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本申请公开了一种应用于工业信息安全主板的USB失效恢复方法及系统，属于USB设备技术领域，恢复方法包括以下步骤：上位机周期性读取USB设备的设备信息；判断是否能正常读取USB设备的设备信息；若否，则上位机向MCU发送重启指令；MCU接收重启指令，并对重启指令进行分析；根据分析结果，MCU控制相应的USB设备以断电及断开通信信号的方式进行重启。本申请可自动检测失效的USB设备，并自动对失效的USB设备进行重启，更具安全性。
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本发明公开了一种多串锂电池组保护失效的控制系统及方法，包括充电端口连接充电器，多串锂电池组与充电控制电路连接，检测电路和充电控制电路分别通过充电端口连接到外接的充电器，充电失效开关电路连接在充电端口与充电控制电路之间；获取电压检测电路检测到的电流电压值，分析在各种情况下充电控制电路是否失效，且当判断出充电控制电路失效时，输出失效信号到充电失效开关电路，充电失效开关电路断开，进而将所述充电端口与充电控制电路断开；同时，所述主控电路通过通信电路发送指令到外界设备，实现对充电控制电路的分析及保护，并能让用户及时的了解到情况，及时断电，避免发生危险。
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本发明公开了一种应用审计失效识别方法，应用于云端，通过获取各个应用的更新日志数据以及审计日志量数据；通过大数据统计分析平台加载历史统计分析数据；分别针对每种应用进行归类计算，根据审计日志量数据以及历史统计分析数据，计算每种应用的日志变化趋势；根据日志变化趋势以及更新日志数据，判断应用审计是否失效。本申请是基于大数据统计分析的识别方案，通过采集各种应用的审计日志量，并结合历史数据分析日志的变化趋势，自动判断审计是否失效，整个过程由设备自动完成，无人力成本，且检测实时性非常好，提高了检测效率的同时，保证了检测的效果。此外，本申请还提供了具有上述技术优点的应用审计失效识别装置、系统以及可读存储介质。
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本申请提供了一种晶圆测试数据的分析方法、平台、电子设备及存储介质，分析方法包括：获取多个批次的晶圆测试数据；根据目录分类信息区分晶圆测试数据，记录区分后的晶圆测试数据存储路径，并进行目录分类归档；根据目标目录分类信息，从目录中索引相应晶圆测试数据的数据路径，提取晶圆测试数据，并按照目标参数将晶圆测试数据合并成目标数据集；对目标数据集，进行视图构建及视图分析，和/或进行数据统计分析；本申请实现了晶圆测试数据的快速提取、分类、整合、分析，可提供有效的信息进行失效分析，改善设计和制造良率；利用目录索引晶圆测试数据文件路径的方式作为数据整合的基础，可有效提高数据整合、分析效率，并减少计算、运行负荷。
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本发明提出了的一种异步转移模式的失效管理系统及失效管理方法,在应用异步转移模式传输的数据传输网络中设置有用于监视VPC或VCC连接的保护组,所述保护组中包括工作连接和保护连接,工作连接不断检测缺陷指示,当检测到缺陷指示后由前向从工作连接的宿端点送出告警信号,其中将所述工作连接和保护连接的网元节点的属性设置为段属性,两个段属性节点之间的OAM流即为段属性的OAM流,即与保护组相对应的保护域和段属性的OAM流范围重复。本发明可保证保护域内的工作业务正常传送,AIS信元正确传送,并且保护域没有执行多余的保护倒换动作。
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本申请涉及一种半导体模块焊层寿命失效的测试方法，包括：根据待测半导体模块的规格确定参考温度数据；所述参考温度数据是同规格的半导体模块所对应的温度标定数据；获取待测半导体模块的初始温度数据；所述初始温度数据是待测半导体模块在全新状态下进行温度测试的数据；对待测半导体模块进行温度测试，获取当前温度数据；根据初始温度数据、当前温度数据和参考温度数据，判断待测半导体模块的焊层寿命是否失效。本申请的测试方法在完整功率模块上进行，不需要将待测半导体模块从功率模块中拆下，省时省力；也不会发生由于拆解及安装导致的模块及其它部件损坏；本方案不需要热阻、超声波扫描等相关设备投入，降低测试成本。
