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本发明公开了一种NTC表面测温温度传感器，包括NTC热敏电阻和软排线或导线，所述NTC热敏电阻与软排线或导线焊接在一起形成焊点，且所述NTC热敏电阻及焊点热压封装在薄膜中。本发明将NTC热敏电阻与软排线或导线焊接在一起后，通过薄膜热压封装，并利用软排线连接器卡座，直接与PCB板连接；或导线引脚与PCB直接焊接。与现有技术相比，本发明利用软排线技术与薄膜封热敏电阻封装技术结合，制成的NTC表面测温温度传感器，解决了薄膜型温度传感器使用温区及应用范围较小、NTC温度传感器因工艺制作困难而出现的失效问题，该NTC表面测温温度传感器耐温区间为-50℃~270℃左右、耐2.8千伏高压，防水性能好，可靠性高，制造成本大大降低。
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本发明公开了一种电气元器件可靠性评价及寿命预测方法，其包括如下步骤：1)对电气元器件的触点材料的标准材料样片分别进行运行环境暴露试验和加速腐蚀试验，建立两环境试验的良好相关性，并寻求两环境试验试验时间的对应关系；2)对电气元器件进行步骤1)中的加速腐蚀试验，根据关键电气性能参数的失效判据，得到对应的加速腐蚀失效时间，并根据步骤1)中两环境试验试验时间的对应关系，得到电气元器件在实际运行环境下的失效时间。本发明先验证该电气元器件加速腐蚀试验与运行环境暴露试验的相关性，然后选用相关性良好的加速腐蚀试验对电气元器件进行可靠性评价和寿命预测，有效缩短试验周期的同时，提高了可靠性评价及寿命预测的准确性。
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本发明适用于电信技术领域,提供了一种测试DSL设备的SRA功能的装置、系统及方法,所述装置包括:对端DSL设备,用于配合待测DSL设备使用,获取与所述待测DSL设备之间的线路上所加载的噪声的强度;噪声加载设备,用于当待测DSL设备的SRA功能生效时,加载强度逐步加大的噪声至所述对端DSL设备与所述待测DSL设备之间线路中;当所述对端DSL设备与所述待测DSL设备发生重新协商时,所述对端DSL设备获取的噪声的强度是所述待测DSL设备的SRA功能失效的临界值。本发明使用自动化的手段来执行测试过程,在保证测试结果的同时也能很好地重复测试过程,提高了测试效率、解放了人力资源。
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本申请涉及一种TSV结构电击穿寿命测试方法、装置、系统和控制设备；所述方法包括在第一个温度循环周期内，通过信号采集设备采集待测TSV矩阵晶圆样品在初始电压下的初始漏电流；第一个温度循环周期为控制温度调节设备调节待测TSV矩阵晶圆样品的测试环境温度循环变化的第一个周期；在初始漏电流小于或等于预设值时，控制电源设备以初始电压为起点逐渐增大施加在待测TSV矩阵晶圆样品上的电压，并通过信号采集设备实时采集待测TSV矩阵晶圆样品的当前漏电流；在当前漏电流满足失效判据时，获取电源设备调节电压的总时长，并将总时长确认为待测TSV矩阵晶圆样品的失效时间，实现高效准确地测试TSV结构的寿命性能，实现高效准确地测试TSV结构的电击穿可靠性。
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本发明公开了一种媒体网关监测媒体网关控制器状态的实现方法,以解决现有技术中因媒体网关监测媒体网关控制器的状态需要依赖于媒体网关控制器配合而存在可能导致监测失效的问题。该方法通过在所述媒体网关上主动设置休止定时器或普通定时器和消息接收标志监测所述媒体网关控制器消息的静默时间,并在该静默时间超时时向媒体网关控制器发送通知消息以触发媒体网关控制器返回消息证明其状态正常;当所述媒体网关向媒体网关控制器注册后,根据返回的注册成功消息启动所述休止定时器或普通定时器开始监测所述媒体网关控制器的状态。
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本发明公开一种半导体器件测试方法及装置，应用于智能功率模块的性能测试，半导体器件测试方法包括：将半导体器件与耐压测试仪通过耐压测试连接导线短接至一起进行耐压测试；在耐压测试后，基于引脚间连筋对所述半导体器件的连接引脚进行切脚成型；在切脚成型后，对所述半导体器件进行电参数测试。本发明技术方案避免半导体器件测试时先切脚成型，再耐压测试时，造成半导体器件失效的问题，降低了测试失效成本。
