本发明涉及矿用监测系统技术领域,为了解决目前矿用监测系统的信号传递抗干扰性差的问题,提供了一种矿用综合监测装置,包括:传感器检测组件、信号集成设备以及PC终端,在传感器检测组件中,以及传感器检测组件与信号集成设备之间、信号集成设备与PC终端之间均通过光纤相连。矿用综合监测装置为全光纤连接,利用光纤的抗干扰性强的特点,可以防止电磁信号对传感信号进行干扰,从而保证矿用综合监测装置的监测结果准确、及时,并且,光纤可以在无电情况下进行工作,从而保证及时矿下出现断电的情况,传感器检测组件中的部分传感器依旧可以进行检测,并将传感信号传递至PC终端上,防止矿用综合监测装置完全失效,保证矿下工人的安全。
本发明公开一种存储器测试方法、装置、存储器、设备及可读存储介质。所述方法包括:对存储器中的各存储单元进行保持时间测试,以分别获得各所述存储单元的保持时间;确定本次获得的各所述存储单元的保持时间是否不小于预设的时间规格;当各所述存储单元的保持时间不小于所述时间规格时,统计已执行的保持时间测试的当前测试次数;当所述当前测试次数小于预设测试次数时,进入下一次所述保持时间测试。根据本发明提供的存储器测试方法,可精确地检测到失效存储单元,增大了存储器测试的覆盖率,降低了后续封装测试过程中存储单元发生边缘失效的风险,保证了存储器的可靠性。
本实用新型涉及锂离子电池技术领域,具体地涉及一种动力电池热失控监测系统,所述系统包括:电池控制器以及与所述电池控制器电连接的一个或多个相互串联的热失控监控板,各个热失控监控板用于检测不同的电池模组的热失效,所述电池控制器用于对所述热失效监控板进行断路状态检测,以确定所述动力电池的热失控。通过本实用新型,可以有效地识别动力电池的热失控。
本申请实施例提供一种字线测试方法及设备,在存储阵列完成修补后,若该存储阵列中存在处于失效状态的目标字线,则在目标字线中写入第二数值后,根据存储阵列中各个字线输出的数值,确定存储阵列中是否存在至少两个字线处于同时开启状态;若存储阵列中存在至少两个字线处于同时开启状态,则检测目标字线从开启到关闭过程中产生的电流值;当目标字线从开启到关闭过程中产生的电流值大于预设电流阈值时,确定目标字线存在修补故障。本申请实施例提供的字线测试方法及设备,解决了现有技术中难以准确检测出因修补故障而导致失效的字线的技术问题。
本发明公开了一种中药片包衣薄膜使用寿命的测试方法,通过取带有包衣薄膜的、同一生产日期的和同种中药片,采用分组测试的方法,将中药片分成第一组、第二组、第三组、第四组、第五组、第六组、第七组、第八组、第九组和第十组,分别将这十组中药片置于不同的存储环境中,改变存储的环境温度和环境湿度,每隔两个月时间检测中药片的药性,根据检测结果来判断中药片是否失效,对于失效的中药片,不再进行下一步的测试,并进行记录,从而得出结论:中药片包衣薄膜使用寿命随着环境温度和环境湿度的变化而变化,环境温度越高,中药片包衣薄膜的使用寿命就会越低,环境湿度越高,中药片包衣薄膜的使用寿命越低。
本发明公开了一种谐波减速器可靠寿命预测方法,主要包括步骤(1)采集谐波减速器传动精度退化数据、步骤(2)生成传动误差动态曲线、步骤(3)拟合传动精度退化轨迹方程、步骤(4)计算对应失效阈值的失效寿命、步骤(5)检验失效寿命所服从的分布以及步骤(6)谐波减速器可靠寿命评估。本发明提供了一种简单易行,便于实现的寿命评估方法,其采集谐波减速器传动精度退化数据,可以反映出谐波减速器在转动中,由负载与惯性载荷变化引起的连续的传动误差变化,解决静态传动误差检测法仅仅只能反映谐波减速器静止情况下间断的几个点处的传动误差的缺陷,提高谐波减速器传动误差检测精度,进而提高谐波减速器可靠寿命评估精度。
