本发明属于内存测试技术领域，公开了一种内存颗粒多维测试方法、装置、系统和可读存储介质，包括：在测试板两面的内存颗粒插槽中同时装载多个待测试内存颗粒，以使所述多个待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行；将所述多Rank颗粒的测试环境设置为重负载模式下的测试环境；基于算法对所述多Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试，并获取错误颗粒单元的物理地址。本发明能够将“有负载才失效"、"内存颗粒互相干扰"等由于多Rank颗粒组合形式引起的问题在产品SMT(Surface Mount i ng Techno l ogy，表面组装技术)前筛选出来，提高了内存颗粒电性能负载压力测试的能力，进而提高了内存颗粒测试的效能。
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编辑：管理员
来源：中冶有色技术网
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2024年12月27日 ~ 29日 
