本发明公开了一种基于偏微分方程的纳米颗粒尺寸测量方法,包括:1)输入一幅纳米颗粒图像I,将平均曲率流模型和PM模型的滤波结果进行像素级相乘得到滤波后的图像u;2)采用局部区域拟合模型(RSF)对图像u进行分割;3)像素标定获得图像中每个像素对应的实际尺寸;4)利用目标的凸性Cconv选出不粘连的颗粒;5)通过对颗粒边界进行最小二乘圆拟合获得球状纳米颗粒直径,同时得到内切圆直径rc,外切圆直径ri,以及纳米颗粒的球状性本发明可以广泛地用于催化科学、医学药物、
新材料、电力工业和
复合材料等需要纳米颗粒尺寸测量技术的高科技领域。
声明:
“基于偏微分方程的纳米颗粒尺寸测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)