电子探针X射线显微分析仪,又名微区X射线谱分析仪。可对试样进行微小区域成分分析。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外,还有U元素以后 的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针,激发试样中某一微小区域,使其发出特征X射线,测定该X射线的波长和强度,即可对该微区的元素作定性或定量分析。。可以进行点、线扫描(得到成分分布信息)、面扫描(得到成分面分布图像)。相对EDS,检测限更低,有标测试,对于轻元素、微量元素测试精度更高。
深圳云威网络科技有限公司推出的SW-6510A/S超声波测厚仪是一款高精度、智能化的工业级无损检测设备,基于超声波脉冲反射原理实现厚度测量。仪器通过探头向被测材料发射高频超声波脉冲,脉冲穿透耦合剂后到达材料底面或界面,发生反射并返回探头。仪器根据超声波在材料中的传播时间及预设声速,自动计算材料厚度值。该技术可穿透表面涂层直接测量基材厚度,测量范围覆盖1.00-300.00mm(钢),分辨率达0.01mm,精度±0.1mm,符合ASTM E797等国际标准。
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜高的很多,可以达到0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍。
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互作用,作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时,利用传感器检测这些变化,就可获得作用力分布信息,从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
北京吉泰科仪检测设备有限公司推出的JT170超声波测厚仪是一款高精度、智能化的工业级无损检测设备,基于超声波脉冲反射原理实现厚度测量。其工作原理为:仪器通过探头向被测材料发射高频超声波脉冲,脉冲穿透耦合剂后到达材料底面或界面,发生反射并返回探头。仪器根据超声波在材料中的传播时间及预设声速,自动计算材料厚度值。
江苏一六仪器有限公司推出的XTD-200全自动镀层测厚仪是一款专为复杂镀层体系设计的智能化检测设备,采用X射线荧光光谱技术(XRF)实现无损、高精度测量。其核心工作原理基于X射线与镀层材料的相互作用:仪器发射微聚焦X射线照射样品表面,激发镀层元素产生特征荧光X射线,通过分析荧光强度与波长,结合多元迭代EFP算法,可精准计算镀层厚度及成分含量。该技术无需破坏样品,测量范围覆盖0.005-100μm(厚度检出限),成分检出限达1ppm,支持多层镀层(如Au/Ni/Cu)及重复镀层(如Ni/Cu/Ni)的逐层分析。
华矿重工有限公司第一分公司推出的NDT340穿越涂层测厚仪是一款高精度、智能化的工业级检测设备,专为复杂涂层体系厚度测量设计。其核心工作原理基于超声波回波-回波技术,通过高频脉冲穿透涂层直接测量基材厚度,无需去除表面防护层。仪器发射的超声波在基材界面反射后返回探头,系统根据传播时间与预设声速自动计算厚度值,测量范围覆盖0.75-400mm(钢),穿透涂层厚度可达2-25mm(取决于材料与探头),分辨率达0.01mm,精度±(0.5%H+0.01)mm,符合ASTM E797等国际标准。
微机控制金属拉力试验机加湿:加湿系统中水位控制采用了中国台湾进口电子液位控制器来控制水泵,配有内置式固定水箱,并装有可视式玻璃水位显示器。批量试验:对相同参数的试样,一次设定后可顺次完成一批试验显示分辨率温度:0.1℃湿度:0.1%R.H时间:0.1min输入:热电偶(铂电阻/电压/电流等,根据设备需要)自动程制:根据试验要求,用户可方便的建立自己的试验模板(方法、,便于二次调用。
主要性能特点:*通过使用两个硬质滚花轮对铝型材穿条槽口部分进行穿条及滚齿;*通过一对硬质材料滚花轮,在铝合金型材穿隔热条的槽口部分进行滚齿,增加隔热型材剪切力,实现开齿穿条同时,采用交流变频调速进行滚齿速度无极调速控制。*高精度数字显示器,可实现自动化开齿穿条功能。
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