本发明涉及一种纳星接管失效航天器姿态运动的分布式模型预测控制方法，首先建立纳星‑失效航天器组合体姿态运动模型，其次建立有限时域的纳星控制模型，最后设计纳星的分布式模型预测控制器。提出的分布式模型预测控制方法能够使各颗纳星独立进行控制量解算，实现对失效航天器姿态运动的自主分布式接管控制，无需中央处理单元，且能够方便地考虑纳星的控制幅值约束。多纳星的分布式模型预测控制方法相比集中式的控制分配，具有较好的容错性，且纳星可根据自身的能量消耗情况调整自身局部目标函数中的权值矩阵，以实现纳星间能量消耗的均衡，在通过多颗纳星实施失效航天器姿态运动接管的控制任务中具有重要应用价值。
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本发明公开了一种电感器失效模式及耐压值的测试方法，所述电感器失效模式的测试方法包括步骤：S100、剪断失效的电感器的任意一根引线；S200、将耐压测试仪连接在电感器的两个电极上，并施加电感器的耐压值；S300、当耐压测试仪上显示的两电极间的阻值为正常值时，判定该电感器的失效不是由磁体的耐压失效引起的；当阻值为非正常值时，执行步骤S400；S400、剪断另一根引线，施加耐压值，若阻值恢复为正常值，为纵向耐压失效，否则为横向耐压失效。本发明通过剪断电感器的引线，测试绝缘电阻的变化来确定耐压失效模式，不需要将电感器的线圈及磁芯拆除分别对横向或纵向耐压失效进行确认，克服了测试过程中存在的偏差。
一种测试库失效对象监控方法，包括：建立与测试库的连接，对所述测试库进行配置；根据对所述测试库的配置，从所述测试库的数据库对象表中查询处于失效状态的数据库对象，得到所述测试库的失效对象；从所述测试库的失效对象中剔除无关用户的失效对象，得到筛选后的失效对象；输出所述筛选后的失效对象。本发明还提供一种测试库失效对象监控装置、计算机装置及计算机可读存储介质。本发明可以实现灵活、高效的测试库失效对象监控。
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本发明公开了一种FPC失效异常的测试方法，包括步骤：提供一批应用FPC的电子模组，对所述电子模组随机抽取样品；对所述抽取样品进行品质检测；对所述抽取样品进行电源开关冲击测试，同时进行高低温湿热循环测试，所述电源开关冲击测试是对所述抽取样品进行多次通电断电循环；所述电源开关冲击测试和高低温湿热循环测试完毕后，将所述抽取样品取出，放置在常温下静置至少2个小时；对所述抽取样品进行品质检测，并记录检测参数。通过电源开关冲击测试搭配高低温湿热循环测试，有效地检测出FPC在经过长期使用后可能产生的问题。
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本发明涉及测试技术领域，特别涉及一种热敏电阻失效电流的自动测试方法及装置。所述方法包括：以初始电流对测试系统中的热敏电阻进行通电测试；在第一预设时间内，检测所述热敏电阻是否失效；若否，则对所述热敏电阻断电；在第二预设时间后，以增加第一电流对所述热敏电阻进行通电测试；在第三预设时间内，检测所述热敏电阻是否失效；若否，则重复所述在第二预设时间后，以增加第一电流对所述热敏电阻进行通电测试的步骤，直至所述热敏电阻失效，记录失效电流。通过测试系统对热敏电阻进行自动测试，不断增加第一电流，直至热敏电阻失效，记录失效电流，解决人工手动测试热敏电阻失效电流，导致耗时长、浪费人力，且存在安全隐患的问题。
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本发明提供了一种磁盘失效预测方法、预测模型训练方法、电子设备，该磁盘失效预测方法包括：获取待预测磁盘的预测数据集，所述预测数据集包括预测样本IO的IO信息和与所述预测样本IO相对应的SMART信息，其中，所述预测数据集采集于所述待预测磁盘的缓存盘加速场景；将所述预测数据集输入至预先训练好的预测模型，得出所述待预测磁盘的预测结果。根据本发明实施例提供的方案，能够结合IO信息和SMART信息，对所有类型的磁盘进行磁盘失效预测，有效降低了数据丢失的风险。
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本发明提供一种风扇失效的侦测系统及侦测方法，该方法包括以下步骤：获取中央处理器处的第一温度值及进风口结构处的第二温度值；实时计算中央处理器的功率；及基于获取的第一温度值、第二温度值及中央处理器的功率计算出一热阻值；比较计算所得的热阻值是否大于一预设的热阻值；及当计算所得的热阻值大于预设的热阻值时，产生一风扇失效反馈信息。本发明的风扇失效的侦测系统及侦测方法，可便于用户快速知道当前有风扇已失效，以此避免在风扇与服务器之间设置多条电线。
