权利要求
1.用于半导体电子材料辐照效应研究的装置，包括辐照箱（1），其特征在于：所述辐照箱（1）上端面铰接有箱盖（11），辐照箱（1）内表面侧壁上固定连接有辐射源（12），且辐照箱（1）内固定安装有均布机构（2），所述均布机构（2）上设置有防护组件（3）；所述均布机构（2）包括电机（21）、底座（22）、伸缩杆（23）、收纳台（24）、C型半圆板（25），所述辐照箱（1）内表面底部中心处固定连接有电机（21），所述电机（21）的输出轴上固定连接有底座（22），所述底座（22）上端面对称固定连接有若干组伸缩杆（23），每组所述伸缩杆（23）上套设有支撑弹簧，若干组所述伸缩杆（23）上端固定连接有一组收纳台（24），所述收纳台（24）上卡接有C型半圆板（25）。
2.根据权利要求1所述的用于半导体电子材料辐照效应研究的装置，其特征在于：所述收纳台（24）侧壁上固定连接有一组限位块（241），所述限位块（241）远离限位收纳台（24）的一侧伸入平圆槽（242），所述平圆槽（242）开设在辐照箱（1）内表面侧壁上。
3.根据权利要求1所述的用于半导体电子材料辐照效应研究的装置，其特征在于：所述防护组件（3）包括弧槽（31）、C型弧板（32）、传动弹簧（33），所述C型半圆板（25）两端对称开设有一组弧槽（31），每组所述弧槽（31）贯穿并滑动连接有一组C型弧板（32），每组所述C型弧板（32）贯穿伸入弧槽（31）的一侧固定连接有传动弹簧（33），每组所述传动弹簧（33）远离C型弧板（32）的一端固定连接在弧槽（31）内表面底部，每组所述C型弧板（32）上固定连接有一组压板（7）。
4.根据权利要求3所述的用于半导体电子材料辐照效应研究的装置，其特征在于：每组所述C型弧板（32）伸入弧槽（31）的一端固定连接有一组C型挡片，且每组所述C型挡片滑动连接在弧槽（31）内，每组所述C型挡片和弧槽（31）内表面底部固定连接有传动弹簧（33），每组所述C型弧板（32）伸出弧槽（31）的一端固定连接有一组抵块（321）。
5.根据权利要求3所述的用于半导体电子材料辐照效应研究的装置，其特征在于：一组所述C型弧板（32）内表面侧壁上开设有一组标记槽，所述标记槽上转动连接有转棍（4），所述转棍（4）一端贯穿并固定连接有标记环（4
声明：
“用于半导体电子材料辐照效应研究的装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：中冶有色网
来源：邳州市安达电子有限公司
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2025年05月23日 ~ 25日 
