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MCU输入IO口同步硬件失效检测电路

637   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:33
本实用新型公开了一种MCU输入IO口同步硬件失效检测电路,包括控制芯片、按键模块、逻辑芯片和控制开关;按键模块连接所述控制芯片;逻辑芯片连接所述控制芯片和所述按键模块;控制开关连接所述逻辑芯片;所述控制开关连接所述控制芯片的复位引脚RST,通过所述控制开关的开或闭控制所述控制芯片的复位引脚RST的电位变化。本实用新型实施例通过设置逻辑芯片,且逻辑芯片分别连接按键模块和控制芯片,即逻辑芯片可以同时监测按键模块的按键输入和控制芯片的赋值输出,并结合两者的值进行逻辑判断,在控制芯片检测按键输入的引脚出现故障时,能及时控制控制芯片的复位引脚RST的电平进行复位,进而禁止控制芯片对外接硬件输出,避免事故发生。
声明:
“MCU输入IO口同步硬件失效检测电路” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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