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本实用新型公开了一种废孔模块通用测试器，包括用于盛放废孔模块的底座以及和底座相对运动的夹紧板，夹紧板设有用于和废孔模块的表面金属接触的测试针，测试针连接于外部测试电路，八对测试针大体呈4x4矩阵分布，其中由上至下第二行和第四行的由左至右的第二根测试针均相对规范的矩阵分布向上偏移预设距离，预设距离大于废孔模块上废孔的直径。当智能卡模块加工失误打出废孔后，采用将与废孔位置对应的测试针上移预设距离的结构设计，使得部分悬空的测试针可以对准废孔模块的金属表面部分，进而反馈相应的电路信息至测试电路，可以有效便捷的获知废孔模块的失效状态以及失效原因。
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本实用新型公开了一种NTC或PTC表面测温温度传感器，包括一NTC或PTC热敏电阻；一带有至少两排单条压延铜线的FPC或FFC软排线或导线；所述NTC或PTC热敏电阻与上述FPC或FFC软排线或导线焊接在一起，且热压封装在由聚酰亚胺或PET塑料或芳纶或芳族聚酰胺或聚醚醚酮或硅橡胶制成的薄膜中。与现有技术相比，本实用新型利用带有两排单条压延铜线的FPC、FFC软排线技术与薄膜封热敏电阻封装技术结合，制成的表面测温温度传感器，解决了薄膜型温度传感器使用温区及应用范围较小、热敏电阻温度传感器因工艺制作困难而出现的失效问题，该表面测温温度传感器耐温区间为-50℃~270℃左右、耐2.8千伏高压，防水性能好，可靠性高，制造成本大大降低。
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本发明公开了一种断电测试方法及系统，该方法包括：获取断电位置变量，根据所述断电位置变量，跳转至指定跳转位置，并且失效断电位置；判定断电位置是否有效；若无效，则继续失效断电位置，并得到断电结果；将断电结果与预设结果匹配；若匹配，则生成提示信息，提示信息表征所述断电位置为允许断电位置；若不匹配，则生成告警信息，告警新表征断电位置为禁止断电位置。通过该方法，可以减少断电测试时间，提高了测试效率。另外，通过软件测试的方法，可以有效的降低断电测试的成本，并且断电位置更加准确以及可控。
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本实用新型提供一种可精确测试铅酸阀控蓄电池阀门质量的铅酸阀控蓄电池阀门测试装置。该装置包括测试台、气压泵、连接气管，测试台上设有贯穿测试台的出气口，连接气管的一端连接气压泵，另一端从测试台的背面连接出气口，出气口处设有压力传感器。把需要测试的铅酸阀控蓄电池阀门固定于测试台的出气口上，气压泵开始工作，不断产生压缩气体,阀门受到的压力不断增大，达到阀门设计的排气口开启压力时，阀门应该开启；如果未达到阀门设计的排气口开启压力时，阀门已经开启，可以判断阀门失效；同样的，如果超过阀门设计的排气口开启压力时，阀门不开启，也可以判断阀门失效，从而实现简单，快速精确地测试铅酸阀控蓄电池阀门质量的目的。
一种认知无线电网络中基于频谱转换探测的传输控制方法,包括以下步骤:获取当前节点与下一跳节点之间的时间特征;判断所述时间特征是否失效,若是,则根据所述时间特征发送频谱转换消息至源节点。上述认知无线电网络中基于频谱转换探测的传输控制方法通过时间特征来判断在当前节点的下一跳节点是否发生了频谱转换,在复杂的认知无线电自组织网络中有效地提高了探测的精确度以及速度,实现了传输源节点对频谱转换事件的及时处理,进而提高认知无线电网络中端到端传输的吞吐量。
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本发明涉及服务器领域，特别涉及一服务器在低温环境下的启动测试方法，该测试方法包括以下步骤：A.修改BIOS；B.更改Linuxg?Grub设置；C.通过串口外接测试主机，监控BIOS启动时的状态；D.修改系统配置文件：修改系统，以实现开机后自动关机，并记录开机时间；E.设定试验箱及AC?Source，保证服务器在完全冷透的情况下启动；F.收集测试log，测试结束。通过脚本使设备在开机后能正常关机，排除异常关机因素对设备的影响；通过对AC?Source以及脚本的设置，让设备及元器件每次都冷透后在启动以防止在设备还有余温的情况下对测试结果的影响；通过各个测试设备配合达到对测试结果（硬件，bios，操作系统）全方位记录以及对失效情况的回放。
