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ESD通路探测方法及系统

1040   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:13
一种ESD通路探测方法及系统,所述方法包括:当待测试芯片泄放ESD电流时,对所述待测试芯片因泄放ESD电流产生的光子进行探测;基于探测得到的光子的位置信息,获得ESD通路影像;基于所述ESD通路影像,确定所述待测试芯片中对应的ESD通路是否正常。上述的方案,可以对待测试芯片中ESD通路进行定位,满足对待测试芯片ESD通路失效原因的分析需求。
声明:
“ESD通路探测方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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