本发明属于半导体存储器老化测试技术领域,公开了一种半导体存储器老化测试核心板,根据上位机的参数配置实时产生测试向量,输出各种类型的测试信号、各种测试图形,并对测试信号进行延时调整、加强驱动、波形控制的处理,以及对电源信号进行补偿,产生更精准的测试信号的电源信号;提升了用户对测试波形的自定义能力和灵活性;测试核心板具有分区的存储器,将测试过程中实时对比测试的数据分区保存,通过分区存储的数据对失效DUT测试过程进行控制和失效分析,实现了老化测试中对单个DUT测试过程的控制和失效分析;通过存储器譬如DRAM提供的存储空间保存每颗DUT的每一个IO足够长的测试信息,从而能够让DUT厂商对各批次失效DUT进行统计分析,改善良率,提升产品可靠性。
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