合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> TSV结构电击穿寿命测试方法、装置、系统和控制设备

TSV结构电击穿寿命测试方法、装置、系统和控制设备

1104   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:19
本申请涉及一种TSV结构电击穿寿命测试方法、装置、系统和控制设备;所述方法包括在第一个温度循环周期内,通过信号采集设备采集待测TSV矩阵晶圆样品在初始电压下的初始漏电流;第一个温度循环周期为控制温度调节设备调节待测TSV矩阵晶圆样品的测试环境温度循环变化的第一个周期;在初始漏电流小于或等于预设值时,控制电源设备以初始电压为起点逐渐增大施加在待测TSV矩阵晶圆样品上的电压,并通过信号采集设备实时采集待测TSV矩阵晶圆样品的当前漏电流;在当前漏电流满足失效判据时,获取电源设备调节电压的总时长,并将总时长确认为待测TSV矩阵晶圆样品的失效时间,实现高效准确地测试TSV结构的寿命性能,实现高效准确地测试TSV结构的电击穿可靠性。
声明:
“TSV结构电击穿寿命测试方法、装置、系统和控制设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记