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315气动标准型自动送料切管机为了增加产量，保持锯切工件的准确度及降低劳动强度，减少劳动用工，我厂成功开发了该种锯切能力强，量产高的全自动金属圆锯机。
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YB-60型棒材自动切割机是我公司生产的一种气动机型，主要适用于玻璃棒、铜铝棒、钛合金、铝型材、管材的批量切割。该机型的送料动作由气缸来完成，进刀速度是通过油气转换调节阀控制，在触摸屏上调节进刀速度，进刀平稳，切割强劲，机器运行在自动状态时，将会按预先设定的长度，作连续的自动送料，自动切割，并准确计数，料将送完时会报警提示，然后进刀滑板回退并关停机器，所切工件端面垂直，尺寸准确，应用该机器能较大幅度地降低劳动强度和提高安全系数，还能一人多机管理，是阀门、仪表等行业较为理想的加工设备。
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深圳市天创美科技有限公司推出的ICP-OES原子发射光谱检测仪，是一款基于电感耦合等离子体发射光谱技术（ICP-OES）的高精度分析设备，专为多元素痕量分析设计。其工作原理通过高频电磁场（27.12MHz）激发氩气形成高温等离子体炬焰（温度达6000-10000K），样品经雾化后进入等离子体，原子被电离并跃迁至激发态，返回基态时释放特征光谱。仪器采用Czerny-Turner型光路与离子刻蚀全息光栅（3600线/mm或2400线/mm），实现190-800nm全波段光谱采集，分辨率≤0.008nm（3600线光栅），可同步检测70余种元素，检出限低至ppb级。
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苏州谦通仪器设备有限公司的延伸率拉力试验机是一款专为材料力学性能测试设计的高精度设备，广泛应用于金属、非金属及复合材料的拉伸、压缩、弯曲等力学性能检测。其工作原理基于胡克定律与材料变形理论，通过伺服电机驱动滚珠丝杠传动系统，对夹持在楔形或缠绕式夹具中的试样施加轴向拉力，同时利用高精度力传感器与光栅尺位移传感器实时采集力值与位移数据。设备内置的DSP数字信号处理器可对数据进行高速处理，自动绘制力-位移曲线与应力-应变曲线，并计算出抗拉强度、屈服强度、断裂伸长率等关键参数。
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苏州福佰特仪器科技有限公司EDX1800矿石化验仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度分析设备，专为矿石成分快速检测设计。该仪器通过高压电源激发X光管产生初级X射线，穿透样品后激发特征荧光，电制冷Si-Pin探测器捕获信号并转换为数字信号，结合FP基本算法、经验系数法等多重算法，实现矿石中元素的定性定量分析。其检测范围覆盖硫(S)至铀(U)之间的30余种元素，分析含量可达2ppm-99.99%，检测限低至2ppm，能量分辨率144±5eV，满足纳米级矿物成分分析需求。
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南京万合分析仪器有限公司的WH-V型工业硅分析仪是一款专为工业硅及其原料成分检测设计的实验室设备，采用化学分析技术结合自动化控制，可快速测定硅石、金属硅等材料中的硅、铝、铁、钙等元素含量。其工作原理基于经典分光光度法与光电比色技术：样品经预处理后，通过化学反应将目标元素转化为可定量分析的显色络合物，利用进口冷光源与高精度光电元件捕捉特征吸收峰，配合微机系统完成数据采集与浓度计算。该设备支持电子天平联机称样，计算机自动读取质量并计算元素含量，显著提升检测效率与准确性。
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苏州浪声科学仪器有限公司的手持式工业硅光谱分析仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的便携式检测设备，专为工业硅及相关材料成分分析设计。其工作原理通过高能X射线轰击样品，激发原子内层电子跃迁并释放特征X射线荧光，这些荧光谱线与元素种类一一对应，且辐射强度与元素浓度成正比，从而实现精准定量分析。设备采用大面积SDD探测器，结合智能真空系统，可有效激发Si、P、S等轻元素，同时对Cr、Ni等重金属元素保持高灵敏度，适用于工业硅生产全流程的质量控制。
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深圳市天创美科技有限公司研发的手持式合金光谱检测仪，是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）的便携式元素分析设备，专为金属材料快速成分鉴定与成分分析设计。其核心原理通过微型X射线管发射高能射线，激发合金表面原子内层电子跃迁，释放特征荧光光谱。探测器捕获荧光信号后，结合智能算法与标准谱库，实现合金牌号识别及元素含量（如铁、铜、铝、镍、钛、钼等）的实时定量分析，覆盖轻金属至重金属全谱段检测。
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苏州福佰特仪器科技有限公司便携式水质分析仪HM-3000P是一款基于溶出伏安法与电化学传感器技术的高精度便携检测设备，专为水质重金属快速分析设计。该仪器通过工作电极与水样中重金属离子的氧化还原反应，测量电流变化实现定量分析，检测精度可达1ppb，最低检出限低于0.5ppb，覆盖铜、镉、铅、锌、汞、砷等10余种重金属离子，支持通过更换电极扩展锰、铬、镍等元素检测。其检测流程高度自动化，从取样到结果输出仅需3-5分钟，显著提升应急监测效率。
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苏州福佰特仪器科技有限公司EDX 2000A电镀层测厚仪是一款基于X射线荧光光谱技术（XRF）研发的高精度无损检测设备，专为金属镀层厚度分析设计。该仪器通过高压电子流激发X光管产生初级X射线，穿透镀层后激发特征荧光，探测器捕获荧光信号并转换为数字信号，结合专业软件计算得出镀层厚度及元素组成。其检测范围覆盖氯(Cl)至铀(U)之间的24种元素，可同时分析23层镀层结构，单层测量精度达±0.001%，最薄检出限低至0.005μm，满足纳米级薄膜分析需求。
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