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本发明公开了一种核电厂反应堆保护系统的测试方法，包括：根据核电厂事故发展阶段及每一阶段所触发的保护设备构建设备序列；每设置所述设备序列中的至少一个保护设备失效，则构建一个设备失效状态；在预先选定的事故场景中，分别获取每个设备失效状态下的核电厂运行参数变化曲线；随机选取一个变化曲线，并将所述变化曲线对应的运行参数输入至保护系统进行测试。本发明还公开了一种核电厂反应堆保护系统的测试系统。本发明能够提高保护系统测试的充分性、完备性和真实性。
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本发明公开了一种基于BGA焊点可靠性测试的PCB设计方法，包括以下步骤：将BGA模块焊接于PCB上，获得待测器件，待测器件的焊点阵列包括距离焊点阵列的中心不同间距的多个焊点环；将待测器件放入试验箱中；选定所需要测试的焊点环，获得测试环，并采用连接线将每个测试环的至少两个焊点与电阻测试系统连接形成测试通路；开启试验箱，电阻测试系统开始连续测量不同的测试环所对应的测试通路的电阻；根据所测电阻的变化得出与每个测试环相对应的焊点失效情况，再根据每个测试环的焊点失效情况得出PCB的设计方案。本发明采用电阻测试系统测量不同焊点环上焊点的方式，准确获得距离中心不同间距的BGA焊点的可靠性，为特定使用条件下的BGA尺寸设计提供参考。
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本发明公开一种电路板测试中的电压异常保护装置,连接于待测电路板与测试设备之间,包括有继电器、与继电器连接的单片机、连接于继电器的其中一个触点与单片机之间的A/D转换器、以及连接单片机用于存储待测电路板的输出标准电压值的存储器;继电器的另外两个触点分别用于连接待测电路板与测试设备。本发明应用于电路板测试中的电压异常保护装置在待测电路板输出的电压异常时,可靠地起到保护的目的,以防止测试设备的失效;其设置简单,通用性好,能应用于测试不同类型的电路板过程中。
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本发明提供一种永磁同步电机剩余寿命预测方法、装置及存储介质，所述方法包括：将三相电流不平衡度和/或电磁转矩不平衡度作为电机失效的主要影响因素，建立永磁同步电机的剩余寿命模型；获取所述永磁同步电机的三相电流、电磁转矩以及电机失效的次要影响因素的时间序列作为训练集，进行ARIMA模型训练；根据所述ARTMA模型预测得到所述三相电流、电磁转矩和次要影响因素t时刻的值，并代入到所述剩余寿命模型中得到所述永磁同步电机的失效时刻。本发明提供的方案能够实现永磁同步电机剩余寿命的预测，提高电机稳定性。
本发明公开了一种架空输电线路损毁概率预测方法、装置、终端设备及介质，该方法包括：分别计算输电杆塔的风荷载和输电线路的风荷载，并根据输电杆塔风荷载和输电线路风荷载计算输电线路的损毁概率；根据输电线路损毁概率，将输电线路的风荷载耦合到输电杆塔的风荷载上并计算输电杆塔的总风荷载；根据输电杆塔的总风荷载计算出输电塔线耦合的损毁概率；分别计算输电杆塔的老化失效概率及其腐蚀失效概率；根据概率加法公式、输电塔线耦合的损毁概率、输电杆塔的老化失效概率及其腐蚀失效概率，预测架空输电线路在不同效应组合下的损毁概率。本发明从概率角度考虑了塔线耦合效应、老化、腐蚀和加固等多重效应，所获取的损毁概率更接近于真实故障。
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本发明公开一种IPM可靠性测试方法，包括：向待测IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第一漏电流并据此判断其是否失效；若有效，则将测试温度设置为第一预设温度并施加第二预设偏置电压；持续第二预设时长后，恢复至常温静态测试环境；向IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第二漏电流；基于第二漏电流与IPM的极限漏电流，判断IPM是否失效；若有效，则将测试温度设置为第二预设温度测试湿度设置为预设湿度并施加第三预设偏置电压；持续第三预设时长后，恢复至常温静态测试环境；恢复至常温静态测试环境后，向IPM施加第一预设偏置电压，获取IPM的第三漏电流；基于第三漏电流与IPM的极限漏电流，判断IPM是否失效。