本实用新型提供了一种存储芯片测试电路装置,第一存储阵列输出的第一测试数据通过第一压缩电路进行压缩,生成第一压缩数据。第二存储阵列输出的第二测试数据通过第二压缩电路进行压缩,生成第二压缩数据。利用第三压缩电路对第一压缩数据和第二压缩数据进行再次压缩,生成第三压缩数据。不仅可以将生成的第一压缩数据输出,还可以通过多路复用器选择输出第二压缩数据和第三压缩数据中的一种。不仅能够得到存储芯片是否失效的检测结论,还可以得到存储芯片中第一存储阵列以及第二存储阵列失效的检测结论,精确定位失效位置。测试机通过连接一个端口能够得到存储芯片以及存储阵列的失效情况,提高了测试效率。
本实用新型公开了一种气固两相流测速管,解决了固体颗粒会把测压孔堵塞而失效影响速度测量的问题。其特征在于在全压管头部为直管弯至与轴线呈45度角后沿轴方向顺管壁切去弯头部的形状,尾部加工成渐缩式燕尾槽形状;静压管头部为沿轴线垂直方向切齐后的形状,尾部为加工成燕尾槽后再把直管弯曲成30-60度角的形状。本实用新型可有效避免颗粒堵塞,结构简单、实用,可适用于各行业中有关气固两相流的流量测量。
本公开提供一种用于预测PMOS元件NBTI寿命的半导体元件测试方法与半导体元件测试系统。半导体元件测试方法包括:提供多个相同的PMOS元件;在预设温度下对第n个所述PMOS元件的栅极多次施加时长不同的第n个预设负偏压,以获取多个预设负偏压下多个施压时长对应的所述PMOS元件的漏极饱和电流老化率;将多个所述漏极饱和电流老化率带入预设方程以确定所述预设方程的拟合结果,获取对应于施压值和施压时长的漏极饱和电流老化率变化曲线;根据所述漏极饱和电流老化率变化曲线确定所述PMOS元件在标准工作电压下漏极饱和电流老化率达到预设失效值时对应的时间。本公开提供的半导体元件测试方法可以提高测试PMOS元件NBTI寿命的效率和准确度。
本发明公开了一种汽车遥控钥匙总成可靠性耐久性测试装置,包括测试台架;遥控钥匙总成通过试样固定支架固定安装在测试台架上;在测试台架上设置直线气缸总成,直线气缸总成的活塞杆的伸出运动的方向朝向遥控钥匙总成上的开关按键;在直线气缸总成的活塞杆的端部,设置模拟按键。本发明还公开了上述测试装置的测试方法。采用上述技术方案,使汽车遥控钥匙的可靠性、耐久性满足国家标准要求,防止遥控钥匙按键失效;测试装置结构简单、成本低廉;测试方法可靠、通用性强、易于操作、便于维护、可靠性高、测试方法可靠。
本发明公开了一种遮阳板静态环境测试装置及测试方法,所述测试装置包括底座及设于所述底座上的滑块,遮阳板的固定端和所述滑块连接,遮阳板上的卡孔卡入设于所述底座上的固定座内;所述测试方法,利用上述的遮阳板静态环境测试装置来实现遮阳板的测试;本发明能够模拟实际装车下的静态环境模拟性能测试,使测试验证科学、数据可靠,结果准确,满足产品性能要求,防止遮阳板失效。
一种芯片测试参数异常的侦测方法、存储介质、终端,所述方法包括:获取当前批次芯片的第一测试参数;根据所述第一测试参数计算所述当前批次芯片的边缘芯片比例,其中,所述边缘芯片比例为所述当前批次芯片中边缘芯片的占比,所述边缘芯片是所述第一测试参数的数值落入合格范围但超出边缘范围的芯片;当所述边缘芯片比例与基准边缘芯片比例之差大于第一预设提示值时,确定侦测到芯片测试参数异常,其中,所述基准边缘芯片比例与所述预设测试项相对应。通过本发明方案能够实现对芯片测试参数异常的自动侦测和推送,以在实际出现Bin失效前,提前预警芯片可靠性问题以及生产工艺和测试环节可能存在的问题。
