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本实用新型公开了一种智能数字低频巡检控制装置，包括底座和箱体，所述箱体位于底座的上端，所述箱体的一侧设有水箱，所述水箱的上端设有水泵，所述箱体的内壁环绕设有水管，所述水管的进口和水箱的出口连接，所述控制器的输出端分别和摄像头、分励脱扣器、报警装置和稳压器的输入端电性连接，所述控制器的和无线信号收发器双向电性连接，所述无线信号收发器和设置在控制中心的数据处理器双向电性连接，所述数据处理器的输入端和显示屏的输入端电性连接。本实用新型组成的监控系统有效的降低了人工操作中可能产生的风险，防止消防设备因长期不用造成的老化失效，提升了消防管理水平，而且结构简单，非常的实用。
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本实用新型涉及在线检修电站闸阀。该闸阀包括阀体，阀体内部设有两个活动阀座，各活动阀座上均具有阀座通道，各活动阀座与阀体之间设有弹性密封结构。阀体内于两个活动阀座之间设有闸板，闸板具有关闸位和开闸位。阀体内于两个活动阀座之间设有限位板，限位板的一端顶压在一个活动阀座的端面上、另一端顶压在另一个活动阀座的端面上，限位板位于闸板关闸路径上的延长线上，闸板位于关闸位时限位板与闸板的端部接触或具有间隙。闸板由关闸位向开闸位运动时，闸板与各活动阀座之间密封面部分接触密封，此时由于限位板的存在，两个活动阀座也不会发生偏斜，始终保证活动阀座与阀体之间的密封效果不会失效，限位板也不影响闸板的开关闸，使用方便。
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本发明涉及核电厂风险监测技术领域，具体公开了两堆带一机的高温气冷堆核电厂风险监测模型开发方法，包括如下步骤：S1、始发事件分析；S2、事件序列分析；S3、系统故障树分析；S4、部件共因失效分析；S5、人员可靠性分析；S6、事故序列定量化；S7、模型验证；本发明综合考虑了第四代高温气冷堆与二代压水堆的显著差异，首先对两堆带一机模式进行扩展分析，建立双堆平均风险模型，再进行风险监测模型的扩展和转化，反映所有的电厂组态，可以更真实的反映电厂的实时风险，实时反映电厂投运模式、设备状态(运行或者停役)、环境因素等，解决高温气冷堆核电厂运行安全管理的关键科学和技术问题，为高温气冷堆核电厂安全稳定经济运行提供支持。
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本发明涉及一种在线检修电站闸阀。该闸阀包括阀体，阀体内部设有两个活动阀座，各活动阀座上均具有阀座通道，各活动阀座与阀体之间设有弹性密封结构。阀体内于两个活动阀座之间设有闸板，闸板具有关闸位和开闸位。阀体内于两个活动阀座之间设有限位板，限位板的一端顶压在一个活动阀座的端面上、另一端顶压在另一个活动阀座的端面上，限位板位于闸板关闸路径上的延长线上，闸板位于关闸位时限位板与闸板的端部接触或具有间隙。闸板由关闸位向开闸位运动时，闸板与各活动阀座之间密封面部分接触密封，此时由于限位板的存在，两个活动阀座也不会发生偏斜，始终保证活动阀座与阀体之间的密封效果不会失效，限位板也不影响闸板的开关闸，使用方便。
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本发明公开了一种在晶圆上对时钟异步芯片进行多个芯片并行测试的方法;包括以下步骤:步骤一,通过过程控制,由自动测试设备的算法图形产生器或顺序向量生成器产生同步的信号,加载在所有的被测芯片上;步骤二,在抓取使能的控制下,通过矩阵的功能,把输出端引导到数字抓取模块,数字抓取模块具有高频的采样时钟,按照采样时钟的频率=N×激励时钟频率的方式进行信号采样,N为大于等于3的正整数;步骤三,采样后的数据在地址失效存储器中存放,一个被测芯片的应答信号占据地址失效存储器中的一行位置,依次类推,N个被测对象将占据N行地址失效存储器空间;步骤四,对每一行地址失效存储器的数据进行分析。本发明可以有效缩短测试时间。