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本发明涉及一种船舶寿命预测方法及系统。该方法包括采集历史时段M维测量数据，该数据包括正常工作状态下的测量数据以及维护状态下的测量数据；基于M维测量数据，计算得到正常工作状态与维护状态之间的转移矩阵、每个退化过程的漂移系数和扩散系数，一维测量数据对应一个退化过程；设定每个退化过程的失效阈值，基于转移矩阵、每个退化过程的漂移系数和扩散系数，结合蒙特卡罗方法，得到每个退化过程失效时间的累积概率密度分布；基于每个退化过程失效时间的累积概率密度分布，结合正态Copula函数，得到船舶故障状态的联合概率密度分布；基于船舶故障状态的联合概率密度分布，结合置信率，计算满足置信率的船舶寿命。提高了船舶寿命预测的准确性。
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本发明公开一种客户端埋点测试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括获取客户端所在终端设备的设备信息，根据设备信息获取并执行目标测试脚本；调用预置埋点对脚本执行过程中生成的数据信息进行采集以获得埋点日志；接收服务器根据埋点日志生成对应的有效埋点信息；从有效埋点信息中提取有效埋点标识，将有效埋点标识与预置埋点标识进行比对，并根据比对结果判断是否存在失效埋点，由于是通过脚本自动触发埋点进行数据采集，然后将采集数据发送至服务器并将服务器反馈的有效埋点标识与预置埋点标识进行比对进而能够根据比对结果确定预置埋点是否失效，相比于现有的埋点测试方式，测试流程简单，而且能够准确地排查出失效埋点，测试效率较高。
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本发明涉及一种船舶故障状态预测方法及系统，解决了船舶故障状态预测方法准确性不高的问题。该方法包括采集历史时段M维测量数据，M维测量数据包括正常工作状态下的测量数据以及维护状态下的测量数据；基于M维测量数据，计算得到正常工作状态与维护状态之间的转移矩阵以及每个退化过程的漂移系数以及扩散系数，一维测量数据对应一个退化过程；设定每个退化过程的失效阈值，基于转移矩阵、每个退化过程的漂移系数以及扩散系数，结合蒙特卡罗方法，得到每个退化过程失效时间的累积概率密度分布；基于每个退化过程失效时间的累积概率密度分布，结合正态Copula函数，得到船舶故障状态的联合概率密度分布。提高了船舶故障状态预测的准确性。
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本申请涉及一种光电探测器寿命评估方法、装置。通过确定光电探测器的击穿电压以及位于光电探测器的工作电压与击穿电压之间的多个第一测试电压，在多个第一测试电压一一对应的多个光电探测器组中各光电探测器满足预设环境条件下，对各光电探测器施加对应的第一测试电压，按照预设的时间间隔，获取各光电探测器的暗信号值，进一步根据暗信号值以及预设失效暗信号值，确定各光电探测器的有效使用时长，从而根据有效使用时长以及多个第一测试电压，确定寿命评估模型，实现对待评估光电探测器的寿命评估。由于光电探测器在失效机理方面对电场更加敏感，可以加快光电探测器的失效退化，确定寿命评估模型，从而实现对光电探测器寿命的快速评估。
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本发明公开了一种电力复合脂的老化程度测试方法及模型，包括建立电力复合脂老化程度测试模型；基于电力复合脂老化程度测试模型，确定当前工况下待测试品上电力复合脂的老化程度。建立电力复合脂老化程度测试模型包括：在参考测试品上涂覆电力复合脂；对参考测试品上涂覆的电力复合脂进行老化处理；在参考测试品上涂覆的电力复合脂完全失效时，将参考测试品上涂覆的电力复合脂当前的温度值作为完全老化参考值。本发明通过对参考测试品上涂覆的电力复合脂进行老化处理，并在电力复合脂完全失效时将其当前温度作为完全老化参考值，从而能够对电力复合脂已经完全失效的情况做出准确判断，有利于提高电力复合脂的老化程度测试的准确性。
本发明公开了一种基于贝叶斯筛选器与重采样的电路的良率预测方法及系统。其中良率预测方法，包括：采用Scrambled Sobol序列对参数域进行预采样得到预采样点；根据预采样点得到初始失效域以及初始非失效域，并构建初始采样分布，将初始失效域作为当前失效域进行迭代运算；迭代运算时根据相应的规则选择当前失效域的采样中心进行重采样，并进行分类器筛选、SPICE仿真得到新的失效域；若当前失效率估计值的品质因数达到收敛标准，则停止迭代输出当前失效率的无偏估计量，否则将新的失效域作为当前失效域继续迭代运算。本发明充分利用预采样获得的信息构建朴素贝叶斯分类器对采样点进行分类筛选，再根据筛选结果决定是否进行后续仿真，使得SPICE仿真次数大幅度减少。
