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深圳市恒胜达科技有限公司推出的HRS-150数显台式洛氏显微硬度测量仪，是一款集高精度、智能化与多功能于一体的先进硬度检测设备，专为满足金属材料、表面硬化层及精密零部件的多样化硬度测试需求而设计。
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深圳市恒胜达科技有限公司推出的HRD-150电动台式洛氏显微硬度测量仪，是一款集自动化、高精度与多功能于一体的创新型硬度检测设备，专为满足金属材料、表面硬化层及精密零部件的多样化硬度测试需求而设计。
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深圳市恒胜达科技有限公司推出的HA150C单手柄台式洛氏显微硬度测量仪，是一款将洛氏硬度测试与显微硬度检测功能集于一体的创新型设备，专为满足金属材料、表面硬化层及精密零部件的多样化硬度检测需求而设计。其工作原理基于洛氏硬度测试标准与显微观察技术，通过单手柄实现多标尺测试模式切换。设备在洛氏模式下，以金刚石或球压头施加初试验力与主试验力，通过压痕深度变化计算洛氏硬度值（HR）；在显微模式下，副系统通过高倍显微镜测量压痕对角线长度，自动换算维氏（HV）或努氏（HK）硬度值，兼顾快速检测与微观分析需求。
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深圳市恒胜达科技有限公司推出的HA150A双手柄台式洛氏显微硬度测量仪，是一款集高精度、多功能与便捷操作于一体的创新型硬度测试设备，专为满足金属、合金及表面硬化材料的硬度检测需求而设计。其工作原理融合了传统洛氏硬度测试与显微观察技术，通过双压头系统实现多标尺硬度测试。设备先以洛氏压头在试样表面施加初试验力，再叠加主试验力形成压痕，通过压痕深度变化或压痕尺寸测量（显微模式下），结合内置算法自动计算并显示洛氏硬度值（HR）或显微硬度值（HV/HK），实现快速与精准并存的检测效果。
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深圳市恒胜达科技有限公司推出的HR-150A台式洛氏显微硬度测量仪，是一款集洛氏硬度测试与微区显微观察功能于一体的多功能检测设备，专为满足金属加工、材料研发及精密制造领域对材料硬度与微观结构同步分析的需求而设计。该设备通过机械加载与光学成像系统的深度融合，实现了从宏观硬度测试到微观压痕观察的一体化操作，兼顾检测效率与数据精度，适用于实验室与车间现场的多样化应用场景。
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深圳市森宇仪器设备有限公司推出的HV-1000显微维氏硬度计，是一款集高精度力学加载、模块化光学系统与人性化操作设计于一体的专业硬度检测设备，专为满足材料研发、精密制造及质量检测领域对微区硬度分析的精准化与高效化需求而打造。该设备通过机械与光学系统的协同优化，结合数字化显示功能，为用户提供稳定可靠的硬度测试解决方案。
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深圳市善时仪器有限公司的iEDX-150WT镀层测厚仪是一款高精度、非接触式的测量设备，专为金属电镀层厚度检测设计。其工作原理基于X射线荧光光谱分析技术，通过微焦点X射线管（可选钼、钨、铑靶）发射X射线穿透样品表面，激发镀层元素产生特征荧光X射线。探测器（SDD型，能量分辨率125±5eV）接收信号后，利用基本参数法（FP）结合多变量非线性去卷积曲线拟合技术，根据荧光强度与镀层厚度的线性关系计算厚度值。该设备支持1-5层镀层同时检测，可同步分析合金镀层的成分比例，适用于化学镀镍钯浸金、钯、镍、铑等特殊镀层。