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本发明公开了一种基于QMU裕量与不确定性量化的汽车智能驾驶及ADAS测试评价方法，包括：获得智能驾驶系统故障失效模式；通过智能驾驶系统实际运行获得智能驾驶失效/故障物理模型；将智能驾驶系统故障失效模式代入智能驾驶失效/故障物理模型提取出失效特征参数集，通过失效特征参数集建立观测清单；基于实车试验数据、仿真模型预测和/或专家判断来建立智能驾驶系统功能模型的性能通道，并设置性能通道的性能阈值，对智能驾驶系统功能模型进行验证与确认；通过观测清单获得的智能驾驶失效/故障物理模型不确定性参数，进行不确定性源分析得出性能特征参数不确定性，进行QMU裕量计算后得出的性能裕量及不确定性，计算获得置信因子。
本发明提出一种内建耐力测试系统、老化测试装置及相应的耐力测试方法，内建耐力测试系统包括一供电端、一接地端、一时钟端以及一输出端；所述内建耐力测试系统通过所述供电端、接地端和时钟端启动，并对一芯片进行耐力测试，并通过所述输出端输出耐力测试结果。老化测试装置包括整机测试板、安置在所述整机测试板上的至少一组芯片、集成在每一芯片中的内建耐力测试系统、接收内建耐力测试系统输出的耐力测试结果的解码器以及根据解码器输出的解码结果以确定不能实现耐力测试的芯片的终端测试设备，以解决每批次进行的耐力测试样品数量少、耐力测试周期过长，且无法自动判断芯片样品读取动能失效以及测试成本昂贵的问题。
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本发明提供一种测试结构及其制作方法，该方法包括以下步骤：1）提供一待测试样品，所述待测试样品表面形成有分立设置的至少一个第一金属垫；所述第一金属垫下方形成有电路结构；2）在所述待测试样品表面的空闲区域形成分立设置的至少一个与所述第一金属垫连接的金属垫组件，得到测试结构。本发明在测试样品中原始金属垫的基础上形成额外的金属垫组件，其中金属垫组件形成于测试样品的空闲区域，不会影响测试样品；在失效分析阶段可以利用金属垫组件进行引线键合接入电信号，避免了重复键合引起器件破坏或引起第一金属垫下方的器件开裂，有利于提高失效分析效率；并且既可以采用金线键合，也可以采用铝线键合来降低成本。
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一种电迁移测试装置、电迁移测试系统及其测试方法，其中电迁移测试装置包括：用于实现与所述待测结构的电连接的连接金属层；用于向所述待测结构施加测试电压的加载电极；用于获得所述待测结构在测试条件下感测电压的感测电极；用于对所述待测结构进行加热的加热器件。本发明通过独立的加热器件使所述待测结构的温度达到所述测试条件，从而使温度对所述待测结构的电迁移的影响与电流对所述待测结构电迁移的影响分开，能够提高所获得的所述待测结构的激活能和电流密度指数的准确性，进而提高所获得的所述待测结构在工作情况下失效时间的准确性，有效提高电迁移测试的准确性。
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本发明公开了一种存储器在线检查系统及方法，包括：中央处理器CPU；可编程逻辑器件；存储器，存储器的低位存储区保存原始数据，高位存储区保存校验数据；可编程逻辑器件通过数据总线和地址总线连接至中央处理器CPU，中央处理器CPU输出检查使能控制信号给可编程逻辑器件，可编程逻辑器件反馈错误信号给中央处理器CPU；可编程逻辑器件通过低位数据总线、高位数据总线和地址总线连接至存储器，低位数据总线传输原始数据信息给存储器，高位数据总线传输校验数据给存储器。本发明通过差异化的冗余数据信息以及结合地址信息产生的校验码实现对存储器数据的验证，可实时发现器件永久失效或随机干扰带来的存储器数据的读写错误。
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本发明公开了一种对检索结果的知识演进算法，包括如下步骤：建立转向函数；建立失效函数；建立输出函数，通过使用哈希方法对压缩节点组织查找表，可以在恒定时间内确定下一个状态，若在压缩节点处失配，不再直接进行状态转移，而是将模式串回退两个字符，从root节点处重新开始匹配。本发明针对现有技术中检索知识算法处理效率较低的问题作出了改进，通过使用哈希方法对压缩节点组织查找表，可以在恒定时间内确定下一个状态，若在压缩节点处失配，不再直接进行状态转移，而是将模式串回退两个字符，从root节点处重新开始匹配，提高了检索效率。
