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基于自动测试设备的MRAM存储器的测试方法

851   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:11
本发明提供一种基于自动测试设备的MARM存储器的测试方法,所述测试方法包括:步骤S1,将自动测试设备与MARM 存储器电连接;步骤S2,对MRAM存储器进行全芯片存储单元读写功能验证;步骤S3,根据MARM存储器工作参数设定要求,对MARM存储器进行直流参数验证和交流参数验证。本发明提供的方法利用自动测试设备针对MARM存储器进行测试,能够发现MARM存储器的故障,所述测试方法能够检测MARM存在的各种可能的失效模式,包括:全芯片存储单元读写功能验证;直流参数验证和交流参数验证。
声明:
“基于自动测试设备的MRAM存储器的测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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