一种去法布里‑珀罗伪谐振逆推
复合材料电磁参数的方法,属于复合材料电磁参数获取技术领域。本发明针对现有复合材料电磁参数获取过程中,忽略了Fabry‑Pérot伪谐振所带来的电磁参数的畸变,使电磁参数的结果不准确的问题。包括对待测复合材料进行模拟;在模拟板层结构方向的两端分别接入波导端口,垂直照射模拟板,根据照射结果分别计算获得两种模拟板的散射参数模拟值;再计算获得相应模拟板的阻抗计算值;再计算获得模拟板厚度校正项;根据模拟板厚度校正项再计算获得待测复合材料的校正阻抗,进而确定待测复合材料的折射率,由待测复合材料的校正阻抗和折射率计算获得待测复合材料的电磁参数。本发明用于逆推复合材料的电磁参数。
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“去法布里-珀罗伪谐振逆推复合材料电磁参数的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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