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本申请涉及一种芯片测试设备、系统、芯片及蓝牙耳机。其中，芯片测试设备包括控制单元、扫描链、数据选择设备和寄存器设备；数据选择设备包括第一数据选择器、第二数据选择器和第三数据选择器；寄存器设备包括第一寄存器和第二寄存器；在芯片内部引入输入旁路直接连通到芯片扫描输出的路径，可以将自动化测试设备寄生应引起时序变化导致的失效与芯片本身缺陷引起的失效区分开，便于快速定位失效原因。芯片测试数据通过自动测试设备发送，只经过两级移位寄存器，便于同时观察自动测试设备的输入/输出状态，没有经过扫描链而直接送出，可以快速将扫描链的缺陷引起的失效与测试机的寄生干扰引起的失效区分开。
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本发明公开了一种流表项规模的预测方法，包括：获取当前tn时刻交换机的流表的平均流表项规模；确定当前tn时刻所述流表中流表项的平均失效速率以及流表项的增加速率的估计值；依据所述当前tn时刻的平均流表项规模、所述流表项的平均失效速率及所述流表项的增加速率的估计值，对下一时刻tn+1时的流表项规模进行预测。本发明还同时公开了一种流表项规模的预测装置。
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一种多芯片组件的可靠性预测方法，包括步骤：获取基板失效率λ基板、外贴元器件失效率λ外贴元器件、互连失效率λ互连、封装失效率λ封装及组装系数π组装、设计系数π设计、质量控制系数π质量控制、环境系数π环境；根据基板失效率λ基板、外贴元器件失效率λ外贴元器件、互连失效率λ互连、封装失效率λ封装及组装系数π组装、设计系数π设计、质量控制系数π质量控制、环境系数π环境确定多芯片组件的可靠性预计失效率λP。本发明结合多芯片组件MCM的特点，综合考虑基板、外贴元器件、互连、封装的失效率，及组装、实际、质量控制及环境的系数，根据这些失效率和系数综合确定多芯片组件的可靠性预计失效率，实现对多芯片组件可靠性的准确预测。
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本发明提供了一种产品容错性测试方法及其故障插入装置,通过产生故障模拟信号对产品进行容错性测试,所述方法在产品内部设置故障插入装置,由故障插入装置产生不同类型的故障模拟信号,通过产品内部的CPU控制接口选通故障插入装置的通信控制模块,对通信控制模块的控制寄存器进行内容控制,有选择性地将不同类型的故障模拟信号插入任意的芯片输入/输出管脚或直接插入芯片内部的功能模块,从而模拟产品内部单元部分失效或全部失效。本方法可以为电子产品提供一种简单、功能强大的在线故障插入手段,可完成多种类型信号故障的模拟,全面模拟各种故障模式,提高了单板测试覆盖面和重复性,丰富了容错性测试方法,改善了测试效果。
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本发明公开了一种铝电解电容的倍压测试方法，包括以下步骤：测试一：采用直流电，在第一温度条件下，对铝电解电容施加x秒的第一电压；逐级调大所述第一电压并重复测试一的步骤，直至所述铝电解电容失效；测试二：采用直流电，在第二温度条件下，对铝电解电容施加y秒的第二电压；逐级调大所述第二电压并重复测试二的步骤，直至所述铝电解电容失效。本发明能够观测铝电解电容在不同温度、电压条件下的失效情况，确认是否正常、安全、可控，对铝电解电容的实际失效情况模拟性强，更具代表性，因此测试结果的可信性更强。
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本发明揭示一种测试设备或治具的异常维护监控系统,该系统包括:一记录生成模块,用以生成包含若干失效数据的测试设备或治具的失效记录并发送,该若干失效数据至少包括一标记该测试设备或治具为停止状态的数据;一数据库,其包括一对应关系表,该对应关系表包括上述若干数据所对应联系人的联系方式;一维护监控模块,其包括一通知单元,该维护监控模块接收上述失效记录,并根据该失效记录所包含的上述若干数据在上述对应关系表中找出对应的联系人的联系方式,该通知单元通过该联系方式通知该对应的联系人。维修工程师能及时有效地对测试设备或治具进行维修,节省维修时间。
