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本发明提供一种封装器件的失效定位方法。封装器件的失效定位方法包括：获取未失效封装器件的参考信号；所述参考信号包括所述未失效封装器件的时域信号；获取失效封装器件的测量信号；所述测量信号包括所述失效封装器件的时域信号；对比所述参考信号和所述测量信号，获得所述失效封装器件的失效位置。本发明所述的封装器件的失效定位方法，分别获得未失效封装器件的参考信号和失效封装器件的测量信号，并通过对比未失效封装器件的参考信号和失效封装器件的测量信号，可以快速获得失效封装器件的精确失效位置，极大地节省了研发人员测试失效位置的时间，帮助提升企业研发竞争力，为后续开展先进封装器件失效分析定位工作提供参考。
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本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。
本申请涉及一种失效点的定位方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取通过红外热成像装置对被施加测试信号的待测试芯片进行扫描，获得的所述待测试芯片表面的热成像图片，并对所述热成像图片进行分析，获得所述待测试芯片表面各点的相位角；获取通过图像扫描装置对所述被施加测试信号的待测试芯片进行扫描，获得的所述待测试芯片表面的三维图像，并对所述三维图像进行分析，获得所述待测试芯片表面各点的三维坐标；根据所述待测试芯片表面各点的相位角和三维坐标计算所述待测试芯片中失效点的三维坐标。采用本方法能够提高芯片内部失效点定位精度。
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本发明公开了一种获取LED光源器件变色失效源头的方法及装置，其方法包括：获取LED光源器件上LED光源变色区域中变色斑点中的斑点元素及变色失效结果成分；对LED光源器件上的灯具零部件采用X射线能谱仪对零部件中的元素进行分析，基于斑点元素确定可导致LED光源变色的灯具零部件；对确定可导致LED光源变色的灯具零部件与含银验证材料一体置于密封腔体内进行零部件失效反应；判断每一零部件所对应的失效反应中的结果是否与LED光源的色变区域的变色失效结果相一致，确定所述灯具零部件为导致LED光源变色失效的源头。通过实施本发明，能够快速检测LED灯光源发生变色失效的源头，得到可能造成光源失效的源头。
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本发明公布了一种基于细观动态复杂应力监测的混凝土疲劳损伤分析方法，包括步骤：先制作一批试件，试件内布设9个空间应力传感器；通过单轴疲劳加载试验，确定SDF值最大时的传感器阵列；通过试验与模拟的方法，将优化的传感器阵列布设在试件或模型内，确定各受力模式下构件由加载到疲劳失效时的SDF—N曲线；在待测构件浇筑前将优化过的传感器阵列布设在构件中，通过传感器可检测出构件的受力模式，通过将监测的SDF值与试验或模拟的结果对比得出构件的疲劳损伤状态。本发明克服了以往混凝土应力或应变监测只能单向监测的问题，在较小的体积上实现空间六向动态应力监测，获取真实的细观应力状态，更准确地分析结构的疲劳损伤状态。
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本发明涉及一种面向SoC的片上TDDB退化监测及失效预警电路，控制电路模块将Q1、Q0信号转化为开关状态控制信号输出至TDDB性能退化数字转化模块；TDDB性能退化数字转化模块内的第一MOS管电路的MOS管处于电源电压的应力状态下，第二MOS管电路的MOS管处于非应力状态下；第一MOS管电路和第二MOS管电路在开关状态控制信号的控制下，分别输出第一频率值和第二频率值至输出选择模块；输出选择模块将TDDB性能退化数字转化模块输出的第一频率值输出至计数器B中进行记录，或者将第二频率值输出至计数器A中进行记录；计数器模块通过比较第一频率值与第二频率值确定TDDB性能的退化量。本发明的结构简单，输出可监测TDDB性能退化过程，能够对TDDB性能进行准确预警。
