本发明提供一种适用于TDDB的原位热点侦测方法,包括:提供待测样品,对所述待测样品的电性参数进行验证;定义应力条件及侦测热点的初始应力条件;对所述待测样品施加应力;观测中间数据,若所述待测样品达到侦测热点的初始应力条件,施加热点侦测电压侦测热点;若侦测到热点,则进行失效分析或继续TDDB测试。本发明中,实现了原位对失效样品热点的侦测,及时精准的反应了样品的失效位置,为进一步失效分析提供了有力保障。
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