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温度可调控四探针方块电阻测试系统

923   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 15:09:02
本实用新型的技术方案提供了一种温度可调控四探针方块电阻测试系统,其特征在于,电压可调电源的正极分别MC1403精密低压基准电源的引脚1与OP07双极型运算放大器的引脚7连接,MC1403精密低压基准电源的引脚3接地,引脚2通过电阻R1与OP07双极型运算放大器的引脚3连接,OP07双极型运算放大器的引脚4与电压可调电源的负极连接,引脚6通过万用表I与四探针4连接,引脚2与四探针1连接,同时通过电阻R2接地。不仅能测出常温下的方块电阻,而且能快速准确的测出室温至120℃之间任一温度的方块电阻,也能快速分析一些功能材料随温度变化的相变性能,并且通过数字直接显示,兼具测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结构紧凑和使用方便的特点。
声明:
“温度可调控四探针方块电阻测试系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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