将待测样品的下部呈倒三角形的两个侧面之一附着于支撑台上；通过精磨去除第三保护层、第二保护层和第一保护层。根据本发明，可以将制备样品的时间控制在1小时之内，不会损伤待测样品中出现失效的部分。
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一种油井管螺纹接头拧接试验装置,其包含两种技术方案,均通过加载重物产生偏心矩,模拟井架上操作时管柱重心偏移井口中心的情形,从而达到仿真油井管现场端作业的目的。本实用新型可模拟油田现场操作时的螺纹拧接过程,仿真螺纹的受力状况,为研究螺纹接头破坏机理提供研究方法,便于油井管制造商掌握螺纹失效规律,为改进产品质量提供依据,也为油井管生产厂和使用者共同分析油井管螺纹失效异常提供有效的测试评价方法。
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本发明涉及一种用于密闭电池单电极电化学行为研究的三电极电解池，它是将电池的外壳底部开孔，开孔部位浸入装有电解液的并放置了参比电极的容器中，电池的正负极分别作为研究电极和对电极，与参比电极构成一个三电极电解池。本发明主要解决现有三电极电池，在实际正负极组成的电池中研究各个单电池的电化学举动，需要将原要分析的电池在惰性气氛环境下进行拆解，拆解过程中正负极易受环境影响发生副反应，极片的物料在拆解过程中也容易从箔材上脱落等，对三电极的组装造成困难等技术问题；对拟调查研究电池的实际状况几乎不构成影响的情况下，可以分别测试正极和负极的实际电化学行为，可用于电池的失效分析等领域。本发明操作简单、实施方便。
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本发明公开了一种电动汽车拖车工况的监控方法及其系统，本发明通过实时监测判断拖车工况下的拖车工况参数，能及时发现风险拖车工况，及早警示相关拖车人员和驾驶员，避免电机控制器的热损坏；并保存、记录风险拖车工况的相关工况参数，便于后续分析产品失效原因，以及澄清产品失效责任等方面的追踪调用；在本发明的电动汽车拖车工况的监控系统中，对于风险拖车工况的识别完全由电机控制器本身完成，所有信号的采集和处理都来自电机控制器内部，而不依赖于外部诸如整车水冷系统等，该监控系统的应用适应性好，扩展性强。
本发明公开了一种基于Weibull分布的MOS晶体管可靠性统计模型的建模方法，测试MOS晶体管的失效时间数据，经统计分析获得累积分布函数估计值和概率密度函数估计值，绘制累积分布函数曲线和概率密度函数曲线，以其为拟合标准，获得Weibull分布模型下的概率密度函数拟合曲线和累积分布函数拟合曲线，判断函数拟合曲线和绘制得到的函数曲线的相对误差是否在预定值之内，记录Weibull分布模型中的模型参数，得到失效时间和模型参数的查表文件的模型库，得到Weibull分布下MOS晶体管的可靠性统计模型。
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本发明提出一种平面TEM样品的制备方法，包含制备样品，使样品的断面的截面到达目标区域附近，切割样品到露出Poly层，湿法腐蚀，去除Poly，制备第一切割面，切割样品，在衬底内部制备第二切割面，最后完成平面TEM样品。本发明为制备观测多晶Poly下方的栅氧化层缺陷和硅衬底位错的TEM分析提出了一种基于现有技术的新方法，通过腐蚀Poly即可以去除Poly晶格对TEM观测的影响，又可以利用腐蚀剂对衬底的腐蚀准确定位栅氧化层中的缺陷。采用本发明方法能提高该类失效分析的质量和成功率。
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本发明公开了一种定位半导体芯片长距离金属线间缺陷的方法，包括步骤：1)对芯片进行研磨剥层处理，暴露待分析金属线的至少端头部分；2)在待分析金属线的端头附近，且与金属线没有交接的区域，垫积出与各条待分析金属线对应的金属垫；3)在待分析金属线的端头和对应的金属垫之间，垫积出用于连接端头和金属垫的金属条；4)在金属垫上扎针，进行光致阻抗变化测试，定出缺陷在金属线上的具体位置。该方法通过结合使用一系列的失效分析技术，实现了对特定长距离金属线间缺陷的更快速、准确和有效的定位。
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本发明属WEB与数据库技术领域,具体涉及一种新颖高效的基于服务格的替代WEB服务数据处理方法,此方法充分利用现有的WEB服务描述信息(如WSDL文档、UDDI元数据),分析WEB服务在各个粒度级别上的潜在语义关系,并利用服务格来表达WEB服务在各个粒度级别上的潜在语义关系,从而对服务集进行有效组织,并在有效组织的服务格上进行高效地检索给定WEB服务集中某个特定WEB服务的替代服务的方法。本发明的优点是当某个WEB服务失效时,利用该方法可以快速高效地找到失效服务的语义最相关的替代服务,从而保证了使用此服务的其他应用或系统的正常运行。