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本发明涉及一种用于仿形检具的连接结构，包括U型板、第一滑块、把手、连接板和第二滑块，其中第一滑块活动设于U型板中；把手设于第一滑块的侧壁上；连接板与第一滑块的一端连接，连接板上设有滑槽；第二滑块其一端活动连接于所述滑槽中并可沿所述滑槽的长度方向进行相对滑动，另一端与仿形检具固定连接。与现有技术相比，本发明中用于仿形检具的连接结构改变模拟块固定块的结构，将原本单一的铰链运动分解成分别有上下和左右两个方向的组合的运动机构，解决因空间限制导致的运动干涉问题；增加Z方向的上下运动和Y方向左右运动，两个运动机构分别设置不同的导向，以此优化了检具固定块的运动轨迹，避免了检验失效。
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本实用新型公开了一种电迁移的测试结构，包括：待测试的金属线；两个电源端，是从所述金属线两端各连出的一个焊垫，连接直流电流提供设备；多个测量端，所述金属线被均匀划分为多段，每个金属线分段的两端都各连出一个焊垫作为测量端，每个金属线分段两端的测量端连接电阻测量设备。本实用新型电迁移的测试结构可以不通过光学显微镜而迅速地确认电迁移失效点位置，精确到某一个金属线分段。从而为后续的FIB分析缩小了“断面精细切割”寻找失效点的范围和时间，提高了失效分析的效率和成功率。
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本发明公开了一种实时功能完整性检查系统，包括两个以上的CPU，且在CPU之间存在通信使其可以交换数据；每个CPU上除了运行安全功能软件F1…Fn外，还运行完整性检查功能FSupervision，当前CPU的安全功能Fn，由当前CPU的完整性检查功能实现完整性检查，当前CPU的完整性检查功能FSupervision，由其他CPU的完整性检查功能实现完整性检查。本发明运行额外的功能完整性检查任务，来实现对自身CPU和其他CPU上运行的安全功能进行执行路径完整性检查和执行时间完整性检查，能够实时发现由于随机故障和系统故障导致的系统安全功能失效，使引导系统导向安全，防止安全事故发生。
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本发明提供一种适用于TDDB的原位热点侦测方法，包括：提供待测样品，对所述待测样品的电性参数进行验证；定义应力条件及侦测热点的初始应力条件；对所述待测样品施加应力；观测中间数据，若所述待测样品达到侦测热点的初始应力条件，施加热点侦测电压侦测热点；若侦测到热点，则进行失效分析或继续TDDB测试。本发明中，实现了原位对失效样品热点的侦测，及时精准的反应了样品的失效位置，为进一步失效分析提供了有力保障。
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本发明涉及汽车领域的测试装置，旨在提供一种新型的ESP/ABS蓄能器测试装置及方法，包括处在测试回路中的ESP/ABS待测试件，测试回路包括与往复运动装置相连的液压钢瓶、比例阀、压力传感器、位移传感器和工控机。本发明无需用总成做测试件，通过气控液简化/节省了测试所需的设备，可模拟汽车制动回路的液压力增压/减压，从而使ESP/ABS待测试件的试验环境和实际使用工况更接近；本发明进行蓄能器的PV性能曲线和耐久试验，可对ESP/ABS蓄能器性能的直接、准确、快速测试，提前预测，降低失效风险。
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本发明提供一种基于自动测试设备的MARM存储器的测试方法，所述测试方法包括：步骤S1，将自动测试设备与MARM 存储器电连接；步骤S2，对MRAM存储器进行全芯片存储单元读写功能验证；步骤S3，根据MARM存储器工作参数设定要求，对MARM存储器进行直流参数验证和交流参数验证。本发明提供的方法利用自动测试设备针对MARM存储器进行测试，能够发现MARM存储器的故障，所述测试方法能够检测MARM存在的各种可能的失效模式，包括：全芯片存储单元读写功能验证；直流参数验证和交流参数验证。
