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利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置

678   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 17:58:26
本实用新型涉及一种利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置,包括电源模块、信号处理模块、显示模块和探头,其中,所述探头设有探头接口端、接口卡槽、密封护套、磁性组件、芯片组件和探头底座,所述磁性组件和芯片组件设置在所述密封护套内,所述探头底座通过螺纹与所述密封护套连接;该装置还包括与所述探头组合使用的磁性元件,测量目标置于所述磁性元件与所述探头底座之间。实施本实用新型的测厚装置,具有以下有益效果:可用于测定如复合材料、吹塑部件、薄片、玻璃基板等非电磁材料的厚度,也可用于测量磁性材料表面非磁性覆盖层的厚度。
声明:
“利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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