一种对同步动态随机存储器自测试的方法及其装置,在系统正常工作之前对SDRAM进行自测试,其方法为:启动同步动态随机存储器SDRAM自测试,系统切换到自测试模式下;CPU将数据写入自测试模块的第一双端口RAM;仲裁模块从所述第一双端口RAM中读取数据并写入SDRAM;仲裁模块从SDRAM中回读数据并写入自测试模块的第二双端口RAM中;CPU从所述第二双端口RAM中读数据,并对写入和读出的数据进行比较,以判断SDRAM是否工作正常;在自测试工作完成后,系统切换到正常工作模式下,实现业务的恢复。本发明增加了系统的可靠性,并且通过对SDRAM进行自测试可以判断SDRAM是否失效,从而增加系统的可维护性。另外,逻辑实现也比较简单,不额外增加系统的复杂度。
本发明适用于电机或温度监测技术领域,公开了一种转动部件温度监测系统,包括转动部件、红外辐射强度监测装置,红外辐射强度监测装置包括朝向于转动部件端面的感应探头,感应探头的感应端与转动部件的端面具有间隙;红外辐射强度监测装置还包括信号处理装置和电源模块,信号处理装置连接于感应探头和电源模块。本发明所提供的一种转动部件温度监测系统,感应探头收集转动部件(电机转子)端面的红外辐射,经处理后根据算法计算其表面温度及转动部件的温度场分布,采用分布式探测,测量结果更加准确,可以有效监测转动部件温度,避免电机因转子温度过高而导致电机转子绕组绝缘失效或永磁同步电机转子退磁,防止电机性能下降,电机可靠性高。
本发明属于内存测试技术领域,公开了一种内存颗粒多维测试方法、装置、系统和可读存储介质,包括:在测试板两面的内存颗粒插槽中同时装载多个待测试内存颗粒,以使所述多个待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行;将所述多Rank颗粒的测试环境设置为重负载模式下的测试环境;基于算法对所述多Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试,并获取错误颗粒单元的物理地址。本发明能够将“有负载才失效"、"内存颗粒互相干扰"等由于多Rank颗粒组合形式引起的问题在产品SMT(Surface Mount i ng Techno l ogy,表面组装技术)前筛选出来,提高了内存颗粒电性能负载压力测试的能力,进而提高了内存颗粒测试的效能。
本发明公开了一种页面测试中获取控件的方法、服务器以及计算机可读存储介质,包括以下步骤:在运行页面测试用例的过程中,获取目标控件的路径;根据所述目标控件的路径从所述页面中查找所述目标控件;当在所述页面中查找不到所述目标控件时,更新所述目标控件的路径,返回执行所述根据所述目标控件的路径从所述页面中查找所述目标控件的步骤;当在所述页面中查找到所述目标控件时,对所述控件进行操作,以进行页面测试。本发明在运行页面测试用例时根据设定的路径找不到待测试的目标控件时,以更新的路径重新查找目标控件,解决了测试过程中因更换了浏览器的种类或版本导致的原先设定的路径失效的问题,提高页面的自动化测试成功率。
本发明公开了一种设备唤醒的测试方法、装置、移动终端和存储介质,所述设备唤醒的测试方法包括:当进入压力测试场景时,降低语音唤醒的阈值;根据所述降低后的阈值判断被唤醒设备是否被唤醒语音所唤醒;根据被唤醒设备的唤醒情况确定唤醒测试结果。本发明的的语音产品测试不会受到环境的影响来做被唤醒设备的测试,避免出现大面积的不被唤醒的情况,导致测试失效以及稳定性降低的情况,提高了设备测试的效率和准确度。
