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可靠性同测装置及其控制方法

905   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:12
本发明公开了一种可靠性同测装置及其控制方法,用于微控制器芯片内置大容量存储器可靠性测试,可实现多芯片并行测试。同时以测试区间可配置的形式,可选择全部覆盖存储空间,也可以选择以不同芯片不同区间的等效方式以覆盖全面,从同测数与测试空间配置两方面兼顾测试效率、优化测试时间。记录测试结果的同时,保存所有在测芯片的失效现场信息,便于对任何一个失效芯片进行分析。该方法基于测试硬件主控制板、上位机控制,还包括被测微控制器存储器测试程序。以较小的成本实现批量微控制器的存储器测试,广泛应用于各类微控制器芯片耐久力等可靠性自验证中。
声明:
“可靠性同测装置及其控制方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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