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本发明涉及一种电动车辆的安全失效风险预测方法，包括：S1、构建安全树，所述安全树包括多个安全失效底层事件、安全失效中间事件、安全失效顶层事件以及所述安全失效底层事件、所述安全失效中间事件、所述安全失效顶层事件之间的逻辑因果关系和安全重要程度；S2、根据所述安全树，预测所述电动车辆的安全失效风险。实施本发明的所述的电动车辆的安全失效风险预测方法、计算机可读存储介质以及电动车辆，可以分析车辆失效风险随时间变化的规律，并对未来的失效风险度进行预测，为车辆的安全运维提供必要的定量化信息基础。
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一种基于ICT和FCT的软失效预测方法，包括以下步骤：步骤S1、从产品的ICT和FCT测试项目中筛选出重点关注测试项目；收集因重点关注测试项目相关问题而被客退的产品的ICT和FCT测试数据，从而组成非正常数据集；步骤S2、根据所述被客退的产品的生产时间，获取同一批次但未被客退的产品的ICT和FCT测试数据，从而组成正常数据集；步骤S3、基于非正常数据集和正常数据集，构建用于根据产品的ICT和FCT测试数据预判产品是否存在软失效的软失效预测模型；步骤S4、根据软失效预测模型，实时分析产品的ICT和FCT测试数据，从而预测产品是否存在软失效。本发明的软失效预测方法设计新颖，实用性强。
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本发明提出了一种基于工业IoT的ESD软失效预测方法和系统。所述ESD软失效预测系统，包括：数据采集模块，用于收集产品的客退数据、返修数据、ICT和FCT测试数据以及IoT系统监控的ESD防护状态数据；数据存储模块，用于对数据采集模块所采集的数据进行存储；数据预处理模块，用于对数据采集模块所采集的数据进行数据融合和特征数据筛选；数据分析模块，用于根据数据预处理模块处理后的数据建立ESD软失效预测模型；应用模块，用于根据ESD软失效预测模型，实时分析产品的ICT和FCT测试数据，从而预测产品是否存在ESD软失效。本发明的基于工业IoT的ESD软失效预测方法和系统设计新颖，实用性强。
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本发明实施例提供一种集群系统的失效预测方法及装置。方法包括：根据集群系统的失效事件集合对事件序列模式集合进行聚类分析，获得事件序列簇；对事件序列簇进行因果关联分析，获取因果关联路径簇；对因果关联路径簇进行失效分析，获取集群系统的失效模式；根据失效模式，对集群系统进行失效预测。本发明实施例提供的集群系统的失效预测方法及装置对事件序列模式集合进行聚类获得因果关联路径簇，从而获得集群系统的失效模式，根据获取的失效模式对集群系统进行失效预测。可以通过对集群系统日志进行深度的分析和挖掘，获得用于失效预测的可靠的失效规则，进而提高失效预测的召回率。
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本发明涉及数据存储领域，主要提供一种检查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘，应用于固态硬盘。通过获取闪存介质的操作数据，并根据操作数据获取存储介质的错误计数信息，然后根据错误计数信息检测是否触发对存储介质的失效诊断，当确定对存储介质进行失效诊断时，从存储介质的若干闪存块中获取已经执行写操作的闪存块，并对已经执行了写操作的闪存块执行读操作，最后根据读操作的结果检查存储介质是否失效。本发明通过对已经执行过了写操作的闪存块进行诊断，实现了在不影响固态硬盘性能的条件下，对闪存介质中的存储介质进行失效诊断，从而避免了因检查存储介质失效不及时而导致的固态硬盘数据丢失和出现宕机，提高了固态硬盘的稳定性。
