本实用新型公开了一种基于电容成像技术的
复合材料缺陷检测装置,包括FPGA开发板、16平面阵列电极传感器Cx、ECT电容采集与处理单元、PC机,FPGA开发板经DAC接口与ECT电容采集与处理单元连接,ECT电容采集与处理单元通过激励测量切换开关与16平面阵列电极传感器Cx连接,FPGA开发板通过PicoBLaze对激励测量切换开关发出指令。本实用新型有益效果:电容层析成像技术基于电容边缘效应,在不损伤材料的基础上可以快速、准确的探测出缺陷的位置,提高了电容分辨率,降低漂移,提高了信噪比。
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