一种智能防雷在线监测预警装置。本发明采用雷电波形再现技术,通过罗氏线圈和雷电定位系统采集信息以及特定的逻辑运算实现了对雷电这种看得见摸不着的能量真正意义上的再现,并且本发明结构新颖,抗干扰能力强,能对自身采集来的数据及上传来的数据进行智能分析,可实现直击雷预警,对雷电进行预判,以及对故障隐患进行预警和告警,实现有效的在雷击发生之前提前预警、雷电设施是否失效,达到提前介入、提前预案,减少不必要的损失和伤害;在雷击发生时实现雷击数据记录,防雷措施是否有效监控,雷击发生之后实现提供损坏位置,损坏原因数据输出等,也为今后防雷措施的研究和调整做到有的放矢的打下了坚实基础。
本发明公开了一种汽车电动尾门系统可靠性耐久性测试装置,设置测试控制器装置、模拟脚踢装置、脚踢传感器;测试装置在主驾处设置直线气缸,直线气缸的伸出端与尾门的开关按键配合。本发明还公开了该测试装置的测试方法。采用上述技术方案,以通用化、平台化的设计思想为指导,降低试验成本,提高系统的适用性;使汽车电动尾门系统可靠性、耐久性的要求满足国家相关标准,防止汽车电动尾门系统失效;该测试装置结构简单、成本低廉、通用性强、便于维护;其测试方法易于操作、可靠性高;测试装置的试验周期、频率及次数均可根据实际要求进行调节设置;机构可灵活移动,方便不同条件、不同场合下的应用。
本发明提供一种GOI测试电路结构,包括形成于一衬底内的多个呈条状且平行设置的AA区,相邻的AA区之间形成有STI,衬底上依次形成有栅氧化层、多晶硅栅极和多个计数结构,所有计数结构平行设置,每个计数结构对应设置在一个STI上方,每个计数结构靠近一个AA区设置,并用于对AA区中的热点进行定位,可以实现电性测试热点的清晰定位,并为物理剥层以及FIB切截面制备TEM样品时提供热点定位的标准,大大改善了GOI测试失效分析的效率,切中目标位置截面的成功率,还在制程上可实现性强,具有很高的实用价值。
本发明提供一种自动变速箱在线故障诊断预测方法及其装置,包括自动变速箱控制单元系统初始化、信号处理、故障确认处理、故障预测处理、启动CAN诊断服务和自动变速箱控制单元系统下电步骤,通过预测方法得到故障发生前后数据流的实时变化趋势,可实现在线故障诊断、离线数据分析、自动变速箱产品失效原因调查等功能,从而逐渐完善自动变速箱产品的成熟度并尽快赢得市场的认可。
本发明提出的一种锂离子电池壳体腐蚀的测试方法,包括以下步骤:S1、选取电池,在电池极柱上焊接极耳,然后将电池恒流恒压充电至预设的满电状态,并测试电池的正负极电压、负极与壳体电压值;S2、将电池分为三组,分别进行不同负极壳体电压分析试验、同一负极电压不同倍率充放电循环实验和同一负极壳体电压不同搁置温度实验;S3、根据实验结果统计电池负极与壳体之间的安全电位,并统计不同的充放电倍率与温度对电池壳体腐蚀的作用。本发明通过对选取的电池连接不同阻值的金属膜电阻,使电池的负极壳体电压处于不同梯度范围,有效的模拟失效电池的状态,准确的得出不同负极壳体电压对电池腐蚀的影响,并测试环境温度和充放电循环因素对腐蚀加速的影响。
本发明公开了一种可持续利用多用探测卡,包括:基座、对准卡、针托架、缓冲框、缓冲垫和固定卡;对准卡套设于芯片的外部并能够将芯片固定于基座;针托架上设置有测试针,测试针的一端位于芯片的顶部且缓冲框覆盖于对准卡的顶部以使得测试针、对准卡相接触,测试针的另一端通过连接孔固定于基座上;缓冲框的两侧分布有缓冲垫,固定卡位于缓冲垫的顶部以使得缓冲垫固定于基座的顶部。该可持续利用多用探测卡能够重复地对芯片进行失效分析,同时成本低。
本发明公开了一种基于自振荡回路的电路老化测试方法,其特征是:根据静态时序分析和路径间相关性,选取待测电路中的老化特征通路集合T;保持老化特征通路集合T中各条待测路径上具有奇数次逻辑非,形成自振荡的回路;采用固定型故障的测试生成方法,生成测试向量,激发自振荡回路,产生测试电平信号;通过计数器采样自振荡回路,获取电路老化特征值,度量待测电路老化程度。本发明可以以较低的功耗精确度量电路的老化程度,为电路老化失效防护提供准确的依据。
