本发明揭示了一种存储设备测试和自动分BIN的方法、装置以及设备。其中,一种存储设备测试和自动分BIN的方法,包括:测试自动分BIN机台根据测试结果数据信息,将已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效,以及无法测试存储容量三种类别。自动分BIN机台根据测试结果信息,分别将三种类别的存储设备转移至对应的第二承载板,避免装有存储容量合格的第二承载板中,混有存储容量失效以及无法测试存储容量的存储设备。通过机器测试和分类的方式,大幅提高测试和分类存储设备的速度。通过上述操作,与现有技术相比,大幅提高测试存储设备容量和分类存储设备的速度,以及大幅降低存储设备分类出错的概率,从而提高存储设备测试效率和分类效率。
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