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电子装置失效测试装置及测试方法

821   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:33
本发明提供一种电子装置失效测试装置,包括侦测装置,所述电子装置用于:控制该侦测装置对该电子装置所处环境的参数值进行侦测;获取该侦测装置侦测到的环境参数值;确定该环境参数值是否超出预设范围;若是,则对该电子装置的内部元件及运行情况进行测试,并取得该电子装置的测试数据;及将该电子装置的测试数据和该侦测装置侦测到的环境参数值与一失效数据库中的数据进行比对从而判断该电子装置的失效原因,其中,该失效数据库中包括导致电子装置失效的环境参数值、电子装置失效时的测试数据以及失效原因。本发明还提供一种测试方法。本发明能够自动分析电子装置失效原因且无需拆机。
声明:
“电子装置失效测试装置及测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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