本实用新型提供了一种电容测试结构,包括:固定测试电阻,与待测电容第二端连接;至少一个待接入测试电阻,与固定测试电阻串联;至少一个测试保险丝,与待接入测试电阻并联;至少两个焊盘,分别与测试保险丝两端连接;NMOS管,与所述测试电路并联,所述NMOS管的栅极还与待测电容的第二端连接;限流保险丝,与并联后的所述NMOS管和所述测试电路串联,并且接地;以及,限流电阻,连接电源和所述NMOS管;向焊盘施加电流,使得与焊盘连接的测试保险丝熔断以改变测试电路的阻值。在不改变版图设计的情况下,可以变换为多种漏电阈值电流的测试结构,从而对多种不同缺陷或不同类型的待测电容进行失效分析。这样可以节省芯片划片道面积,在测试上也更加灵活。
本发明公开了一种大量程谐波减速机测试平台,包括工控机和测试连接台,测试连接台设有输入组件端和输出组件端,输入组件端包括驱动电机、第一变频器、飞轮、第一联轴器、第一扭矩传感器以及第二联轴器,输出组件端包括制动器、第二变频器、第三联轴器、第二扭矩传感器以及第四联轴器。本发明所设置的飞轮可以对整个测试平台进行惯量补偿,满足大转速大功率输入情况的测试需求,平台可以使得减速机在高输入转速下运作,从而对其性能指标进行测试,能够更快速的进行加速可靠性寿命试验,大幅提高谐波减速机寿命测试精度,提供减速机多种非正常工作运行状态下性能指标测试,使得减速机失效机理分析更加精确。
本发明公开一种基于ELM-MUKF的锂电池剩余寿命预测方法,具体步骤为:(1)选取锂电池等压降放电时间作为锂电池寿命特征参数;(2)利用锂电池等压降放电时间数据构建基于极端学习机(Extreme?Learning?Machine,ELM)的锂电池状态更新方程;(3)将锂电池状态更新方程联合等压降放电时间观测方程作为锂电池性能退化模型;(4)基于所建立的锂电池性能退化模型,利用多阶无迹卡尔曼滤波(Multi?Unscented?Kalman?Filter,MUKF)方法进行等压降放电时间预测;(5)构建基于极端学习机的等压降放电时间与锂电池实际容量的关系模型;(6)将步骤(4)预测的等压降放电时间作为步骤(5)中所确定模型的输入,求取锂电池未来的实际容量值,依据规定的锂电池失效阈值,最终估计出锂电池的剩余循环使用周期。本发明方法能够在线监测锂电池健康状况,预测未来锂电池寿命特征参数,进而有效评估锂电池剩余寿命状况。
本发明公开了一种测试超高压管式反应器热套端部结构局部应力场的方法,其特征是设置存在有过盈量的反应管与夹套构件;首先将夹套与反应管利用温差法完成装配;再在反应管外侧壁上,位于夹套与反应管相套合的边缘的外侧测点上粘贴电阻应变片;最后采用切割机具将夹套从反应管上剥除,释放反应管上的应力,记录夹套剥除前后各测点上的应变变化,利用应变变化通过计算获得的局部应力场数据。本发明可用于准确获取超高压管式反应器热套端部结构局部应力场数据,为分析超高压聚乙烯管式反应器端部断裂失效原因和基于失效的设计提供参考依据。
本实用新型涉及一种温度传感器AD590快速比对测试装置,包括用于运行程序与处理电路模块信息的处理器,所述处理器连接有基准AD590传感器用于读取运算标准传感器数值,所述处理器连接有被测AD590传感器用于读取被测传感器数值,所述基准AD590传感器与被测AD590传感器连接有精密电压源接受同一电源供电,所述处理器连接有存储器用于存储与回读测试数据,所述处理器连接有LCD显示屏用于实时显示测量数据,所述处理器连接有电源转换基准电压用于校准内部ADC通道的基准,所述处理器通过RS232串口连接有工控机用于输入输出设置与测量结果显示。本实用新型用于AD590传感器的失效分析,高温、常温、低温测试、分析等,测试速度快,操作方便,有效降低了成本。
