本发明公开了一种实际运行工况环境下电器元件腐蚀失效预测方法,包括:步骤一、获取所述服役环境对腐蚀所述电器元件有影响的关键环境参数;步骤二、测量得到表面腐蚀产物膜总厚度平均值
步骤三、构建加速试验环境;步骤四、将所述电器元件和n片铜测试片放置在所述加速试验环境中进行加速腐蚀试验,分n次测量所述电器元件受环境腐蚀影响的关键性能P和所述铜测试片的表面腐蚀产物膜总厚度T
总;步骤五、拟合得到P=K
1ln(t′)+B
1,T
总=K
2ln(t′)+B
2;步骤六、当P=P′时,T
总的取值T
总′;并且,计算得到所述电器元件在服役环境运行的腐蚀失效时间预测值D
失。本发明具有精确度高的优点,能够帮忙使用者精准的对电器元件进行腐蚀失效预测以及指导运维。
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