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一种ESD通路探测方法及系统，所述方法包括：当待测试芯片泄放ESD电流时，对所述待测试芯片因泄放ESD电流产生的光子进行探测；基于探测得到的光子的位置信息，获得ESD通路影像；基于所述ESD通路影像，确定所述待测试芯片中对应的ESD通路是否正常。上述的方案，可以对待测试芯片中ESD通路进行定位，满足对待测试芯片ESD通路失效原因的分析需求。
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本发明公开了一种储能电池安全监测方法，包括电芯模组、端板夹持组件、膨胀测压机构、膨胀测距机构。本发明的有益效果是：可对电池电芯模组发生膨胀时对外产生的膨胀反弹力值进行监控，通过该反弹力及材料的拉伸强度可以评估这些成组方式是否发生失效；可以监控电芯模组在充放电过程中的膨胀位移，从而评估电芯模组的膨胀程度，通过将电芯模组的膨胀测力与测距相结合，全面监控电芯模组的膨胀情况，该方法对监控电芯膨胀，预测电芯火灾，分析火灾原因具有重要作用。
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一种高炉炉缸侵蚀偏差监测方法，涉及钢铁冶炼高炉炉衬侵蚀的在线监控，尤其涉及一种使用计算机程序进行高炉炉缸侵蚀偏差监测的方法，包括以下步骤：构建高炉模型；根据炉壁材料和形状，划分炉缸炉底计算区域；获取炉墙和冷却壁的各传感器温度；计算炉缸炉底侵蚀模型，确定炉体测温点计算温度；计算炉体外边界节点的温度；利用炉墙和冷却壁实测温度进行炉缸侵蚀收敛条件判断；利用计算结果进行炉缸侵蚀分析和监测报警。本发明综合利用炉体温度传感器和冷却壁壁体温度传感器进行偏差监测，能够解决现有的侵蚀监控计算方法容易因炉墙温度传感器损坏而造成计算失效，以及直接利用冷却壁温度传感器进行侵蚀计算，计算结果误差大的问题。
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本实用实用新型公开了一种汽车座椅柔性材料折皱疲劳性测试装置，包括测试台、电机、往复运动机构、活动夹和固定夹，所述的电机设于测试台下方；所述的往复运动机构设于测试台的台面上，与电机连接；所述的活动夹与往复运动机构连接，所述的固定夹设于测试台的台面上，活动夹与固定夹的夹口在同平面上，用于同时固定测试材料。采用本实用新型提供的汽车座椅柔性材料折皱疲劳性测试装置，可以放入不同的环境条件下，在不同的工况下进行模拟实验。本实用新型的测试装置，缩短了模拟时间，在不同的工况下，预测其失效时限，来完成耐疲劳分析，精确、快速，即省时省力，又很高效。
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本实用新型公开了一种电子设备的测试装置,其包含一可输入测试数据和功能设定的输入单元,一与该输入单元和该电子设备连接且接收所述测试数据及功能设定的控制单元,一储存由该控制单元传来的测试数据的存储单元,一与该电子设备和该存储单元连接的反馈单元,且该所述控制单元可根据该功能设定,自动地将储存在该存储单元的测试数据传至电子设备进行测试,并可经由反馈单元将电子设备的测试结果回传给存储单元,以供测试人员分析电子设备功能失效之原因。本实用新型所述测试装置操作容易,且方便,大大提高了测试效率。
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本发明提供一种可配置的半导体器件I‑V特性测试装置及其测试方法，由PCB基板、电源端口、悬空端口、接地端口、第一夹具、第二夹具、单刀三掷开关组和单刀双掷开关组组成；电源端口、悬空端口和接地端口通过PCB基板引出，所述电源端口连接图示仪的电源端；接地端口连接图示仪的接地端；第一夹具和第二夹具分别用于安装失效器件和正常器件。本发明采用通用的双列直插夹具，可以较为简单地实现双列直插封装的半导体器件I‑V特性测试，同样能够针对可转换为双列直插的其它形式封装半导体器件的I‑V特性进行测试；通过单刀三掷开关切换选择需要进行I‑V特性测试的管脚，通过双掷开关组实现失效器件和正常器件的I‑V特性曲线快速对比。