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本发明公开了一种监测试验箱内灯具是否失效的方法，包括如下步骤：采集试验箱内图像；获取采集到的所述图像；根据所述图像判断试验箱内的灯具失效状况。它是通过采集试验箱内的灯具图像，然后对所采集的图像进行处理，判断是灯具失效的状况。该方法能取代人工观察，节省人力物力，而且获得的结果将更加准确及时。
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本发明公开了一种测控保护装置的失效评估方法，在确定出待测试的测控保护装置的初始电气参数和经加速试验后的当前电气参数之后，就对加速实验后测得的测控保护装置的当前电气参数的准确性进行了判断，目的是得出符合要求的目标电气参数，剔除不符合要求的当前电气参数，考虑了采集测控保护装置数据时的随机误差；最后，依据初始电气参数和符合要求的目标电气参数实现对测控保护装置的失效性评估。因此，应用本评估方法，可以对实验后测得的电气参数的准确性进行判断，与传统的评估方式相比，提高了测控保护装置的失效评估准确性。另外，本发明还公开了一种测控保护装置的失效评估装置、设备及存储介质，效果如上。
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本发明提出一种电迁移失效的剩余寿命预测方法，包括步骤：建立MOS器件的电迁移寿命模型；根据预设的正常工作条件下的电流密度和第一环境温度，以及电迁移寿命模型，获取正常电迁移失效的寿命T1；根据目标预兆点T2和第二环境温度，以及电迁移寿命模型，获取电流密度应力；将电流密度应力输入基于预兆单元的MOS器件电迁移失效预警电路；若基于预兆单元的MOS器件电迁移失效预警电路经过时间T3后输出高电平，则根据T1、T2以及T3，获取对应T2的电迁移失效的剩余寿命。本发明还提出一种电迁移失效的剩余寿命预测装置，可以提高预测MOS器件电迁移失效剩余寿命的可靠性，提高预测效率，降低成本。
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本发明公开了一种高分子材料蠕变失效时间的预测方法，属于高分子材料领域。本发明所述高分子材料蠕变失效时间的预测方法针对聚丙烯、聚乙烯等应用在塑料制品上的半结晶高分子材料，无需进行具体结晶和结构参数的测量便可实现在不同温度和压力条件下高效、准确的蠕变失效时间预测。本发明还公开了所述高分子材料蠕变失效时间的预测方法在预测塑料制品使用寿命上的应用，其对于塑料制品的生产、使用、更换及补强时机等方面均具有重大意义。
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本发明公开的一种预测复合材料层合板失效强度的方法，包含以下顺序的步骤：步骤一、建立复合材料层合板有限元模型；步骤二、建立复合材料损伤本构模型；步骤三、基于ABAQUS‑VUMAT有限元用户动态子程序模块，使用FORTRAN语言编写用户自定义子程序实现提出的损伤本构模型，以求解应力、应变和损伤；步骤四、对有限元模型进行计算，预测复合材料层合板的失效强度。本发明利用ABAQUS‑VUMAT用户自定义子程序来数值实现所建立的三维损伤本构模型，该模型同时考虑了剪切非线性和损伤累积导致材料性能退化的影响，能准则预测复合材料的失效强度。
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本实用新型属于BGA失效监测仪领域，尤其是一种基于BGA菊花链式的BGA失效监测仪的保护装置，针对现有BGA失效监测仪使用位置固定，不便于移动，且BGA失效监测仪的减震性较差，得不到较好的保护的问题，现提出如下方案，其包括监测仪本体，所述监测仪本体的底部开设有两个固定槽，两个固定槽内均滑动安装有移动板，两个移动板的底部均安装有两个刹车万向轮，所述固定槽的两侧内壁上均开设有凹槽，移动板的两侧均固定安装有移动座，移动座滑动安装在对应的凹槽内。本实用新型结构合理，操作方便，该BGA失效监测仪使用位置灵活，便于移动位置，且BGA失效监测仪的减震性较好，可以得到较好的保护。
