本发明公开了一种基于自振荡回路的电路老化测试方法,其特征是:根据静态时序分析和路径间相关性,选取待测电路中的老化特征通路集合T;保持老化特征通路集合T中各条待测路径上具有奇数次逻辑非,形成自振荡的回路;采用固定型故障的测试生成方法,生成测试向量,激发自振荡回路,产生测试电平信号;通过计数器采样自振荡回路,获取电路老化特征值,度量待测电路老化程度。本发明可以以较低的功耗精确度量电路的老化程度,为电路老化失效防护提供准确的依据。
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