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本发明公开了一种控制器状态监测装置,包括信息获取模块、自身信息存储模块、信息同步模块、对方信息存储模块。本发明还提供一种控制器状态监测方法,该方法通过获取控制器各组件的信息并同步至对方控制器,并接收对方控制器同步来的对方控制器各组件的信息,使得两个或多个控制器能够监测彼此各组件的信息。采用本发明所述的装置和方法,使得两个或多个控制器能够监测彼此各组件的信息,从而避免因不能及时发现对方控制器的组件失效,而影响磁盘阵列性能,甚至导致存储操作中断的问题。
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本申请涉及一种暴露产品薄弱环节测试方案的确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：获取目标产品的各组成部件，并确定与各组成部件分别对应的失效模式；确定与各失效模式分别对应的应力类型以及破坏程度等级；统计各应力类型分别对应的破坏程度总等级；依据各应力类型和各破坏程度总等级，确定测试方案；测试方案包括应力测试模式和应力测试顺序。本方法中的测试方案是针对目标产品的特性确定出的，因此按照本方法确定出的测试方案对目标产品进行薄弱环节激发测试，能够全面准确地暴露产品的薄弱环节。
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本发明提供了一种Monkey测试方法及装置，给待测试应用软件预先创建控件坐标数据库，从所述控件坐标数据库中选取当前显示界面的标识所对应的至少一个控件坐标；依次触发所获取的控件坐标；响应触发每个所述控件坐标所产生的伪输入事件，判断所述待测试应用软件是否出错闪退，如果是，捕获堆栈中所述待测试应用软件闪退前所响应的最后一个伪输入事件所调用的应用程序。从所述控件坐标数据库中选取控件坐标对待测试应用软件进行Monkey测试，由于每个控件坐标被触发时都能够产生伪输入事件，利用所述控件坐标数据库中的控件坐标进行Monkey测试执行有效，避免触发随机生成的点击坐标无法产生伪输入事件导致Monkey测试失效的问题，提高Monkey测试的执行效率。
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本公开涉及一种儿童安全座椅智能侦测控制系统、控制方法及存储介质。系统包括：儿童安全座椅和智能终端。儿童安全座椅包括安全带组件和智能侦测模组。智能侦测模组具有第一无线连接装置，且设置在安全带组件上，被配置为在侦测到安全带组件有效约束儿童乘员时，发出有效约束信号，并在侦测到安全带组件松脱时，发出约束失效信号。智能终端包括：第二无线连接装置；和播放管理器，在第一模式下当第二无线连接装置与第一无线连接装置维持无线连接的状态下收到有效约束信号时，播放智能终端的多媒体数据，并在第二无线连接装置与第一无线连接装置断开无线连接时或根据第二无线连接装置接收到的约束失效信号，暂停播放多媒体数据和/或播放警报信息。
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本发明公开了一种PCB板成品绝缘可靠性测试的图形结构,包括PCB板(1)、设于该PCB板一侧的工艺边(2)。该工艺边(2)上设有多排过孔和焊盘,每一排的过孔和焊盘通过一导线连接成一网络,并在该网络导线的一端设有一网络焊盘。本发明滑盖公开了PCB板成品绝缘可靠性测试的方法。本发明可以有效准确的批量测试每块PCB的设计、板材和工艺流程是否可以满足电性能的要求,准确评估不同PCB板的绝缘性能,以致杜绝不合格产品流入市场后发生PCB微短路而导致产品失效的现象。也可以实现抽样的小批量测试,在PCB设计、批量生产前期采用该测试方法,可以避免PCB微短路类似现象。
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本发明揭示了一种存储设备测试和自动分BIN的方法、装置以及设备。其中，一种存储设备测试和自动分BIN的方法，包括：测试自动分BIN机台根据测试结果数据信息，将已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别。自动分BIN机台根据测试结果信息，分别将三种类别的存储设备转移至对应的第二承载板，避免装有存储容量合格的第二承载板中，混有存储容量失效以及无法测试存储容量的存储设备。通过机器测试和分类的方式，大幅提高测试和分类存储设备的速度。通过上述操作，与现有技术相比，大幅提高测试存储设备容量和分类存储设备的速度，以及大幅降低存储设备分类出错的概率，从而提高存储设备测试效率和分类效率。