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本发明公开了一种数字坐标轴，由硅衬底上的栅氧化膜上的多晶硅图案组成且位于测试结构的周围，测试结构和数字坐标轴制作在同一层光罩中。数字坐标轴包括水平数字坐标轴和垂直数字坐标轴，水平数字坐标轴和垂直数字坐标轴的长度分别大于测试结构的长度和宽带、满足能够对测试结构的所有点进行定位。本发明还公开了一种栅氧化膜可靠性测试方法，包步骤：形成数字坐标轴、对测试结构进行EMMI测试并用数字坐标轴记录发光点位置、进行FIB测试。本发明数字坐标轴能够为测试结构提供精确的坐标，能为栅氧化膜可靠性测试方法中的发光点进行精确定位并提供数字化坐标，能为FIB切割定位提供准确位置，能提高失效分析的成功率。
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本发明涉及一种硅片级金属测试结构电迁移测试中的温度修正方法，它是将实际测试结果进行温度修正，从而得到一个准确的金属电迁移寿命值。采取固定的加速电流，依靠电流产生的热来升高金属测试结构的温度；通过对多个金属测试结构温度的实际测量，取得一组金属测试结构的温度测试数据T1～Tn以及相应的失效时间t1～tn；采取数据归一化的方式，将一组实际测得的金属测试结构的温度值T1～Tn以一个共同的温度值T’作为换算公式的参数，进而得到相应金属测试结构的失效时间t1’～tn’。真正反映特定电流相对应的电迁移加速过程，从而快速准确地外推金属电迁移寿命。
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本发明提供一种材料的蠕变-疲劳寿命预测方法，包括在同一试验温度下分别进行材料的蠕变试验、疲劳试验和蠕变-疲劳交互试验；根据蠕变试验，建立双对数坐标下材料的失效应变能密度wf与非弹性应变能密度耗散率之间的关系；根据疲劳试验，获取材料每周次的疲劳损伤df；根据蠕变-疲劳交互试验，得到半寿命周次下的滞后回线，并建立材料在最大拉伸应变保持时间内半寿命周次下的应力σ(t)随时间t变化的函数关系；根据wf与之间的关系、疲劳损伤df、以及应力σ(t)随时间t变化的关系，并结合所述滞后回线，计算半寿命周次下的蠕变损伤dc；利用线性累积损伤法则，预测材料在蠕变-疲劳交互作用下的蠕变-疲劳寿命本发明能精确地预测材料在蠕变-疲劳交互作用下的寿命。
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本发明提供了一种基于健康因子提取的锂离子电池健康状况预测方法，包括获取可充电电池的加速循环老化数据，采集电流、电压和温度信号，采用恒流恒压模式进行充放电，直到电池在不同的充电条件下循环失效；利用放电电压及放电容量数据来构建电压差分模型，得到放电电压和容量之间的关系式，并从中提取出相关特征；构建电压‑温度相关健康因子集，得到电池健康状况预测的健康特征；建立基于高斯过程回归的电池健康状况预测模型，通过构建电池退化模型来估计SOH并预测电池的RUL；对电池的SOH和RUL进行估计和预测，分析预测误差，得到预测的不确定性度量。本发明能够提升锂离子电池的健康状态估计和预测精确度。
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本发明提供一种X射线管组件，包括X射线管及油泵，X射线管包括管套，还包括传感器组及无线传输模块，传感器组设置于油泵及/或管套，通过接触式测量方式监测油泵及/或X射线管的运行信息；无线传输模块连接于传感器组并与外部控制终端无线连接，无线传输模块能够以无线传输方式将油泵及/或X射线管的运行信息发送至控制终端。本发明通过传感器组测量X射线管的运行信息并通过无线传输模块将信息实时传递到控制终端，从而提高获取X射线管运行信息的实时性和准确性；当X射线管出现失效先兆时，工作人员能够及时发现并处理，避免扩大损失。本发明还提供医疗成像设备、监测系统及监测方法，均能够及时发现X射线管失效先兆，有利于及时止损。