本申请涉及电子束选区熔化增材制造技术领域,公开了一种阴极寿命预测方法。所述阴极寿命预测方法通过对所述EBSM打印设备进行打印试验,获取所述阴极在不同气压环境下,所述阴极的中毒深度与打印时间的变化关系,以建立所述阴极的中毒深度模型。在所述EBSM打印设备的实际使用过程中,通过对打印时间、电子枪内部的气压以及成形腔内部的气压进行监测,结合试验获得的所述阴极的中毒深度模型,获取所述阴极在打印过程中的中毒深度。通过中毒深度获取所述阴极的剩余寿命,以完成对所述阴极的寿命预测。本发明提供的所述阴极寿命预测方法是基于阴极的中毒失效机理来实现对实际EBSM打印过程中阴极的剩余寿命进行预测的,预测效果较为精准可靠。
本发明涉及一种电荷放大器贮存寿命预测方法、装置、存储介质和计算机设备。首先获取电荷放大器贮存寿命的特征参数以及特征参数对应的特征数据序列,当特征数据序列单调递减且特征数据序列中的特征数据值大于特征参数的预设失效阈值时,将特征数据序列作为建模特征数据序列,根据建模特征数据序列,基于时间响应函数求解,得到电荷放大器贮存寿命的预测模型,通过表征电荷放大器寿命特征的特征参数,得到建模特征数据序列,基于时间响应函数,进而得到电荷放大器贮存寿命的预测模型,以计算电荷放大器贮存寿命,这样解决了电荷放大器贮存寿命无法预测的问题,建立了电荷放大器的贮存寿命预测模型,能实现对电荷放大器的贮存寿命进行预测。
本发明公开一种用于电路板测试的针盘治具,其包括测试机台面,其上设有至少一块与测试主机连接的第一端子;和转接模块,其包括用于与第一端子电连接的第二端子、与第二端子电连接且用于与待测电路板电连接的测试针,和用于定位待测电路板的第一定位结构。转接模块与测试机台面通过设在其上的第一端子和第二端子插接的方式连接,连接方便快捷,不会出现导线失效导致无法测试电路板的问题;而且,可以通过第一定位结构实现待测电路板与转接模块的快速定位,保证测试的准确性;同时,可以根据待测电路板的不同更换不同的转接模块,不同的转接模块均可通过第二端子与测试机台面的第一端子实现快速插接,保持较高的电路板测试效率。
本发明适用于手持设备技术领域,提供了一种手持设备wifi测试方法及装置。在本发明中,通过自动重启手持设备,然后测试手持设备wifi开关、无线接入点AP连接热点以及网络连接是否失效,记录测试结果,解决了现有的wifi手工测试方法需花费大量的时间与精力,测试成本高,测试周期长的问题。
本发明公开了一种邻区测量信息的上报方法及系统、终端设备,该方法包括以下步骤:终端设备记录测量得到的自动邻区关系ANR测量结果;终端设备在预设的ANR日志有效时间内上报ANR测量结果后,或者在该ANR日志有效时间失效时,删除ANR测量结果,其中,ANR日志有效时间用于指示终端设备当前记录的测量到的邻区信息的有效时间。通过本发明减少了UE不必要的内存消耗,提高了资源利用率和系统的有效性。
本申请提供了一种阻抗测试装置,包括:测试壳体,具有容纳空间;压力组件,位于容纳空间内,压力组件用于向待测试结构施加压力;环境参数调整组件,位于容纳空间内,环境参数调整组件用于调整容纳空间内温度和/湿度;阻抗测试设备,位于测试壳体外,阻抗测试设备用于与待测试结构电连接,以测试待测试结构的阻抗性能,解决了现有技术中的方案难以测试锂电池或相关结构在不同气候条件下的阻抗特性的问题,可以为锂电池和锂电材料在实际应用中的寿命及安全性评估,提供有效的实验依据;具体测试结果也可以用来有效评估锂电池和锂电池材料的失效老化机理过程。
本发明公开了一种铜合金网衣的疲劳性能测验方法,包括:步骤一、从被测铜合金网衣截取试验网片,并将全部试验网片划分为p组;步骤二、对步骤一截取到的试验网片进行疲劳试验,即:用疲劳试验装置的两个夹具对试验网片持续施加方向相反的拉力,且该拉力按照脉动拉伸载荷变化,直至试验网片达到失效准则时终止疲劳试验,并记录试验网片的疲劳寿命;步骤三、计算得到被测铜合金网衣在p个互不相等的平均载荷下的疲劳寿命N;步骤四、按照多项式曲线进行拟合,得到被测铜合金网衣的平均载荷