本发明公开了一种基于数字孪生技术的水土流失防治责任范围失效预测方法及系统，步骤包括：从预设的数据库中读取水土流失防治责任范围矢量数据；基于数字孪生技术的思路，建立可在生产建设项目水土保持监督管理全生命周期内实现动态映射的数字孪生模型；基于所述数字孪生模型预测水土流失防治责任范围的失效概率；判断所述水土流失防治责任范围失效的概率值是否大于预设的报警阈值；若所述失效概率值大于预设的报警阈值，则执行对应的报警提示操作。本发明根据数学孪生技术的思路，建立数字孪生模型，并计算水土流失防治责任范围失效的概率，基于失效概率进行失效警报，提高遥感监管工作中对于生产建设项目“未批先建”事件判别的准确率。
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本发明公开了一种实际运行工况环境下电器元件腐蚀失效预测方法，包括：步骤一、获取所述服役环境对腐蚀所述电器元件有影响的关键环境参数；步骤二、测量得到表面腐蚀产物膜总厚度平均值
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本实用新型提供一种测试桩与注浆土体接触面失效机理的试验装置，包括加载装置及管桩模型试验箱；所述加载装置包括反力架、设置在所述反力架上给管桩模型试验箱提供压力的加载机构；安装在所述反力架上的管桩模型试验箱，所述加载机构设置在所述反力架的顶部内侧；所述管桩模型试验箱可拆卸地设置在所述反力架的内部；所述加载机构位于所述管桩模型试验箱的管桩模型安装位的上方；所述反力架的顶部内侧设有用于检测所述管桩模型的纵向移动位置的位移检测装置。通过上述结构，本实用新型拆装方便，可移动，加载准确且强度和刚度满足试验要求的桩基模型试验系统来保证试验的顺利进行。
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本发明提供一种测试桩与注浆土体接触面失效机理的试验装置，包括加载装置及管桩模型试验箱；所述加载装置包括反力架、设置在所述反力架上给管桩模型试验箱提供压力的加载机构；安装在所述反力架上的管桩模型试验箱，所述加载机构设置在所述反力架的顶部内侧；所述管桩模型试验箱可拆卸地设置在所述反力架的内部；所述加载机构位于所述管桩模型试验箱的管桩模型安装位的上方；所述反力架的顶部内侧设有用于检测所述管桩模型的纵向移动位置的位移检测装置。本发明还提供一种使用所述的试验装置进行的测试管桩与注浆土体接触面失效机理的试验试验方法。通过上述结构及步骤，本发明拆装方便，可移动，加载准确且强度和刚度满足试验要求的桩基模型试验系统来保证试验的顺利进行。
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本实用新型涉及电能计量设备检测技术领域，公开了一种电能表可靠性试验显示失效自动测试装置。本实用新型的装置包括按键模块、传感模块和监控模块，其中按键模块包括多个模拟按键端子，每个模拟按键端子设置于与被测电能表的一按键对应的按压位置，传感模块包括用于在按键被按压后，对被测电能表的对应显示模块进行光电信号检测的传感器；该监控模块用于控制所述模拟按键端子按压对应按键，以及根据传感器传递的数据判断对应显示模块是否故障。本实用新型能够模拟人工按键操作，实现对电能表的显示功能的自动检测，可以有效节省人力成本，提高效率，智能性高。
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上述的阳离子交换树脂失效特性曲线测定设备包括：水样接口阀、原水流通池、第一测量电极、阳离子交换柱、离子交换水流通池、第二测量电极及电导率仪。电导率仪可同步检测原水样及阳离子交换柱出水的电导率，通过对比原水样电导率与阳离子交换柱出水电导率，能够确定阳离子交换柱内阳离子交换树脂状态，从而确定阳离子时效树脂失效特性曲线。上述的阳离子交换树脂失效特性曲线测定设备可以测量不同水样对同种阳离子交换树脂的失效特性曲线，或者相同水样对不同阳离子交换树脂的失效特性曲线，以满足实际生产中的监测需求。
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本申请提供了一种芯片失效类型测试系统，包括：检测装置，用于输出检测信号至待测芯片；处理装置，与检测装置通信连接，且与待测芯片通信电连接，处理装置用于至少控制检测信号的测试频率和测试功率以对待测芯片进行测试，并根据待测芯片在测试过程中的输出信号确定到待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型。该系统将处理装置与检测装置连接，通过处理装置至少控制检测信号的测试频率和测试功率以对待测芯片进行测试，并根据待测芯片在测试过程中的输出信号确定到待测芯片是否失效以及在失效情况下确定失效类型，实现芯片测试的自动化控制，进而解决了现有技术中无法自动识别区分芯片失效类型的问题。