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本发明公开了一种样品固定装置，用于和样品承载台配合使用，样品承载台的中间区域具有第一孔和周侧的第一壁体，在第一壁体上形成有多个真空吸孔；样品固定装置的主体板具有中间区域的第二孔和周侧的第二壁体，第二壁体的最外侧边缘所围区域的尺寸大于真空作用区域的尺寸；在第二壁体的正面上设置有导电块；被测试样品通过热熔胶固定在第二孔中，被测试样品的正面上的电极衬垫通过引线和导电块连接；测试时，各真空吸孔对第二壁体的背面进行真空吸附固定。本发明能实现对尺寸小于真空吸孔的真空作用区域的尺寸的被测试样品进行真空吸力固定并实现测试；能很好的应用于采用SIL镜头的样品失效定位设备中，实现对裸片级的芯片样品进行失效分析。
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本实用新型涉及一种可编程智能位置传感器，包括：壳体，其上设有一个开口，开口上连接有盖板；印制电路板组件，设置在壳体内部，包含磁敏感元件、MCU、接口电路，所述磁敏感元件与MCU电连接，所述MCU与接口电路电连接；金属嵌件，与所述接口电路机械连接以及电连接，从壳体一端伸出壳体外与外置电源连接；磁性件，置于壳体外，固定在待感测的物体上，与所述磁敏感元件保持有效的磁感应距离。本实用新型通过采用内部集成敏感元件、MCU及接口电路的方式，实现了可于使用现场进行编程的功能，利用集成电路，可选择多种输出形式，节省了传统传感器功能失效后进行分析的时间并消除了模拟失效分析的误差。
本发明提供一种根据齿根残余应力分布定量估算齿轮局部疲劳强度的方法，包括：对不少于三种喷丸工艺状态下的齿轮残余应力分布以及弯曲疲劳强度进行测试；根据测试结果并结合Goodman关系获取残余应力值与弯曲疲劳强度限之间的定量关系系数；根据所述定量关系系数,设计合理的齿轮局部疲劳强度，并反推出需要的残余应力分布和实现此分布的合理喷丸工艺，或预测现有齿轮产品弯曲疲劳失效形式以制定合理的预防措施和改进喷丸强化工艺。本发明建立了齿轮齿根残余应力分布和其局部弯曲疲劳强度间的定量关联，创新性的提出了局部疲劳强度的概念，从而使残余应力作为力学参量能够定量进入到齿轮产品的设计阶段，并据此反推其合理的喷丸强化工艺。同时可对现有齿轮的弯曲疲劳失效形式进行分析预判，为其失效预防和喷丸工艺改进提供方向。
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本发明涉及半导体制造行业的失效分析领域，尤其涉及一种应用于光发射显微镜的固定装置，包括底座和位于该底座上的若干条挡块，且该底座与所述若干条挡块共同构成承载主体；所述若干条挡块之间形成了多个样品槽，且每相邻的两条挡块之间分别设置有一条滑块。该结构使得本发明的芯片测试结构不会被胶带遮挡而影响到探针扎针，芯片表面也不会受到污染；同时，芯片背面与固定装置底座充分接触，不会因倾斜而影响光发射显微镜的镜头聚焦；再次，当探针进行扎针时，针尖与芯片不会发生相对滑动，而且整个操作过程不涉及化学物品，安全无害。从而可以帮助分析人员快速、高效、安全地进行缺陷定位分析工作，提高了失效定位率和成功率。
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本发明提供一种预弯底部钻具组合(BHA)工作状态的快速评价方法，其利用专用测量工具测定预弯BHA的结构参数，通过材料拉伸实验确定预弯BHA所用材料的力学参数，结合加权余量法和有限元法，在得到预弯BHA横向振动的稳态动力学响应的基础上，建立预弯BHA的工作状态图版，从而可以快速评价实际钻井作业中预弯BHA的工作状态。利用该方法可以获得实际钻井过程中用到的预弯BHA的横向振动特性，得到其临界转速及工作状态图版，据此可以快速判断预弯BHA的工作状态。该方法可用于钻前分析以合理地设计预弯BHA的结构和优选钻井参数，也可用于钻后分析找出预弯BHA失效（如发生失效）的初步原因，因此具有较强的工程应用意义。
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本发明提供一种用于砷化镓半导体的结染色溶液及其结染色方法，所述结染色溶液包括由重量比值为1.5～4的硫酸(H2SO4)和过氧化氢(H2O2)组成，并在40～60℃的温度范围下混合制成的第一溶液，以及由重量比值为0.5～7的柠檬酸(C6H8O7)和过氧化氢(H2O2)组成，并在5～20℃的温度范围下混合制成的第二溶液。借此，利用第一溶液、第二溶液进行二次选择性蚀刻，以克服现有结染色溶液一次性蚀刻所导致的反应过激问题，并完成砷化镓半导体的结染色操作，且通过本发明结染色方法能够使砷化镓半导体的掺杂区域显现，并于光学显微镜与扫描式电子显微镜下皆可观测出明显轮廓，利于进行半导体的失效分析。
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本发明公开了一种高温生产设备或部件缺陷的安全性评价方法，包括获得生产设备或部件的材料在特定温度下的蠕变应变－时间曲线，并基于蠕变应变－时间曲线建立对应于特定时间的等时应力应变曲线；建立与时间相关的失效评定曲线图：计算确定反映部件发生断裂失效程度的参数Kr，以及用于确定反映构件发生极限载荷失效程度的参量Lr，最后将上述得到的参量(Kr，Lr)作为状态点放在失效评定图中进行比较，以确定失效评定点并判定是否安全。本发明提供的技术方法可用于高温生产设备或部件的制造及使用过程中缺陷的安全性分析，避免不必要的维修和保费，进而提高高温生产设备检修计划制定的合理性。
