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长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法

605   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:37
本发明的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法包括以下步骤:寻找电子产品的最薄弱功能模块;设计加速退化试验;数据统计分析;以及确定可靠性模型;所述数据统计分析具体为:通过数据折算将步进加速退化数据转化成恒定应力加速退化数据;利用恒定应力加速退化数据拟合得到性能退化轨迹;根据性能失效阈值和性能退化轨迹得到伪失效寿命,将每个应力水平所对应的伪失效寿命数据进行分布假设检验,以确定伪失效寿命数据服从的分布函数;确定加速模型。本发明的长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法解决了试验样本短缺,试验时间有限的问题,有效提高了电子产品的试验效率,同时缩短了电子产品的可靠性评估时间。
声明:
“长寿命、高可靠电子产品可靠性评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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