合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 用于透射电子显微镜俯视观察的芯片样品制备方法

用于透射电子显微镜俯视观察的芯片样品制备方法

968   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:38
本发明提供一种用于透射电子显微镜俯视观察的芯片样品制备方法,包括:提供待测样品,在待测样品的顶面沉积第一保护层,使第一保护层覆盖以与待分析目标相垂直对应的待测样品的顶面部分为中心扩展的矩形区域;在第一保护层的四个顶角以及四条边缘的中心位置沉积呈正方形的第二保护层;沉积第三保护层,以完全覆盖第二保护层和第一保护层;去除位于第一保护层所覆盖的部分之外的待测样品,使待测样品的两个相平行的侧面的下部呈倒三角形;将待测样品的下部呈倒三角形的两个侧面之一附着于支撑台上;通过精磨去除第三保护层、第二保护层和第一保护层。根据本发明,可以将制备样品的时间控制在1小时之内,不会损伤待测样品中出现失效的部分。
声明:
“用于透射电子显微镜俯视观察的芯片样品制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记