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本发明提供一种电子装置失效测试装置，包括侦测装置，所述电子装置用于：控制该侦测装置对该电子装置所处环境的参数值进行侦测；获取该侦测装置侦测到的环境参数值；确定该环境参数值是否超出预设范围；若是，则对该电子装置的内部元件及运行情况进行测试，并取得该电子装置的测试数据；及将该电子装置的测试数据和该侦测装置侦测到的环境参数值与一失效数据库中的数据进行比对从而判断该电子装置的失效原因，其中，该失效数据库中包括导致电子装置失效的环境参数值、电子装置失效时的测试数据以及失效原因。本发明还提供一种测试方法。本发明能够自动分析电子装置失效原因且无需拆机。
本发明适用于核电技术领域，提供了一种核电站热交换器传热管的无损检测分析方法、装置及系统。本发明通过对多个标定管管壁外侧沿标定管的周向开设具有预设周向角度的凹槽，将测量得到的标定管的涡流信号在电压平面生成标定图，再对待测传热管的管腔沿其轴线方向移动检测至少5个位置的涡流信号并将涡流信号于标定图上生成缺陷瞬态响应线以依次获取缺陷瞬态响应线端点的缺陷深度及周向角度，最后根据依次获取周向角度及缺陷深度判定缺陷类型，由此可以直观显示缺陷的周向范围，并通过周向范围及缺陷深度等特征信号判断缺陷的类型，实现定性判伤，从而准确地判定热交换器传热管的缺陷及其类型，减少热交换器传热管的失效风险。
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本发明涉及一种模型失效检测方法、装置、电子设备及介质，所述方法包括：获取待测模型对应的训练数据的第一文本分布；获取所述待测模型对应的业务数据的第二文本分布；获取所述第一文本分布以及所述第二文本分布之间的偏移值；在所述偏移值大于预设的预警阈值时，执行预设操作，例如发出报警信息；最后从公共词集合中按照偏离量由大到小的顺序对单词进行排序。本发明的技术方案，属基于KL散度或JS散度的数据分布差异量化方法，可实现针对文本数据应用场景的各项适配，保证模型在上线后性能符合预期；本发明的有益效果包括：及时对模型的退化情况进行量化预警，避免低效率的数据收集工作，避免造成资源浪费。
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本实用新型公开了一种MCU输入IO口同步硬件失效检测电路，包括控制芯片、按键模块、逻辑芯片和控制开关；按键模块连接所述控制芯片；逻辑芯片连接所述控制芯片和所述按键模块；控制开关连接所述逻辑芯片；所述控制开关连接所述控制芯片的复位引脚RST，通过所述控制开关的开或闭控制所述控制芯片的复位引脚RST的电位变化。本实用新型实施例通过设置逻辑芯片，且逻辑芯片分别连接按键模块和控制芯片，即逻辑芯片可以同时监测按键模块的按键输入和控制芯片的赋值输出，并结合两者的值进行逻辑判断，在控制芯片检测按键输入的引脚出现故障时，能及时控制控制芯片的复位引脚RST的电平进行复位，进而禁止控制芯片对外接硬件输出，避免事故发生。
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本申请实施例公开了一种继电器短路失效检测方法及装置，包括：通过断开第一开关和第二开关；通过驱动模块控制主继电器组和从继电器组断开；检测第一逆变电压和第一电网电压，若第一逆变电压和第一电网电压的第一差值绝对值小于或等于第一预设阈值，则确定主继电器组和从继电器组均发生故障；否则，控制主继电器组或从继电器组交替连接，并检测第二逆变电压和第二电网电压，若第二差值绝对值小于或等于第一预设阈值，则确定主继电器组或从继电器组故障；否则，控制第一开关或第二开关交替闭合，若第一电阻或第二电阻两端的电阻电压大于第二预设阈值，则确定目标继电器发生故障。如此，能够实现精确定位故障继电器，降低因继电器故障造成的损失。
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本实用新型公开了一种带失效检测的永磁制动器，包括固定座、检测装置、摩擦片、释放线圈、铁环和永磁铁，所述固定座为环状结构，所述铁环位于固定座的内部，铁环的下端与固定座连接，环形腔体内设有释放线圈和永磁铁，所述释放线圈和永磁铁均为环状结构，释放线圈位于永磁铁的上方，固定座的侧壁上设有安装孔，所述安装孔内设有检测装置，所述固定座的上方设有环状的摩擦片。本实用新型能有效的检测制动器的状态，在外部结构动作前先读取传感器的电压值，对比传感器打开和闭合时的电压值，即可知道制动器的动作是否有效，即使是在使用过程中线圈突然失电，也能感知到变化，及时的输出信号，使机构停止转动，避免其他机构的损坏。