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本发明公开了紫外发光二极管性能退化预测模型构建及寿命预测方法，属于紫外发光二极管寿命预测领域，模型构建方法包括：获取紫外发光二极管老化试验中多个时间点测试指标构成的原始时间序列测试数据；根据原始时间序列测试数据训练基于循环神经网络改进的长短期记忆网络，得到紫外发光二极管性能退化预测模型；长短期记忆网络的输入为原始时间序列测试数据中多个连续时间点测试指标，输出为相邻的后一时间点测试指标。寿命预测方法为：根据原始时间序列测试数据和上述预测模型，获得后续时间的指标退化数据；再根据预设的失效阈值确定紫外发光二极管预测失效寿命。本发明能对具有时间序列的衰减数据进行处理，具有高精度、高可靠、高速度的特点。
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一种晶圆可接受性测试之击穿电压测试装置，包括放电模块，测试漏电模块，以及用于所述半导体器件在漏电测试模块判定为不短路后进行击穿电压测试的斜坡电压测试平台、返回型测试平台，以及综合型测试平台，其中，所述综合型测试平台通过标志模块的选择，将斜坡电压测试平台和返回型测试平台结合，并建立AIg程式进行测试，同时观测斜坡电压测试平台和返回型测试平台中的数据。本发明所述击穿电压测试结合所述斜坡电压测试和所述返回型测试，同时进行测量，并修改精度和Ibd设定，可准确的判断AIg程式设置的正确性，减少调试时间。同时观测多组数据，使得击穿电压测试结果更具可信性，减少重新测试的必要性，并可直接观测到数据的可靠性与简单结构的失效特点。
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本发明公开了一种汽车遥控门禁系统的测试台,包括被测试钥匙和车身控制模块、气泵、测试板和射频信号接收指示器,并通过一CAN总线和一计算机主机相连。测试过程中测试板控制气泵动作使钥匙自动按键,气泵、钥匙、射频信号接收指示器和车身控制模块分别工作并发出响应信号,测试板会依次接收各相应信号并计数;测试板还对钥匙发出的PWM信号进行解码并对解码次数进行计数。本发明还公开了一种汽车遥控门禁系统的测试方法。本发明能对整个测试流程进行监控,实现快速失效定位;还具有通用性,能实现对不同类型的汽车遥控门禁系统的测试;能实现自动测试,从而能大大节省人力并提高工作效率,还能降低测试成本。
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本发明公开了一种测试复合材料中纤维体积含量的方法。本发明通过复合材料的真密度间接获得复合材料中各纤维的体积含量，适用于单一纤维增强体复合材料以及多种增强体复合材料，适用范围广。本发明方法操作方便，为复合材料实际工程中通过测算纤维体积含量，进而评价材料力学性能、结构分析、失效分析提供了一种简易便捷的方法。
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本发明涉及一种编织复合材料力学性能的多尺度预测方法，包括以下步骤：1)输入初始参数；2)根据自下向上均匀化过程，依次计算纤维/基体尺度、纤维束尺度和单胞尺度的弹性刚度阵；3)构建多尺度关联矩阵；4)对单胞整体进行应力应变分析，并通过多尺度关联矩阵将应力自上向下进行分解，同步得到各级尺度下的应力应变场；5)根据纤维和基体各自的失效准则判断组分材料是否失效，若为是，即对相应的组分材料进行刚度折减；6)判断单胞整体是否失效，若为是，执行步骤7)，否则，添加下一位移增量，并返回步骤2)；7)输出编织复合材料的刚度与强度计算结果。与现有技术相比，本发明具有计算效率高、精度高、通用性强等优点。
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本发明提供了一种MOS管界面态的测试方法,所述测试方法包括如下步骤:步骤1.采用电荷泵测试法测得一条电荷泵电流曲线,通过漏端开路和源端开路分别获得另外两条电荷泵电流曲线;步骤2.将这三条曲线相同部分和不同部分进行分离可分别得到源、漏和沟道处电荷泵电流;步骤3.通过源、漏和沟道处电荷泵电流可获得这三处界面态密度。采用此发明方法可以简单快速的分离MOS管的源、漏及沟道界面态,无需繁琐复杂的计算过程就可为器件制造工艺评价以及器件失效分析提供良好的判定依据和分析途径。