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EDX7200B是深圳市天维仪器有限公司研发的能量色散型X荧光光谱仪，基于X射线荧光光谱技术实现多元素快速无损分析。其工作原理通过高压X射线管激发样品表面，使原子内层电子跃迁并释放特征X射线荧光，探测器接收信号后经多道分析器处理，结合智能算法输出元素种类与浓度信息。该仪器可覆盖硫（S）至铀（U）的75种元素，分析精度达1ppm-99.99%，尤其擅长检测铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）等重金属及RoHS指令中的六价铬（Cr⁶⁺）、多溴联苯（PBBs）等有害物质。
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X6600M/BM是深圳市卓茂科技有限公司研发的高精度X-Ray检测设备，专为电子元件内部细微缺陷检测设计。其核心工作原理基于微焦点X射线成像技术，通过反射密封型微焦点射线源（焦斑尺寸5-15μm）发射高能X射线，穿透被测元件后由非晶硅平板探测器（像素矩阵1648×1648）接收，生成高分辨率灰度图像。设备支持16位AD转换，可清晰呈现焊点空洞、BGA球栅阵列虚焊、微裂纹等细微缺陷，分辨率达5.1Lp/mm，满足电子产品小型化、高密度封装趋势下的检测需求。
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深圳市卓茂科技有限公司的X6600 X-Ray检测设备是一款高精度、多功能的工业无损检测系统，专为电子制造、半导体封装及精密铸件领域设计。其工作原理基于X射线穿透技术，通过90KV微焦点射线源发射高能X射线，穿透被测物体后由非晶硅平板探测器接收信号，生成内部结构的二维影像。设备采用日本滨松HAMAMATSU光管，聚焦尺寸可达5μm，结合图像增强算法，可清晰呈现BGA焊点空洞、IC芯片裂纹等微小缺陷，分辨率高达10.1Lp/mm。
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深圳市智舜测控技术有限公司的YL-328同轴度试验仪是一款专为轴类零件高精度检测设计的智能化设备，其核心功能涵盖同轴度、同心度及力学性能测试。该设备采用双路高精度电子引伸计与24位A/D转换器，通过双侧引伸计直接测量接头两侧变形量，实现0.0001mm显示分辨率与0.5级引伸计精度，可同步采集两路变形数据并计算同轴度值。其工作原理基于电测法，通过弹性连接试样与引伸计，实时监测轴类零件在加载状态下的变形量，结合微电脑控制系统完成数据采集与处理。
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深圳市霍尼艾格科技有限公司推出的废气硫酸雾、二氧化硫气体探测器及高温烟气氮氧化物分析仪，是一款集高精度检测与恶劣环境适应性于一体的工业级气体分析设备。其核心工作原理基于电化学传感器与红外光谱技术：硫酸雾与二氧化硫检测采用电化学传感器，通过气体分子在传感器电极表面发生氧化还原反应生成与浓度成正比的电信号；氮氧化物分析则采用进口电化学传感器，结合微控制器技术实现快速响应与高精度测量。设备内置智能温度补偿算法，可在-30℃至60℃宽温范围内稳定运行，满足高温烟气工况需求。
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深圳云威网络科技有限公司推出的SW-6510A/S超声波测厚仪是一款高精度、智能化的工业级无损检测设备，基于超声波脉冲反射原理实现厚度测量。仪器通过探头向被测材料发射高频超声波脉冲，脉冲穿透耦合剂后到达材料底面或界面，发生反射并返回探头。仪器根据超声波在材料中的传播时间及预设声速，自动计算材料厚度值。该技术可穿透表面涂层直接测量基材厚度，测量范围覆盖1.00-300.00mm（钢），分辨率达0.01mm，精度±0.1mm，符合ASTM E797等国际标准。
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深圳市威福光电科技有限公司推出的新蓝牙APP版WH82涂层膜厚仪是一款集成磁性与涡流双测量技术的便携式无损检测设备，专为金属涂层厚度测量设计。其核心工作原理基于电磁感应与涡流效应：仪器通过探头向被测涂层发射磁场，磁性基体上非磁性涂层的厚度变化会改变磁路磁阻，而非磁性基体上非导电涂层的厚度变化则通过涡流反馈强度体现。仪器自动识别基体类型，实时计算并显示涂层厚度，测量范围覆盖0-1250μm，精度达±(1+3%H)，分辨率0.1μm，支持零点校准与两点校准，确保测量准确性。