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本发明公开了一种NTC表面测温温度传感器，包括NTC热敏电阻和软排线或导线，所述NTC热敏电阻与软排线或导线焊接在一起形成焊点，且所述NTC热敏电阻及焊点热压封装在薄膜中。本发明将NTC热敏电阻与软排线或导线焊接在一起后，通过薄膜热压封装，并利用软排线连接器卡座，直接与PCB板连接；或导线引脚与PCB直接焊接。与现有技术相比，本发明利用软排线技术与薄膜封热敏电阻封装技术结合，制成的NTC表面测温温度传感器，解决了薄膜型温度传感器使用温区及应用范围较小、NTC温度传感器因工艺制作困难而出现的失效问题，该NTC表面测温温度传感器耐温区间为-50℃~270℃左右、耐2.8千伏高压，防水性能好，可靠性高，制造成本大大降低。
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本发明公开了一种电气元器件可靠性评价及寿命预测方法，其包括如下步骤：1)对电气元器件的触点材料的标准材料样片分别进行运行环境暴露试验和加速腐蚀试验，建立两环境试验的良好相关性，并寻求两环境试验试验时间的对应关系；2)对电气元器件进行步骤1)中的加速腐蚀试验，根据关键电气性能参数的失效判据，得到对应的加速腐蚀失效时间，并根据步骤1)中两环境试验试验时间的对应关系，得到电气元器件在实际运行环境下的失效时间。本发明先验证该电气元器件加速腐蚀试验与运行环境暴露试验的相关性，然后选用相关性良好的加速腐蚀试验对电气元器件进行可靠性评价和寿命预测，有效缩短试验周期的同时，提高了可靠性评价及寿命预测的准确性。
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本发明适用于电信技术领域,提供了一种测试DSL设备的SRA功能的装置、系统及方法,所述装置包括:对端DSL设备,用于配合待测DSL设备使用,获取与所述待测DSL设备之间的线路上所加载的噪声的强度;噪声加载设备,用于当待测DSL设备的SRA功能生效时,加载强度逐步加大的噪声至所述对端DSL设备与所述待测DSL设备之间线路中;当所述对端DSL设备与所述待测DSL设备发生重新协商时,所述对端DSL设备获取的噪声的强度是所述待测DSL设备的SRA功能失效的临界值。本发明使用自动化的手段来执行测试过程,在保证测试结果的同时也能很好地重复测试过程,提高了测试效率、解放了人力资源。
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本申请涉及一种TSV结构电击穿寿命测试方法、装置、系统和控制设备；所述方法包括在第一个温度循环周期内，通过信号采集设备采集待测TSV矩阵晶圆样品在初始电压下的初始漏电流；第一个温度循环周期为控制温度调节设备调节待测TSV矩阵晶圆样品的测试环境温度循环变化的第一个周期；在初始漏电流小于或等于预设值时，控制电源设备以初始电压为起点逐渐增大施加在待测TSV矩阵晶圆样品上的电压，并通过信号采集设备实时采集待测TSV矩阵晶圆样品的当前漏电流；在当前漏电流满足失效判据时，获取电源设备调节电压的总时长，并将总时长确认为待测TSV矩阵晶圆样品的失效时间，实现高效准确地测试TSV结构的寿命性能，实现高效准确地测试TSV结构的电击穿可靠性。
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本发明公开了一种媒体网关监测媒体网关控制器状态的实现方法,以解决现有技术中因媒体网关监测媒体网关控制器的状态需要依赖于媒体网关控制器配合而存在可能导致监测失效的问题。该方法通过在所述媒体网关上主动设置休止定时器或普通定时器和消息接收标志监测所述媒体网关控制器消息的静默时间,并在该静默时间超时时向媒体网关控制器发送通知消息以触发媒体网关控制器返回消息证明其状态正常;当所述媒体网关向媒体网关控制器注册后,根据返回的注册成功消息启动所述休止定时器或普通定时器开始监测所述媒体网关控制器的状态。
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本发明公开一种半导体器件测试方法及装置，应用于智能功率模块的性能测试，半导体器件测试方法包括：将半导体器件与耐压测试仪通过耐压测试连接导线短接至一起进行耐压测试；在耐压测试后，基于引脚间连筋对所述半导体器件的连接引脚进行切脚成型；在切脚成型后，对所述半导体器件进行电参数测试。本发明技术方案避免半导体器件测试时先切脚成型，再耐压测试时，造成半导体器件失效的问题，降低了测试失效成本。
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本发明公开了一种核电厂反应堆保护系统的测试方法，包括：根据核电厂事故发展阶段及每一阶段所触发的保护设备构建设备序列；每设置所述设备序列中的至少一个保护设备失效，则构建一个设备失效状态；在预先选定的事故场景中，分别获取每个设备失效状态下的核电厂运行参数变化曲线；随机选取一个变化曲线，并将所述变化曲线对应的运行参数输入至保护系统进行测试。本发明还公开了一种核电厂反应堆保护系统的测试系统。本发明能够提高保护系统测试的充分性、完备性和真实性。