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本发明实施例公开了一种电磁屏蔽层失效监测方法、装置及系统，电磁屏蔽层设置于变压器的外壳内壁，变压器的外壳内部设置有涡流检测装置，变压器的外壳外部设置有漏磁检测装置；方法包括：获取变压器三侧开关的电流值，并根据电流值判断变压器是否带电；若变压器带电，则启动漏磁检测装置，并通过漏磁检测装置检测电磁屏蔽层是否失效；若变压器不带电，则启动涡流检测装置，并通过涡流检测装置检测电磁屏蔽层是否失效。本发明实施例提供的技术方案采用内部和外部检测相结合的方法，持续在线监测电磁屏蔽层运行状态，实现了对电磁屏蔽层运行状态进行在线监测，以及对维护相关人员人身健康和安全的防护，降低了工作人员的安全隐患。
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本发明公开了一种晶闸管电压监测板的污秽失效测试方法，包括：模拟换流站阀厅电气设备的实际污秽程度，对待测晶闸管电压监测板的表面进行涂污。调整当前的环境相对湿度为预设的初始环境相对湿度，并对所述待测晶闸管电压监测板进行加压测试，记录所述待测晶闸管电压监测板发出回报信号时刻的脉冲宽度和对应的电源电压幅值。判断所述脉冲宽度和电源电压值是否均满足标准范围值；若是，则根据预设调整量调整所述初始环境相对湿度，再次进行加压测试；若否，则判定所述待测晶闸管电压监测板在当前的环境相对湿度下已失效，并结束污秽失效测试。本发明实施例能在预设污秽程度下确定晶闸管电压监测板的失效湿度，为其污秽失效机理提供实验依据。
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本发明提供一种纯锡镀层元器件锡须生长失效预测方法与系统，获取纯锡镀层元器件中锡须生长长度对数均值、对数标准差、锡须生长面密度均值以及面密度标准差数据，拟合出多项式拟合公式，计算锡须面密度均值、标准差、锡须生长长度对数均值以及对数标准差，分别进行第一次和第二次蒙特卡罗运算分析，得到锡须长度数据，根据锡须长度数据和预设失效判据，计数每组面密度中引起短路失效的锡须根数，计算待预测纯锡镀层元器件中引脚对的锡须生长失效率。整个过程中，从失效物理的角度，分别考虑锡须生长的面密度和长度值，并基于蒙特卡罗算法，分别进行迭代运算，兼顾锡须生长的失效物理因素，能对各类纯锡镀层元器件中锡须生长失效进行快速、准确预测。
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本发明涉及铁路器件检修技术领域，且公开了一种铁路提速道岔岔枕失效螺栓重锚的检修方法，包括以下步骤：S1：加热，用加热抢对准检修设备的棱锥、开槽条和固定柱，对其进行加热，加热到220‑250摄氏度；S2：开槽，把加热后的检修设备插入螺栓套管中，匀速按压按压盘，此时导向盘起到导向作用；S3：降温，用水对螺栓套管和检修设备进行降温；S4：取出检修，把检修设备再次插入螺栓套管中，然后将转动杆插入插接孔中，把螺栓套管取出，进行检修。本发明整个操作过程比较简单，而且通过棱锥的设置能够起到很好的开槽效果，不用重复开槽，按压盘的设置也方便按压和取出，省时省力。
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一种快速预测高温金属部件受热面失效趋势的手持式探头：探头形如手枪状，枪身内前部从上往下设有等离子体光谱收光透镜(3)和脉冲激光聚焦透镜(2)，两者焦点重合于一点，脉冲激光聚焦透镜后设有激光头(1)，激光头的开关(6)设在手柄(5)上，等离子体光谱收光透镜后的焦点处设有带光纤(4)的光纤头，光纤头的收光方向与激光头的出光方向之间成一定角度，光纤和电源线(8)套有保护套管(9)后外接处理分析模块和电源。本探头利用激光诱导击穿光谱技术预测分析受热面材料的失效趋势，避免了传统割管检测造成的损伤，实现了对受热面材料的无损、快速预测，该探头结构简单，操作灵活，携带方便。
