本申请涉及一种光电探测器寿命评估方法、装置。通过确定光电探测器的击穿电压以及位于光电探测器的工作电压与击穿电压之间的多个第一测试电压,在多个第一测试电压一一对应的多个光电探测器组中各光电探测器满足预设环境条件下,对各光电探测器施加对应的第一测试电压,按照预设的时间间隔,获取各光电探测器的暗信号值,进一步根据暗信号值以及预设失效暗信号值,确定各光电探测器的有效使用时长,从而根据有效使用时长以及多个第一测试电压,确定寿命评估模型,实现对待评估光电探测器的寿命评估。由于光电探测器在失效机理方面对电场更加敏感,可以加快光电探测器的失效退化,确定寿命评估模型,从而实现对光电探测器寿命的快速评估。
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