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本发明提供了一种互连线接触高阻位置的测试方法，应用于半导体技术领域。所述方法包括：在一失效样品对应的版图上获取待分析路径；在所述待分析路径上获取一条测试回路，所述测试回路的两个测试端口位于所述失效样品的接触孔层上；将所述失效样品正面朝下后进行样品处理，使所述失效样品满足纳米探针测试条件；对处理后的所述失效样品进行纳米探针测试，以确定所述失效样品的互连线接触高阻位置。本发明的互连线接触高阻位置的测试方法，能够在电性上对芯片高阻失效进行验证，并能够准确确认芯片高阻失效位置。
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本发明提供了一种用于确认互连线接触高阻的测试方法，包括以下步骤：S1、在一失效样品对应的版图上获取待分析路径，所述失效样品已研磨至当层；S2、在所述失效样品的目标区域上镀上一层保护层；S3、在所述失效样品上形成两个测试通道，两个测试通道分别由所述保护层向下延伸至所述待分析路径的两个测试端口处；S4、采用两针法进行纳米探针测试，将纳米探针伸入所述测试通道并与对应的所述测试端口接触，以确定失效样品的互连线接触高阻位置。通过特殊的样品处理方法以及纳米探针设备的测试特点，能够直接对失效路径上进行测量，从而在怀疑有高阻的互连线上寻找失效位置，找出样品的失效原因，从而推动工艺的改善。
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本公开实施例中提供了一种正交形栅测试结构及测试装置及方法及系统，属于半导体器件测试技术领域，具体包括半导体基底，多个鳍层，控制栅和隔离栅，其中每两个控制栅之间，间隔预定个数的隔离栅；第一金属连线，第一接触孔，交替设置于控制栅的两侧，第一接触孔中沉积有金属层，用于连接相邻的两个鳍层，以使多个鳍层形成一正交形结构。本方案用于检测因制造工艺出现问题导致的接触孔填充缺陷，有效找出工艺缺陷，获得失效点的位点图，具有较高的集成度和可观测性，有利于用户准确预测晶圆的良率。
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本发明提供一种用于电容结构的测试装置的保护装置,其中用于电容结构的测试装置包括至少两个第一焊盘,包括:第二焊盘;以及限流装置,限流装置串接于至少两个第一焊盘中的一个和所述第二焊盘之间,其中当通过限流装置的电流大于一电流阈值时自动断开,并且其中电流阈值至少部分根据用于电容结构的测试装置的漏电流标准规格电流而确定。本发明还提供一种包括以上保护装置的电容结构测试装置。通过本发明的技术方案,当测试失效时,所测得的漏电流已经超过标准规格电流后,电流仍会迅速增大。当其增大到限流装置的预定阈值时,该限流装置自动断开,从而待测电容结构的原始失效现场得以保护,便于在失效分析时通过连接极板的焊盘找到测试失效的根本原因。
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本发明公开了一种半导体芯片测试探针卡，该探针卡上制造有同一晶圆上所有类型芯片电学测试所需要的探针。本发明还公开了一种利用上述探针卡的半导体芯片测试系统，通过探针卡连接测试被测芯片，将测试结果记录为不同种类的失效信息，根据失效信息的种类将失效信息输出至对应的存储服务器。本发明还公开了一种利用上述探针卡的半导体芯片测试方法。本发明的测试系统和测试方法降低了探针卡制卡成本，避免多次制造探针卡，总体生产成本降低，并且一个多合一探针卡对应一个晶圆上的所有芯片，便于探针卡的管理。本发明能一次完成多个芯片的全流程测试，提高了测试效率。
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本发明提供了一种测试数据深度溯源的方法，包括以下步骤：实时的从服务器上获取与被测产品相关的信息；通过正则表达式读取从所述服务器上获取的所述信息，并将所述信息里的关键信息分类存储，并绘制良率图；根据所述良率图获取所述被测产品的良率、失效分布状况、所述被测产品上失效芯片的具体失效信息以及所述被测产品上测试通过测试的芯片的具体信息。通过正则表达式对所述被测产品相关的关键信息进行分类存储，并绘制良率图，工程师可以根据良率图很直观的看出所述被测产品的良率及失效分布状况；可以获取所述被测产品上失效芯片的具体失效信息，提高失效分析的效率；还可以获取通过测试的芯片的具体测试信息，提高正常的数据分析效率。