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本发明涉及一种树脂基复合材料损伤胶接修理结构强度评估方法及系统，通过实验研究不同使役条件下树脂基复合材料的力学性能演化及损伤机理，提出有效可靠的模拟仿真技术及演化模型，建立复合材料结构损伤失效的分析与评估系统，分析复合材料及其复杂构型的材料力学行为，为典型部位层合板修理提供技术参考和评估方法，为树脂基复合材料结构件在不同使役情况下的安全性、使用性和维护性提供分析方法和技术保障。此技术用来对复合材料修理结构进行有限元仿真分析，并对其原始结构、损伤结构进行强度对比，实现修理方案的可设计性。为复合材料微结构设计、结构分析和失效预测等提供帮助。
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一种对离散样本数据进行统计过程控制的方法,包括下述步骤:收集离散样本数据,根据统计分布函数计算所收集的离散样本数据的置信区间和双控制界限;根据计算所得的双控制界限,判断新收集的离散样本数据是受控数据或是失控数据;若新收集的离散样本数据为受控数据,根据统计分布函数重新计算用于计算原来的双控制界限的离散样本数据和新收集的受控数据的置信区间和双控制界限;若新收集的离散样本数据为失控数据,对所述的失控数据进行失效分析,查找产生失控数据的因素。本发明可以节省生产过程中收集离散样本数据所需耗费的成本和时间,进而降低生产过程中的测试成本以及缩短生产过程中的测试周期。
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本发明公开了一种复杂既有钢筋混凝土框架结构安全及经济性评估方法，通过现场测量结果确定本构模型，将分析工况分为地震工况和非地震工况，确定各工况下结构的不确定输入变量，确定结构在非地震工况下的各类失效模式以及失效效率的状态方程；对地震工况，随机选取地震波，将结构的层间位移角限值作为地震工况下结构在随机地震作用下的失效概率的状态方程；综合各类失效模式产生的经济损伤和避免结构失效而进行的加固维修花费，与结构在各类工况下的失效概率，对所述既有钢筋混凝土框架结构的安全性能及经济性进行评估。利用本发明可分析复杂既有钢筋混凝土框架结构安全性和可靠度，为既有钢筋混凝土框架机构制定合理的维修加固方案提供数据支撑。
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本发明公开了一种基坑施工风险管控方法，属于基坑施工风控领域。该方法包括：构建基坑施工的三维空间模型；获取监测设备的安装信息和位置信息以及基坑施工的进度信息导入所述基坑施工的三维空间模型中实现可视化展示；绘制监测时程曲线图；将监测时程曲线图对应监测点的位置信息添加到所述三维空间模型中实现实时地在线监控；将添加有监测时程曲线图的所述三维空间模型转换为力学模型，再将所述力学模型导入有限元模型中进行分析以得到分析结果；根据所述分析结果基于最不利原则计算出失效模式概率，根据预设的风险评估矩阵获取计算出的所述失效模式概率对应的风险等级。本发明可以更为科学地对基坑施工进行风险评估。
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本发明的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法包括以下步骤：寻找电子产品的最薄弱功能模块；设计加速退化试验；数据统计分析；以及确定可靠性模型；所述数据统计分析具体为：通过数据折算将步进加速退化数据转化成恒定应力加速退化数据；利用恒定应力加速退化数据拟合得到性能退化轨迹；根据性能失效阈值和性能退化轨迹得到伪失效寿命，将每个应力水平所对应的伪失效寿命数据进行分布假设检验，以确定伪失效寿命数据服从的分布函数；确定加速模型。本发明的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法解决了试验样本短缺，试验时间有限的问题，有效提高了电子产品的试验效率，同时缩短了电子产品的可靠性评估时间。
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本发明公开了一种基于空间聚类的wafer bin合并方法，涉及半导体制造业技术领域。通过空间聚类的方式，将构成同一失效模式的不同bin自动的进行合并，与此同时，具有混合失效模式的wafer bin map也能被分解为多个单一的失效模式，本发明相较于传统的人工视检减少了主观判定，解决了按单bin分析时失效模式不完整的问题，为后续的良率根因中的共性分析提供了坚实的数据基础。
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