合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> MCU输入IO口同步硬件失效检测电路

MCU输入IO口同步硬件失效检测电路

586   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:33
本实用新型公开了一种MCU输入IO口同步硬件失效检测电路,包括控制芯片、按键模块、逻辑芯片和控制开关;按键模块连接所述控制芯片;逻辑芯片连接所述控制芯片和所述按键模块;控制开关连接所述逻辑芯片;所述控制开关连接所述控制芯片的复位引脚RST,通过所述控制开关的开或闭控制所述控制芯片的复位引脚RST的电位变化。本实用新型实施例通过设置逻辑芯片,且逻辑芯片分别连接按键模块和控制芯片,即逻辑芯片可以同时监测按键模块的按键输入和控制芯片的赋值输出,并结合两者的值进行逻辑判断,在控制芯片检测按键输入的引脚出现故障时,能及时控制控制芯片的复位引脚RST的电平进行复位,进而禁止控制芯片对外接硬件输出,避免事故发生。
声明:
“MCU输入IO口同步硬件失效检测电路” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记