一种钻井井壁监测传感器接线防水装置及防水密封方法,包括接线筒,所述接线筒套在与所述传感器连接的导线上,所述接线筒内由环氧树脂充满,在所述接线筒的两端外拧有螺纹帽。解决了含水软弱地层中传感器易进水失效的问题,通过对传感器的导线进行防水处理形成第一道防水、对第一接线盒进行防水处理形成第二道防水、对第一接线盒以及第二接线盒进行防水处理形成第三道防水,通过三道防水保证监测传感器正常工作,确保监测分析工作正常有序开展,以此达到推广钻井法凿井在含水软岩地层应用的目的。该防水密封方法可有效防止地下水进入传感器内部致其失效,保证监测数据的稳定性和可信度。
本发明提供的直流源保护装置的自检方法及装置,首先判断当前状态是否满足自检预设条件;若满足,则使能直流源保护装置对其输出电压进行输出限制,并将限制输出标志位置1;延时第一预设时长后,判断当前直流源保护装置的输出电压是否小于预设限制值;若当前直流源保护装置的输出电压小于预设限制值,则判断直流源保护装置正常;若当前直流源保护装置的输出电压大于等于预设限制值,则判断直流源保护装置失效,并输出报警信号;最终实现了对于直流源保护装置的自检;且直流源保护装置位于用电设备的外部时,通过上述方法同样能够实现对于直流源保护装置的自检,解决了现有技术的问题。
本实用新型公开了一种用于助力转向管路的检漏封头,用于夹持助力转向管路的夹爪(1),还包括检漏封头外套(2)、活塞芯头(3)和连接座(4),夹爪(1)在扣合状态时,其内孔是与助力转向管路外圆形状相吻合的圆形,其外圆与检漏外套(2)的内径为过盈配合;夹爪(1)与待夹持助力转向管路接触的区域的轴向长度为8mm-15mm,检漏封头外套(2)的外径尺寸为35mm-40mm。具有上述结构的该种用于助力转向管路的检漏封头通过对检漏封头进行优化改进,不仅解决了无法装配的问题,还解决了由于密封失效而导致的重复操作问题,提高了工作效率、降低了生产成本。
本发明提出了一种汽车门锁闭锁器寿命测试装置及其测试方法,以模拟实际情况来对门锁闭锁器寿命进行检测,为后续的设计提供参考。该汽车门锁闭锁器寿命测试装置包括主驱动气缸、门锁安装架及控制器,主驱动气缸的活塞端部安装有锁扣安装板,门锁安装架上设有反作用力装置、解外拉线气缸和解内拉线气缸;主驱动气缸、解外拉线气缸、解内拉线气缸均受控制器所控制;反作用力装置由具有通孔的支架及活动穿设于支架通孔的弹性杆构成,所述弹性杆的弹力方向朝向于所述锁扣安装板方向。本发明的汽车门锁闭锁器寿命测试装置结构简单、使用方便可靠,在测试过程中无需人工干预,节省了人力成本,测试环境更接近真实情况,能够准确地判断出门锁闭锁器是否失效。
本申请公开了一种异常温度测试数据的确定方法、装置及电子设备,属于半导体生产检测技术领域,其中,异常温度测试数据的确定方法包括:获取晶圆连续测试过程中的夹具温度数据;根据所述夹具温度数据计算相邻两次测试的夹具温度变化值;基于所述温度变化值确定异常温度测试数据。该方法可以准确地确定异常的夹具温度测试数据,进而可以剔除温度异常的测试项使得晶圆的寿命失效率分析更加准确。
本发明涉及一种编程测试多连片基板通孔通断的方法,包括以下步骤:S1、根据待测基板的版图中金属化孔之间对应的导通关系,制作相匹配的测孔专用的探针卡;S2、根据待测基板的版图中金属化孔之间对应的导通关系,以金属化孔之间阻值测试的原理,进行程序编写;S3、待测基板及探针卡安装完毕后,在激光调阻系统中运行程序进行测试,利用程序实时监控输出电阻值,自动判定测试结果并予以提醒,工作台连片跳动,逐片完成自动测试。本发明能够实现低成本、短时间内一次性完成基板通孔的通断检测,通过显示通断参数的相关数据内容,方便产品失效原因分析和后续工艺改进。
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