与疲劳寿命N之间的关系式,即
曲线。本发明实现了直接以成品的铜合金网衣为试验对象进行疲劳性能测试,具有实施快速、有效、测试结果准确性高的优点。
本发明公开一种可在线远程监测的双脱扣电涌保护器,包括电涌保护器,所述电涌保护器包括在线运行监测电路,遥信信号监测电路,老化程度监测电路,电力线路通信,移动终端通信和器件,所述器件有稳压管、电容、快速二极管、电感、电阻、电容电池和单片机、通信模块,所述单片机的电源经电阻分压、快速二极管和电容整流滤波后对电容电池充电,所述在线运行监测电路经电阻分压、快速二极管和电容整流稳压后作为在线连接状态输入,所述老化程度监测电路经电感的A、B两组输出;该可在线远程监测的双脱扣电涌保护器实现了电涌保护器在线参数采集监测以及采集参数互联网通信等功能,有效地解决了电涌保护器运行状态监测和老化失效程度判定。
本发明公开了一种陶瓷基板通孔微电阻测试方法,在陶瓷基板上制备不同孔径的孔洞,采用金属蒸发或电镀工艺实现对孔洞的填充,随后在陶瓷基板上下面进行金属互连,采用多探针方式,经过测量、计算,最终得到通孔面电阻率值,随后面电阻率值乘以不同面积得到不同通孔的电阻值,实现快速测试陶瓷基板通孔材料的导通电阻,衡量通孔填充的致密度和质量,并对测试的电阻值进行拟合,实现对多种通孔尺寸的电阻测试,有效简化测试工序,提升测试效率和精度,从而减少器件失效的可能,并且能适用于大尺寸通孔的电阻测试,如大通孔紧凑型功率器件垂直封装基板的性能测试,不局限于集成电路领域,包含大功率陶瓷基板功率器件,适用范围广。
本发明公开了一种半导体激光器芯片的测试系统,包括测试柜、测试电源、冷却子系统、稳定监控子系统和计算机处理子系统;测试柜包括装载平台,多个待测试的芯片组件放置在装载平台上;测试电源用以多个待测试的芯片组件提供测试电流;冷却子系统用于向装载平台提供循环冷却液体,以为芯片组件的测试提供稳定可靠的温度;温度监控子系统用于监控装载平台和循环冷却液体的温度;计算机处理子系统用以控制冷却子系统提供具有稳定可靠的温度的循环冷却液,并根据温度监控子系统所监控的结果,向测试电源发出相应的控制指令。通过上述方式,本发明能够高测试的安全性,避免因半导体激光器芯片组件意外失效带来的损失。
本申请公开了一种网络协议攻击测试方法、装置、设备和计算机可读存储介质,通过对待测设备的原所有测试项目按照失效概率因子大小值升序排序方式,对原所有测试项目进行排序得到排序后的所有测试项目,然后按照最大网络流量约束条件将各测试项目依次加入并发测试集合C,对并发测试集合C里的所有测试项目进行一次性的并发测试,若返回测试结果为ok,则表明并发测试集合C里面的所有测试项目都通过测试,否则表明并发测试集合C里面存在测试不通过的测试项目,避免了传统的测试方法只能依次逐条测试,耗费时间长的缺陷,测试效率得到提高,解决了现有的网络协议攻击测试方法是对测试项目进行依次逐条测试,测试耗费时间长导致效率低下的技术问题。
本发明公开了一种高压断路器机械寿命预测方法,包括以下步骤:通过指数分布模型描述高压断路器偶然失效期的失效率,并采用最小二乘法拟合多项式模型来代替指数分布模型;统计高压断路器的分闸次数、分闸时间、合闸次数、合闸时间的历史数据,得到m组数据(xi,yi);根据多项式模型,得到m组数据的总方差,根据方差最小的点整理得到范德蒙德矩阵,并进行求解;将求解得到的数据代入多项式模型,求出分/合闸时间的拟合曲线;绘出高压断路器分闸时间劣化曲线和合闸时间劣化曲线,根据高压断路器的分合闸次数,即可求出高压断路器的运行机械寿命次数。本发明能准确的预测高压断路器机械寿命。
