本发明属于
粉末冶金检测技术领域,具体涉及一种镁基复合粉末包裹层厚度的测定方法。针对现有评价镁基复合粉末包裹效果的方法少,不直观的问题,本发明提供一种镁基复合粉末包裹层厚度的测定方法,包括以下步骤:a.粉末样品的镶嵌处理;b.截面样品的磨抛处理;c.样品喷碳导电处理;d.扫描电子显微镜中面扫描软件测定包裹层元素分布图,观察测定包裹层厚度。本发明通过对样品进行镶嵌、截面抛光、真空镀膜导电处理,可直接通过扫描电子显微镜进行面扫,进而得出截面的各个元素分布图。根据分布图直观显示镁基复合粉末包裹层厚度,也可定量计算出包裹层厚度。本发明的方法操作简单,效果直观,测定难度小,便于推广。
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“镁基复合粉末包裹层厚度的测定方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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