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本发明提供了一种非均匀组织厚板焊接接头低周疲劳性能测试方法，包括如下步骤：在设定的应变幅下对试样进行低周疲劳测试，观察断裂位置；将试样在在静态拉伸机进行静态拉伸试验，观察断裂位置；选取焊接接头的金相试样，采用硬度计对焊接接头的非均匀组织硬度分布规律进行标定；对比分析低周疲劳测试断裂试样、静态拉伸试验断裂试样的断裂位置，结合焊接接头非均匀组织硬度分布规律，判断试样低周疲劳失效断裂位置；以低周疲劳失效断裂位置为低周疲劳试样加工中心重新加工试样，重新加工的低周疲劳试样的标距包含断裂区域；将重新加工的试样再次进行低周疲劳测试，分析低周疲劳测试结果，获得焊接接头断裂区域的应变寿命方程。
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本发明公开了一种提高Serdes IP晶圆测试效率的方法，包括以下步骤：S10：对晶圆测试的MAP图进行实时读取，记录相应坐标、测试结果以及失效分类信息；S20：分析是否存在某个site测试明显比其他site失效要多，或者某个site有连续的失效，若存在，则一旦site间差异失效数或连续失效数超出预设数量时进行该项目失效报警；S30：针对区域失效的特点，设计相应的算法完成统计，通过该方法的实现可以自动快速的对测试结果进行分析，针对Serdes IP对测试硬件较敏感的特性，能够及早的发现并排除隐患，减少误测，以及对区域失效能快速的提取分析，大大减少人工数据分析的工作量，提高Serdes IP晶圆测试生产的效率。
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本发明公开了一种脱硫浆液循环泵运行状态智能监测诊断方法，本方法在浆液循环泵和减速机的轴承座安装振动传感器，并采集振动传感器输出的原始振动信号，经频谱分析得到原始振动信号的总振动值；分别建立轴承异音振动故障、浆液循环泵进口堵塞、叶轮磨损、安装不对中、减速机主轴断裂、浆液循环泵汽蚀故障的分类指标并计算，依据计算结果进行诊断并分别给出预警。本方法针对浆液循环泵的主要失效形式，采用传感器采集相关的运行参数，通过信号重构获得故障特征参数，采用分类指标实现智能监测及诊断，把握浆液循环泵运行状态的劣化趋势，指导设备管理人员及时进行检修。
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本发明公开了一种人工智能呼叫中心录音质检的方法及系统，方法包括：添加初检任务，设置任务名称、任务生效时间和任务失效时间，输入在任务生效时间至任务失效时间内抽取录音的筛选条件，得到符合筛选条件的被监听坐席，生成初检任务列表；进入初检任务列表，选择做质检的被监听坐席，设置初检任务分配规则；在任务生效时间启动初检任务，按分配规则抽取被监听坐席的录音数据并分配给相关质检员开始做质检打分，在任务失效时间结束初检任务。本发明能够解决现有呼叫中心巨量通话录音质检困难的问题，增加并发用户数，提升系统执行能力。
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本实用新型涉及一种用于测量冷压端子温度的接触式温度测量装置，冷压端子通过螺栓螺母与配电柜固定连接，接触式温度测量装置测量冷压端子温度，装置包括金属封装的热敏电阻测量芯片、固定装置和测试盒，热敏电阻测量芯片磁铁吸附固定在螺栓一端，接触螺栓检测冷压端子的温度，金属封装的热敏电阻测量芯片检测信号通过测温导线送入测试盒，测试盒通过固定装置固定在冷压端子的管壁上。壳体外设有压紧卡扣和固定扎带，保证了壳体在弹性范围内变化，避免了因内外压差引起的压扁和拉坏现象，提高了装置的使用寿命；壳体外有U型铁芯，保证装置的结构强度；由于壳体直接安装在冷压端子上，应用广泛；装置如测温功能失效可快速从PCB中体现出来，检修方便。
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