本实用新型涉及一种测试用的USB插头金属端子及端子组。该金属端子呈长条片状,金属端子的前端设有板状凸起的触点,触点凸起方向垂直于金属端子的长度方向,金属端子的尾端用于点焊在电路板上,在靠近金属端子尾端处设有一个方形凸台板,凸台板的凸起方向垂直于金属端子长度方向并与触点凸起方向相反。本实用新型设置凸台板让金属端子在多次反复插拔中不会滑动而不会失效,同时金属端子作成板状,多次反复插拔金属端子的触点也不易失效,耐用性得到提高,满足测试需求。
本发明属于化工热安全领域,公开了一种在线监测丙烯酸丁酯聚合热失控过程的方法和应用。本发明以丙烯酸丁酯、常用的不同乙烯基单体、引发剂、溶剂作为原料制得丙烯酸丁酯均聚或丙烯酸丁酯/不同乙烯基单体共聚反应溶液,然后采用DSC动态扫描模式获取BA聚合热失控过程的放热特性曲线。本发明采用DSC的动态升温模式对聚合过程进行冷却失效情景的模拟,获得的聚合热失控放热曲线具有实时监测反应热不平衡过程放热特性的特点,且本发明提供的方法操作简单方便,成本低,效果良好,高度模拟反应冷却失效情景、为快速了解聚合热失控行为的危险程度提供了方法。
本发明公开了一种可自动切换控温的测温装置及燃烧器,温控系统包括:探头支架,所述探头支架具有安装孔;温度探头,所述温度探头穿设于所述安装孔,并且所述温度探头能够在温度监控状态与温度监控失效状态之间切换;感应组件,所述感应组件设置于所述探头支架的下方或者上方,在所述温度探头向下运动且接触所述感应组件时,将所述温度探头切换至温度监控失效状态,或者在所述温度探头向下运动且不接触所述感应组件时,将所述温度探头切换至温度监控状态。本发明的测温装置,其结构简单,能够实现自动切换控温状态,解决了用户使用尖锅时防干烧燃气灶误动作自动熄火问题,提升用户使用体验。
本发明提出一种烟草企业物流仓储设备平均寿命的预测方法,解决了如何对物流仓储设备的平均寿命进行高效准确预测的问题,首先获取物流仓储设备的失效时间样本数据,仅在物流仓储设备历史失效数据已知的情况下,利用混合威布尔分布函数拟合,所需的数据种类少,混合威布尔分布进行烟草企业物流仓储设备的可靠性建模相较标准威布尔分布函数更为符合实际、更精确。此外,使用基于L‑M算法的非线性最小二乘法进行混合威布尔分布的未知参数估计,相较参数估计中常用的极大似然估计方法计算更快,更高效,能够对混合威布尔分布的参数进行较高质量的估计,原理简单,计算简单,易于推广。
本发明涉及一种仪器整机可靠度预测方法和系统,通过对加速试验所得的多个失效时间数据排序后,采用预先建立的分布模型建立排序后的失效时间数据的统计量,并根据预设的显著性水平因子对所述统计量进行可靠度预测,能够有效筛查出可靠度较低的统计量,从而判断预先建立的分布模型是否可靠,提高了分布模型的选择可靠性,进而提高了加速试验准确性。
本发明公开了一种复合材料构件寿命的预测方法,本发明通过确定自然气候老化试验与人工加速老化试验间的相关性系数R,并在人工加速老化试验中获得复合材料构件的失效时间T3,通过相关公式的计算,即可得到复合材料构件在自然气候老化试验中的失效时间,即复合材料构件的寿命,使用本发明方法可缩短试验时间,节约试验成本。本发明可适用于树脂型复合材料构件的寿命预测。
本发明公开了一种压力开关监测装置,包括压杆、套管、杆体、保护壳体、磁体、干簧管和弹簧;所述压杆可拆卸地安装在所述套管的顶部,所述套管套接在所述杆体的外表面,所述保护壳体安装在所述套管的腔体表面,所述磁体安装在所述保护壳体的内壳壁,所述干簧管安装在所述杆体的腔体内,所述干簧管通过信号线穿过所述杆体的底部,用于与监测设备连接,所述弹簧安装在所述杆体的外表面;其中,所述磁体的位置高于所述干簧管的位置。本发明提供的压力开关监测装置,能防止装置在长期使用过程中由于装置外壳密封失效,导致水、污泥、杂物等进入装置内部使得装置失效而无法正常工作。