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本发明公开了一种基于BGA焊点可靠性测试的PCB设计方法，包括以下步骤：将BGA模块焊接于PCB上，获得待测器件，待测器件的焊点阵列包括距离焊点阵列的中心不同间距的多个焊点环；将待测器件放入试验箱中；选定所需要测试的焊点环，获得测试环，并采用连接线将每个测试环的至少两个焊点与电阻测试系统连接形成测试通路；开启试验箱，电阻测试系统开始连续测量不同的测试环所对应的测试通路的电阻；根据所测电阻的变化得出与每个测试环相对应的焊点失效情况，再根据每个测试环的焊点失效情况得出PCB的设计方案。本发明采用电阻测试系统测量不同焊点环上焊点的方式，准确获得距离中心不同间距的BGA焊点的可靠性，为特定使用条件下的BGA尺寸设计提供参考。
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本发明公开一种电路板测试中的电压异常保护装置,连接于待测电路板与测试设备之间,包括有继电器、与继电器连接的单片机、连接于继电器的其中一个触点与单片机之间的A/D转换器、以及连接单片机用于存储待测电路板的输出标准电压值的存储器;继电器的另外两个触点分别用于连接待测电路板与测试设备。本发明应用于电路板测试中的电压异常保护装置在待测电路板输出的电压异常时,可靠地起到保护的目的,以防止测试设备的失效;其设置简单,通用性好,能应用于测试不同类型的电路板过程中。
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本发明提供一种永磁同步电机剩余寿命预测方法、装置及存储介质，所述方法包括：将三相电流不平衡度和/或电磁转矩不平衡度作为电机失效的主要影响因素，建立永磁同步电机的剩余寿命模型；获取所述永磁同步电机的三相电流、电磁转矩以及电机失效的次要影响因素的时间序列作为训练集，进行ARIMA模型训练；根据所述ARTMA模型预测得到所述三相电流、电磁转矩和次要影响因素t时刻的值，并代入到所述剩余寿命模型中得到所述永磁同步电机的失效时刻。本发明提供的方案能够实现永磁同步电机剩余寿命的预测，提高电机稳定性。
本发明公开了一种架空输电线路损毁概率预测方法、装置、终端设备及介质，该方法包括：分别计算输电杆塔的风荷载和输电线路的风荷载，并根据输电杆塔风荷载和输电线路风荷载计算输电线路的损毁概率；根据输电线路损毁概率，将输电线路的风荷载耦合到输电杆塔的风荷载上并计算输电杆塔的总风荷载；根据输电杆塔的总风荷载计算出输电塔线耦合的损毁概率；分别计算输电杆塔的老化失效概率及其腐蚀失效概率；根据概率加法公式、输电塔线耦合的损毁概率、输电杆塔的老化失效概率及其腐蚀失效概率，预测架空输电线路在不同效应组合下的损毁概率。本发明从概率角度考虑了塔线耦合效应、老化、腐蚀和加固等多重效应，所获取的损毁概率更接近于真实故障。
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本发明公开一种IPM可靠性测试方法，包括：向待测IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第一漏电流并据此判断其是否失效；若有效，则将测试温度设置为第一预设温度并施加第二预设偏置电压；持续第二预设时长后，恢复至常温静态测试环境；向IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第二漏电流；基于第二漏电流与IPM的极限漏电流，判断IPM是否失效；若有效，则将测试温度设置为第二预设温度测试湿度设置为预设湿度并施加第三预设偏置电压；持续第三预设时长后，恢复至常温静态测试环境；恢复至常温静态测试环境后，向IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第三漏电流；基于第三漏电流与IPM的极限漏电流，判断IPM是否失效。
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本发明涉及一种船舶寿命预测方法及系统。该方法包括采集历史时段M维测量数据，该数据包括正常工作状态下的测量数据以及维护状态下的测量数据；基于M维测量数据，计算得到正常工作状态与维护状态之间的转移矩阵、每个退化过程的漂移系数和扩散系数，一维测量数据对应一个退化过程；设定每个退化过程的失效阈值，基于转移矩阵、每个退化过程的漂移系数和扩散系数，结合蒙特卡罗方法，得到每个退化过程失效时间的累积概率密度分布；基于每个退化过程失效时间的累积概率密度分布，结合正态Copula函数，得到船舶故障状态的联合概率密度分布；基于船舶故障状态的联合概率密度分布，结合置信率，计算满足置信率的船舶寿命。提高了船舶寿命预测的准确性。
