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基于ICT和FCT的软失效预测方法

660   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:33
一种基于ICT和FCT的软失效预测方法,包括以下步骤:步骤S1、从产品的ICT和FCT测试项目中筛选出重点关注测试项目;收集因重点关注测试项目相关问题而被客退的产品的ICT和FCT测试数据,从而组成非正常数据集;步骤S2、根据所述被客退的产品的生产时间,获取同一批次但未被客退的产品的ICT和FCT测试数据,从而组成正常数据集;步骤S3、基于非正常数据集和正常数据集,构建用于根据产品的ICT和FCT测试数据预判产品是否存在软失效的软失效预测模型;步骤S4、根据软失效预测模型,实时分析产品的ICT和FCT测试数据,从而预测产品是否存在软失效。本发明的软失效预测方法设计新颖,实用性强。
声明:
“基于ICT和FCT的软失效预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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