本实用新型公开了一种PCB电测试机的防意外压伤装置,包括电测试台,固定安装在电测试台上的滑向导杆以及活动固定在滑向导杆上的往复滑块,所述电测试台上还安装有一防护机构,该防护机构由轴联、轴联固定件、下限支撑柱和上限支撑柱构成,所述轴联、轴联固定件之间形成有用于夹持滑向导杆的导杆定位孔,下限支撑柱固定在轴联上,上限支撑柱固定在下限支撑柱上。本实用新型通过在电测试台上安装有防护机构,该机构上设置有上、下限位支撑柱,当发生装置失效问题时,电测试机上的往复滑块掉落会被、下限位支撑柱挡住,从而可以有效避免对人体造成伤害。与现有技术相比,本实用新型具有结构简单、操作方便,不存在防护过程失效的问题,安全性好。
本申请公开了一种测试绝缘双极型晶体管芯片的方法,通过调取绝缘双极型晶体管芯片模型;在所述绝缘双极型晶体管芯片模型的键合线与键合面处设置芯片表面金属层;对设置芯片表面金属层后的绝缘双极型晶体管芯片模型进行仿真模拟,得到模拟失效数据,并通过所述模拟失效数据得到与所述绝缘双极型晶体管芯片模型对应的绝缘双极型晶体管芯片的测试结果。由于金属层对器件的结构强度与导热导电中均起到重要作用,同时也影响着所述键合线与所述键合面的连接结构,因此,本申请提供的模型更贴近实际工作中的情况,得到的测试结果也就更准确。本申请同时还提供了一种具有上述有益效果的测试绝缘双极型晶体管芯片的装置、设备及计算机可读存储介质。
本发明实施例公开了一种任务缓存空间监测方法,用于实现对多核处理器中多任务的缓存空间的准确监测。本发明实施例方法包括:获取当前时间区间内处理器上各个任务产生对缓存的访问数和访问失效数;获取上一时间区间内所述各个任务累积使用的缓存历史使用空间;根据所述缓存历史使用空间计算当前时间区间内所述缓存的容量使用度;根据所述缓存历史使用空间、计算得到的所述容量使用度、得到的所述各个任务的所述访问数和访问失效数分别计算当前时间区间内所述各个任务的缓存使用空间;输出计算得到的所述各个任务的缓存使用空间。本发明实施例还提供一种任务缓存空间监测装置。
本发明公开一种适用于协调器作为汇聚节点的无线监测控制网络的ZigBee路由方法。传感节点到协调器的数据传输,有三种类型的路径可选:1)通过长辈节点向上传输数据;2)长辈节点不存在或通过长辈节点的这条链路发生断路时,会通过父节点向上传递数据;3)由于网络中的任何节点都有到协调器的路径,所以当前面两条路径均失效时,可查询邻居表,寻找除长辈节点和父节点以外的任何一邻居节点,将数据传送给它。协调器到传感节点的数据传输,依赖于简单路由表,此路由表是在数据向协调器的传输过程中建立维护的,开销小且维护简单。本发明对于无线监测控制网络更有针对性,具有可靠、开销小,模式简单的特点。
本发明涉及一种LED光源寿命加速测试系统及方法,其中该系统包括样品分组装置、第一结温测试装置、加温装置、第二结温测试装置、寿命测算装置和加温测试装置。本发明在保持驱动电源失效机理不变的条件下,通过提高其工作温度应力的方法来加速失效发现其潜在的缺陷,并根据阿氏加速理论中的加速寿命试验模型及引入置信度推断出其在正常温度应力水平下寿命,比传统的设计和试验以快得多的速度使产品达到在设计和工艺上成熟,从而缩短研制过程总时间,得以早日投放市场,抢占市场份额,产品设计和工艺成熟快,产品研制和生产成本更低。
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