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本实用新型公开了一种气体采样附件失效检测和温度、湿度补偿装置，包括：气体采样附件、浓度测量单元、主控单元、监测单元、报警单元，气体采样附件与进气口密封连接，微处理器与无线通讯电性连接，浓度测量单元与主控单元电性连接，湿度传感器、温度传感器设置在所述气体采样附件道中，监测单元与主控单元电性连接，报警单元与主控单元电性连接。本实用新型结构简单，使用方便，能够更加准确的判断气体采样附件是否失效，避免测量核心单元的光学组件被污染而导致测量误差增大或者装置失效，实时采集被测量气体湿度，对测量结果进行补偿，让气体浓度测量结果更加准确，实时采集被测量气体温度，对测量结果进行补偿，让气体浓度测量结果更加准确。
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本实用新型公开了一种X电容衰减失效检测电路，应用于PFC输入电路中，所述输入电路包括三路X电容，所述三路X电容的一端分别与三相电源的三相输出连接，所述三路X电容的另一端共接作为电容中点，所述X电容衰减失效检测电路包括用于采样得到三路线电压的三路线电压采样电路、用于采样得到三路相电压的三路相电压采样电路、用于在三路线电压不存在偏压时根据所述三路相电压确定X电容是否衰减的处理电路，本实用新型可以保证X电容容量处于一个优良的容量状态，本实用新型实施简单、效果优异，极大地避免了具备此电路的产品因X电容衰减导致的X电容烧坏从而产品失效，极大地减小了产品的失效率。
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本实用新型涉及电路检测技术领域，尤其为一种DC‑DC电路输出失效检测电路装置，包括外壳，所述外壳内固定连接有检测主体，所述外壳内左右两侧均固定连接有检测笔，所述检测笔外侧开设有凹槽，所述检测笔所述凹槽内设有定位块，所述定位块另一端内滑动连接有限位杆，所述限位杆外侧设有定位弹簧，所述限位杆一端与外壳固定连接，本实用新型中，通过设置的外壳、凹槽、定位块、限位杆和定位弹簧，可以方便的对检测笔进行定位，方便对检测笔进行收纳，通过设置的推板、连接板、连接杆、复位弹簧、推块和橡胶圈，可以方便的将检测笔推出，方便检测笔的使用。
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本实用新型提供一种动力电池的失效检测装置，包括盛放待测动力电池的箱体，所述箱体外侧设有LED灯和蜂鸣器，所述箱体内侧壁上设有管体，所述管体内设有气体采集泵和气敏传感器，管体的前端设有进气口，管体的后端设有出气口，气体采集泵设在所述的进气口的后方，的气敏传感器设在气体采集泵和出气口之间，箱体内还设有电源模块、单片机、信号处理模块、电压检测模块、电流放电模块，所述气敏传感器、LED灯、蜂鸣器、电压检测模块、电源模块及信号处理模块分别与所述单片机连接，所述信号处理模块还分别与所述电流放电模块、电压检测模块连接。本检测装置保证动力电池失效检测的有效性，降低了客户使用过程中的安全隐患，装置简单、有效、实用。
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本发明涉及电路板生产技术领域，具体为一种检测线路板中微导通孔是否互联失效的方法。本发明通过设计具有焊接端子的检测环，将焊接端子与盲孔所在的独立PAD(焊盘)焊接，然后用拉力测试机测试独立PAD与测试板分离所需的拉力值，通过拉力值并结合从盲孔切片所观测到的现象判断盲孔的孔内镀铜层与其相邻的内层铜之间的结合力是否合格，从而判断该盲孔是否互联失效。本发明方法简单易行，很好地解决了线路板中微导通孔是否互联失效的问题，从而可控制出货风险。
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本发明涉及光纤耦合器的技术领域，公开了光纤耦合器及其制备方法和封装失效的检测方法，制备方法包括步骤：剥除光缆PVC外层；采用平行装夹熔融拉锥工艺制备光纤耦合器，并通过拉力检测光纤耦合器烧结完成后的纵向抗拉强度；将烧结的半成品进行第一道封装；接着进行第二道封装；将光纤终端进行烧球处理；将半成品置于95～105℃中烘烤1.5～2.5小时并冷却至常温，再将半成品置于-40～85℃温度中循环45～51小时，接着用85～95℃含氟油检查第二道封装的密封情况，筛选出不良品；再将良好的半成品进行第三道封装。本发明通过上述制备方法解决了传统光纤耦合器在低温状态度下插入损耗增大的问题，提高了光纤耦合器的稳定性。
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