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德国尼克斯QNIX4200涂层测厚仪是耐锐德坡口机械代理的一款高精度便携式测量设备，专为磁性金属基材（如钢、铁）上的非磁性涂层厚度检测设计。其核心工作原理基于磁感应技术：当探头接触铁磁性基材时，涂层厚度变化导致探头与基材间的磁阻改变，仪器通过精密传感器将磁阻信号转换为厚度值。该技术无需破坏涂层，适用于在线或离线检测，测量范围覆盖0-3000μm，精度达±(2+3%)μm（≤2000μm），最小测量面积仅需10×10mm²，最小基体厚度0.2mm，可满足工业级精度需求。
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深圳市谱赛斯科技有限公司代理的日立X射线荧光镀层测厚仪FT110是一款高精度非接触式测量设备，专为工业质量控制与材料分析设计。其工作原理基于X射线荧光技术：X射线管发射的高能射线穿透样品表面，与镀层元素原子内层电子发生相互作用，激发特征X射线荧光。探测器捕获荧光信号后，通过能量色散分析确定元素种类，并结合强度衰减计算镀层厚度，测量范围覆盖1nm至50μm。该技术具备无损检测特性，可同时分析多层镀层的元素组成与厚度。
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深圳市天创美科技有限公司推出的X射线测厚仪是一款基于X射线穿透特性研发的高精度非接触式测量设备，广泛应用于工业生产与质量控制领域。其核心工作原理依托X射线与物质的相互作用：当X射线穿透被测材料时，其强度随材料厚度增加而衰减，衰减程度与材料密度、厚度及X射线能量密切相关。设备通过内置的X射线源发射稳定射线束，穿透材料后由高灵敏度探测器接收剩余射线强度，经电信号转换与算法处理后，结合已知衰减规律精确计算厚度值，测量精度可达微米级。
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深圳市骏辉腾科技有限公司推出的JXF-8000镀层测厚仪，是一款基于能量色散X射线荧光光谱（EDXRF）技术的高精度分析设备，专为金属镀层厚度与成分检测设计。其核心工作原理通过微焦斑X射线管（Mo靶）发射高能X射线，激发镀层与基体原子产生特征荧光X射线，Si-PIN探测器接收信号后，结合基本参数法（FP）与经验系数法，快速解析镀层厚度及元素含量。该技术可同步检测多层镀层结构（如铜-镍-铬复合镀层），并支持无标样分析，满足工业级快速检测需求。
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深圳市时代华南仪器有限公司推出的TT310手持超声波测厚仪，是一款基于超声波脉冲反射原理的高精度非接触式测量设备，专为金属、塑料、陶瓷、玻璃等良导体材料的厚度检测设计。其核心工作原理通过探头发射高频超声波脉冲，穿透被测物体并在材料分界面反射回探头，仪器精确测量超声波传播时间，结合已知声速计算材料厚度。该技术适用于任何能使超声波以恒定速度传播的材料，如金属板材、塑料管道、陶瓷构件等，可对复杂结构进行多点连续测量。
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深圳市善时仪器有限公司推出的iEDX-150WT镀层测厚仪，是一款基于X射线荧光光谱（XRF）技术的高精度非接触式测量设备，专为金属电镀层、合金镀层及PCB镀层厚度检测设计。其核心工作原理通过微焦点X射线管（50kV/1mA，钼、钨、铑靶）发射高能X射线，穿透镀层后被SDD探测器（能量分辨率125±5eV）接收。镀层厚度与元素含量通过特征荧光强度计算得出，结合FP（基本参数法）与MLSQ（多变量最小二乘法）分析算法，可同时解析1-5层镀层结构及合金成分比例。
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2025年06月13日 ~ 15日 
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