本实用新型涉及一种利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置,包括电源模块、信号处理模块、显示模块和探头,其中,所述探头设有探头接口端、接口卡槽、密封护套、磁性组件、
芯片组件和探头底座,所述磁性组件和芯片组件设置在所述密封护套内,所述探头底座通过螺纹与所述密封护套连接;该装置还包括与所述探头组合使用的磁性元件,测量目标置于所述磁性元件与所述探头底座之间。实施本实用新型的测厚装置,具有以下有益效果:可用于测定如
复合材料、吹塑部件、薄片、玻璃基板等非电磁材料的厚度,也可用于测量磁性材料表面非磁性覆盖层的厚度。
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