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集成电路元件的形成方法

981   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 14:45:35
本发明公开了一种集成电路元件的形成方法,根据一实施例提供一种具有基脚形状的铜柱工艺,在凸块下冶金层上采用两道不同光敏性及厚度的光致抗蚀剂膜。在曝光显影工艺后,在第一光致抗蚀剂膜中形成具有实质上垂直的侧壁的第一开口,并在第二光致抗蚀剂层中形成具有倾斜侧壁的第二开口。第二开口的底部直径大于第二开口的顶部直径,且第二开口的底部直径大于第一开口的直径。接着形成导电层于第一开口及第二开口中,之后移除两道光致抗蚀剂膜。本发明在不需额外化学或等离子体工艺的情况下,即可轻易定义基脚形状的尺寸,大幅节省制造成本。
声明:
“集成电路元件的形成方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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