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本发明公开一种客户端埋点测试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括获取客户端所在终端设备的设备信息，根据设备信息获取并执行目标测试脚本；调用预置埋点对脚本执行过程中生成的数据信息进行采集以获得埋点日志；接收服务器根据埋点日志生成对应的有效埋点信息；从有效埋点信息中提取有效埋点标识，将有效埋点标识与预置埋点标识进行比对，并根据比对结果判断是否存在失效埋点，由于是通过脚本自动触发埋点进行数据采集，然后将采集数据发送至服务器并将服务器反馈的有效埋点标识与预置埋点标识进行比对进而能够根据比对结果确定预置埋点是否失效，相比于现有的埋点测试方式，测试流程简单，而且能够准确地排查出失效埋点，测试效率较高。
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本发明涉及一种船舶故障状态预测方法及系统，解决了船舶故障状态预测方法准确性不高的问题。该方法包括采集历史时段M维测量数据，M维测量数据包括正常工作状态下的测量数据以及维护状态下的测量数据；基于M维测量数据，计算得到正常工作状态与维护状态之间的转移矩阵以及每个退化过程的漂移系数以及扩散系数，一维测量数据对应一个退化过程；设定每个退化过程的失效阈值，基于转移矩阵、每个退化过程的漂移系数以及扩散系数，结合蒙特卡罗方法，得到每个退化过程失效时间的累积概率密度分布；基于每个退化过程失效时间的累积概率密度分布，结合正态Copula函数，得到船舶故障状态的联合概率密度分布。提高了船舶故障状态预测的准确性。
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本申请涉及一种光电探测器寿命评估方法、装置。通过确定光电探测器的击穿电压以及位于光电探测器的工作电压与击穿电压之间的多个第一测试电压，在多个第一测试电压一一对应的多个光电探测器组中各光电探测器满足预设环境条件下，对各光电探测器施加对应的第一测试电压，按照预设的时间间隔，获取各光电探测器的暗信号值，进一步根据暗信号值以及预设失效暗信号值，确定各光电探测器的有效使用时长，从而根据有效使用时长以及多个第一测试电压，确定寿命评估模型，实现对待评估光电探测器的寿命评估。由于光电探测器在失效机理方面对电场更加敏感，可以加快光电探测器的失效退化，确定寿命评估模型，从而实现对光电探测器寿命的快速评估。
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本发明公开了一种电力复合脂的老化程度测试方法及模型，包括建立电力复合脂老化程度测试模型；基于电力复合脂老化程度测试模型，确定当前工况下待测试品上电力复合脂的老化程度。建立电力复合脂老化程度测试模型包括：在参考测试品上涂覆电力复合脂；对参考测试品上涂覆的电力复合脂进行老化处理；在参考测试品上涂覆的电力复合脂完全失效时，将参考测试品上涂覆的电力复合脂当前的温度值作为完全老化参考值。本发明通过对参考测试品上涂覆的电力复合脂进行老化处理，并在电力复合脂完全失效时将其当前温度作为完全老化参考值，从而能够对电力复合脂已经完全失效的情况做出准确判断，有利于提高电力复合脂的老化程度测试的准确性。
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本发明公开了一种基于贝叶斯筛选器与重采样的电路的良率预测方法及系统。其中良率预测方法，包括：采用Scrambled Sobol序列对参数域进行预采样得到预采样点；根据预采样点得到初始失效域以及初始非失效域，并构建初始采样分布，将初始失效域作为当前失效域进行迭代运算；迭代运算时根据相应的规则选择当前失效域的采样中心进行重采样，并进行分类器筛选、SPICE仿真得到新的失效域；若当前失效率估计值的品质因数达到收敛标准，则停止迭代输出当前失效率的无偏估计量，否则将新的失效域作为当前失效域继续迭代运算。本发明充分利用预采样获得的信息构建朴素贝叶斯分类器对采样点进行分类筛选，再根据筛选结果决定是否进行后续仿真，使得SPICE仿真次数大幅度减少。
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