本发明提供一种
复合材料层的参数拟合计算方法及系统,方法包括:a、获取待测样品的测量光谱,待测样品包括复合材料层;b、根据复合材料层的参数,基于有效介质EMA通用模型拟合计算待测样品的拟合光谱;c、若拟合光谱达到所述测量光谱的精度要求,则获取复合材料层的参数;若拟合光谱未达到测量光谱的精度要求,则调整复合材料层的参数,重复执行b和c进行迭代,直到拟合光谱达到所述测量光谱的精度要求,获取复合材料层的参数。本发明构建有效介质EMA通用模型,可以通过调整复合材料层的参数,来迭代计算待测样品的拟合光谱,调整参数时不因为某一种或几种具体模型的限制,可适用于包含任何复合材料层的待测样品参数的获取。
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