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本申请涉及一种底盘线控测试方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：执行测试用例，根据测试用例发送控制指令至底盘虚拟系统，以指示底盘虚拟系统按照所述控制指令对线控对象进行控制；实时接收底盘虚拟系统返回的车辆状态信息；根据测试用例发送线控失效控制指令；根据车辆状态信息及线控失效控制指令得到测试结果。该方法包括：接收测试端发送的控制指令，根据控制命令对线控对象进行控制；接收线控失效控制指令，根据线控失效控制指令控制对应的线控对象；实时采集线控对象对应的车辆状态信息，将车辆状态信息实时发送给测试端，车辆状态信息用于测试端根据线控失效控制指令得到测试结果。采用本方法能够提高测试效率和安全性。
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本发明公开了一种LED灯具的状态信息监测方法，包括步骤：获取LED灯具的产品参数信息和LED灯具各层级部件的失效决策信息，以及监测得到的各层级部件的目标信息；根据产品参数信息，分别建立LED灯具各层级部件的失效物理模型；根据失效决策信息、目标信息和各失效物理模型，获取LED灯具的故障状态信息；根据目标信息和各失效物理模型，监测LED灯具的剩余寿命状态信息。本发明公开一种LED灯具的状态信息监测装置及系统。通过对LED灯具不同层级的部件进行实时目标信息采集，应用失效物理模型，根据各个层级部件的失效决策信息及目标信息获得LED灯具的故障状态信息和剩余寿命状态信息。可以更准确地实现故障状态和剩余寿命状态的监测，利于对LED灯具的运行维护。
本申请涉及一种汽车零件的故障预测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：首先基于待测汽车零件的历史故障数据获取失效曲线，再将该失效曲线与经典失效曲线进行比对，以此确定该汽车零件的失效模式是否为多种失效模式，若是，则可确定使用混合预测模型对多种失效模式的汽车零件进行预测。因此预先判别待预测汽车零件是否对应于多种失效模式，若是则可通过混合预测模型对该多种失效模式的汽车零件进行预测，获得待测时刻下的汽车零件的预测累计失效率。这样，该预测累计失效率能够体现多种模式对汽车零件不良规律的影响，进而提高汽车零件故障预测的准确率。
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本发明公开了一种用于核电站的系统可靠性测试方法以及系统，方法包括：通过故障注入的方式使待测系统在不同的加速应力水平下运行；获取待测系统在不同的加速应力水平下运行时的失效数据，并将获取的失效数据还原为正常应力水平下的失效数据；根据正常应力水平下的失效数据获取待测系统的可靠性信息。本发明加速了失效过程，将长时间的可靠性测试缩短到可接受的水平；进一步地，故障模式库包括与待测系统的层级架构对应的几种层级故障，因此可选的故障模式囊括了各种层级故障，可以引发系统各层级协同失效，克服单一应力不足以表征系统失效机理的弊端；通过危害度刻画应力水平，所选取的故障模式的危害度累加符合加速应力水平所对应的危害度要求。
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本申请公开了一种晶圆测试错位的监控方法、装置、设备及存储介质，属于半导体技术领域。所述方法包括：获取第一晶圆中的多个指定位置上的芯片的测试结果，得到多个芯片的测试结果，测试结果用于指示对应的芯片有效或失效；根据多个芯片的测试结果，确定失效芯片信息，失效芯片信息包括多个芯片中失效芯片的失效芯片比例和/或失效芯片位置分布信息；根据失效芯片信息，确定第一晶圆是否发生测试错位。本申请解决了如何监控晶圆是否发生测试错位的问题，从而可以避免由于测试错位导致的不良芯片被误封装而良品芯片被丢弃的情况。
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本发明实施例公开了一种扫描失败率的预测方法、装置、设备及存储介质。该方法应用于运行有实时操作系统的扫描失败率的预测设备上，可以包括：在监测到失效测试的触发事件时，获取测试开始时间且执行触发事件对应的失效测试脚本，其中，失效测试脚本是用于模拟待运行于实时操作系统上的磁共振软件进行磁共振扫描时的扫描流程的脚本；在失效测试脚本执行完毕后获取测试结束时间，并根据测试开始时间、测试结束时间和失效时间更新失效次数；基于失效次数和测试次数确定磁共振软件的实时失效率，并根据实时失效率预测磁共振软件的扫描失败率。本发明实施例的技术方案，可以在将磁共振软件应用于现场环境前快速预测出磁共振软件的扫描失败率。
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