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本发明提供一种晶圆良率损失预测方法及自定义缺陷密度图形自报告系统，其中，所述晶圆良率损失预测方法包括依次获取晶圆上所有芯片的整体缺陷密度；建立缺陷密度数据模型；获取所述晶圆的缺陷密度图形；依次分析所述缺陷密度图形中所有芯片的失效率；以及，预测所述晶圆的良率损失情况。本发明通过建立晶圆的缺陷密度数据模型自动输出不同的缺陷密度范围对应的缺陷密度图形并预测晶圆上所有芯片的良率损失情况，为缺陷分析提供精准的缺陷密度报告以及良率损失预测。
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本发明涉及汽车领域的测试装置，旨在提供一种新型的ESP/ABS泵的测试装置及方法，该装置包括被测试泵单元，被测试泵单元还相连着油泵进油部分、可调节出油压力部分、流量测量部分和工控机部分；可进行测试ABS油泵和ESP油泵在不同入口压力、不同电源电压、不同出口压力下的流量Q1和容积效率u。通过本发明装置进行单个油泵的单元测试，无需再像以前用总成做测试件，因此可对ABS泵和蓄能器零件的失效作提前预测，降低了失效风险，也降低了软硬件的复杂度，进而降低成本；本发明简化了测试过程，缩短测试周期，降低测试难度，并且采集的数据更加可靠，测试准确性更高。
本发明提供一种针对栅极开路电阻进行晶圆可接受度测试的样品处理方法，所述方法包括：将待测样品的正面与支撑样品粘合到一起；研磨待测样品的背面，直至待测样品的基底的厚度为1微米左右；使用硅腐蚀液处理待测样品直至露出形成于所述基底中的隔离结构。根据本发明，不会破坏栅极中的失效部位，可以更为有效地获取和分析关于栅极中的失效部位的信息。
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本发明提供一种存储器晶圆测试方法及存储器测试机，所述测试方法在进行功能测试等晶圆针测之前，先对晶圆上的同测存储器芯片进行分组短路测试，判定晶圆是否失效，并仅在晶圆通过短路测试后才运行存储器测试机，进行晶圆针测，由此避免了测试机直接对失效晶圆进行针测时其探针卡等被失效晶圆的大漏电流损毁的情况，同时可以尽可能早的发现并剔除坏的芯片，减少晶圆测试的平均测试时间，降低测试成本。本发明提供的存储器测试机增设了分组管理单元，该单元能够对探针卡进行探针分组，将分组中的被测存储器芯片的管脚接地来用于短路测试，由此能够保护测试机，而避免测试机直接对失效晶圆进行针测时其探针卡等被失效晶圆的大漏电流损毁的情况。
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本发明公开了一种存储器故障诊断的可测试性电路，包括：控制电路，输入端和多个外加电压相连，输出端输出操作电压，操作电压由外加电压或其变化值得到；操作电压输入到存储器的电源电压端。存储器的故障诊断模式包括读取失效验证模式和写入失效验证模式。读取失效验证模式的写入和读取操作模式的操作电压分别具有第一和第二电压值。第一电压值大于第二电压值写入失效验证模式的写入和读取操作模式的操作电压分别具有第三和第四电压值。第三电压值大于第四电压值。本发明还提供一种操作电压变换电路。本发明能在存储器故障诊断过程为写入和读取操作提供所需要的不同操作电压，从而有利于进行读取失效验证和写入失效验证分析。
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本实用新型涉及一种雷击浪涌测试装置，用于对待测设备进行雷击浪涌测试，包括CPU主控器、高压模块、动作主开关模块、波形产生模块、波形采集模块、输入装置、显示装置、存储装置和报警装置；波形产生模块与待测设备连接，施加浪涌脉冲至待测设备，波形采集模块与待测设备连接，采集进入待测设备前后的浪涌脉冲波形数据。与现有技术相比，本实用新型通过波形采集模块，采集进入待测设备前的浪涌脉冲波形数据和通过待测设备后的浪涌脉冲波形数据，可以对测试过程中待测设备的失效过程进行分析，也可以对测试过程中的异常进行判断和分析，改进了高压模块、动作主开关模块、波形采集模块，提升了雷击浪涌测试装置的性能。