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本发明提供了一种用于发光器件加工过程中的防失效定位检验方法及系统，主要用于在发光器件制程中对倒装发光芯片位置在可能发生变化的工序后进行检测，其中包括：在倒装发光芯片转移至基板上后对倒装发光芯片进行检测、在倒装发光芯片进行回流焊后对倒装发光芯片进行检测；为了满足精确监控的条件，还在发光器件的制程中增设部分特殊工艺以及对结构进行调整，具有位置检测精度高等优点。
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本发明公开了一种红外温度计，包括热电偶冷端、热电偶热端、红外窗口、参照发射体以及检测电路；参照发射体与热电偶冷端接触，参照发射体可移动至红外窗口的接收面前方；热电偶热端置于红外窗口的出射面前方；检测电路根据热电偶冷端的温度以及预先存储的参照发射体的能量数据库判断热电偶热端接收到的红外辐射能量是否合理，当热电偶热端接收到的红外辐射能量合理时，判定红外温度计失效。相应地，本发明还公开了一种红外温度计的失效检验方法。本发明可以判断红外温度计是否失效，避免测量不准确，且这种方式无需等待，也不需要增加功耗。
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本实用新型公开了一种电梯光幕失效自检装置，所述装置包括电梯控制系统、光幕发射端、光幕接收端、轿厢通讯板和光幕检测开关元件，所述电梯控制系统与轿厢通讯板连接，所述轿厢通讯板与光幕接收端连接，所述光幕检测开关元件分别与轿厢通讯板和光幕发射端连接；所述电梯控制系统，用于检测当前电梯的状态，以及判断是否有光幕阻挡信号；所述光幕发射端发射光束至光幕接收端，用于检测电梯轿门之间是否有阻挡物；所述轿厢通讯板，用于根据电梯控制系统的命令断开或复位光幕检测开关元件，以及传输光幕状态信号；所述光幕检测开关元件，用于检测光幕是否失效。本实用新型通过预检测的方式，能及时得知光幕的工作情况。
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本发明公开了一种电梯光幕失效自检方法及装置，所述方法包括：通过电梯控制系统检测当前电梯的状态，当检测到电梯在停靠状态、电梯门在关门状态、电梯无召唤信号时，判断在关门状态下是否有光幕阻挡信号，当确认无光幕阻挡信号后，发送命令至轿厢通讯板断开光幕检测开关元件，光幕检测开关元件断开光幕发射端的电源；此时，光幕接收端输出光幕状态信号至轿厢通讯板，轿厢通讯板将接收到的光幕状态信号发送至电梯控制系统，当电梯控制系统接收到的光幕状态信号为光幕阻挡信号时，判断本次光幕测试正常，然后发送命令至轿厢通讯板复位光幕检测开关元件，使电梯控制系统接收到光幕正常的信号。本发明通过预检测的方式，能及时得知光幕的工作情况。
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本发明公开了一种基于视频序列影像特征分析的云台移动与复位检测算法，主要采用模板匹配准则，即如果云台发生移动或变焦，则在一段时间内模板匹配必然会失效，同理，如果云台复位，则在一段时间内模板会重新匹配成功；包括两大步骤：1)在背景图像中搜索定位合适的模板，选择匹配准则并计算偏移度；2)判断云台移动与复位。本发明算法可以较准确的检验出云台移动的情况，从而提高在云台移动摄像机条件下系统的识别率和稳定性。
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本申请公开了一种车辆功率模块的失效预测方法，用于车辆，失效预测方法包括：计算统计范围内车辆发生功率模块失效的第一概率；计算在车辆发生功率模块失效的条件下，失效发生在当前统计里程子区间的第二概率；计算车辆超过当前统计里程子区间的第三概率；根据第一概率、第二概率和第三概率，计算在当前统计里程子区间的条件下，车辆发生功率模块失效的第四概率；根据第四概率对当前统计里程子区间内的非失效车辆进行功率模块失效预测。本申请实施方式中，能够预测未来量产的车辆可能发生的失效情况，及时做出售后响应，同时对车辆生产线进行检查，完善生产线可能存在的缺陷，减少失效情况的发生概率。本申请还公开了一种失效预测装置和电子设备。
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