本发明公开了一种可持续利用多用探测卡,包括:基座、对准卡、针托架、缓冲框、缓冲垫和固定卡;对准卡套设于
芯片的外部并能够将芯片固定于基座;针托架上设置有测试针,测试针的一端位于芯片的顶部且缓冲框覆盖于对准卡的顶部以使得测试针、对准卡相接触,测试针的另一端通过连接孔固定于基座上;缓冲框的两侧分布有缓冲垫,固定卡位于缓冲垫的顶部以使得缓冲垫固定于基座的顶部。该可持续利用多用探测卡能够重复地对芯片进行失效分析,同时成本低。
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