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本发明公开了一种可靠性同测装置及其控制方法，用于微控制器芯片内置大容量存储器可靠性测试，可实现多芯片并行测试。同时以测试区间可配置的形式，可选择全部覆盖存储空间，也可以选择以不同芯片不同区间的等效方式以覆盖全面，从同测数与测试空间配置两方面兼顾测试效率、优化测试时间。记录测试结果的同时，保存所有在测芯片的失效现场信息，便于对任何一个失效芯片进行分析。该方法基于测试硬件主控制板、上位机控制，还包括被测微控制器存储器测试程序。以较小的成本实现批量微控制器的存储器测试，广泛应用于各类微控制器芯片耐久力等可靠性自验证中。
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本发明提供了一种空间用导电滑环摩擦磨损的建模分析及寿命预测方法，以克服现有载流摩擦磨损难以定量评估、寿命难以预测的问题。所述摩擦磨损分析方法包括：粘着磨损理论计算方法、赫兹理论、传热学理论计算摩擦副运行过程中的磨屑量、接触区域、温度变化，解决热力电三者之间相互影响的耦合关系；对导电滑环运行失效过程进行量化分析，建立不同环境和条件参数下，磨屑量和跑和圈数的对应模型，从而预测导电滑环的跑和寿命，为实际加工过程中滑环的寿命评估提供技术和数据支持。
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一种基于公交车的城市GNSS脆弱性监测系统及其方法，包括：惯性导航模块、GNSS导航模块、地图匹配导航模块、组合导航分析模块、GNSS脆弱性分析模块和网络通信模块，本发明能充分利用城市公交车这一大众交通工具及其车载设备，实施成本低，采集的数据实时性好、样本数量多、覆盖范围广，能得到可靠、准确、实时的统计分析结果，充分结合公交车的行车特点，利用里程计和电子地图进行特征点匹配和航位推测导航，即使GNSS导航失效、受到干扰或欺骗时，也能保证系统有效地进行导航，从而实现连续的监测，更加准确地计算出公交车经受的GNSS脆弱性。
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本发明提供一种存储器测试装置及一种存储器芯片测试方法，改变传统存储器测试仪的失效地址存储器的地址空间和被测芯片的地址空间一一对应的关系，将失效地址存储器的地址空间分割为连续的存储记录单元，每个存储记录单元不再存储测试通过的比特的地址数据，仅存储测试失效比特的地址数据：存储失效比特所在同测接触的标识地址、失效比特所在芯片在其所在同测接触内的相对地址、失效比特在其所在芯片内的地址信息等，由此在存储器功能测试过程中，实现了多芯片的失效信息的同时存储，以及失效地址硬件存储空间的利用率和测试速度的大大提高。
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本申请涉及半导体制作过程中存储器晶圆测试技术领域，具体涉及存储器晶圆测试方法和测试装置。方法包括：向目标存储器晶圆发送具有指针变量的测试指令；依次接收存储在存储单元中的数据，并存储；判断数据是否有误，若有误，确定被测芯片包含失效单元；将包含有失效单元的被测芯片归类为失效组，其他被测芯片归类为正常组；根据失效组中的被测芯片，在测试电路模块中开设具有位图空间，位图空间与失效组中的被测芯片一一对应；依次遍历失效组中被测芯片各存储单元，若存储单元为失效单元，在对应位图空间的对应位元上标注；依次遍历位图空间的各个位元，确定被标注的位元；根据被标注的位元，确定失效单元地址。
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本发明公开了一种集成电路晶圆测试数据自动判断系统，系统包括产品登记模块、内控运算模块、实时数据分析模块、数据推送模块、人工解锁模块；本发明提供的一种集成电路晶圆测试数据自动判断系统，晶圆数据自动判断系统只需要工程师将需要分析的产品录入到系统中，录入内容包含外控良率标准、Map图失效图形、DC测试项等，设置每天定时去分析登记的产品历史测试数据，设置为内控良率标准。每当有晶圆测试完成后系统将各种判断标准结合起来共同判断，当系统判断出结果异常时会推送给工程师查看，工程师确认无误后再通过系统进行解锁，否则无法进入下一个流程，而没有异常时则可自动进入下一个流程。
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